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주석 슬랙중 $Ta_2O_5,\;Nb_2O_5$ 및 ZrO_2$의 단일희석법을 이용한 X-선 형광분석
김영상,성학제,Young-Sang Kim,Hak Je Sung 대한화학회 1984 대한화학회지 Vol.28 No.5
단일 희석법을 이용한 X-선형광분광법으로 주석, 슬랙중 $Ta_2O_5$와 $Nb_2O_5$, $ZrO_2$등을 정량분석하였다. 이 방법은 표준 검정 곡선을 직선으로 되게끔 수학적으로 보정하는 것이다. 시료의 조성과 비슷한 한개의 합성표준시료와 분석시료를 무수물의 $Li_2B_4O_7$으로 묽혀서 각각 시료가 1%, 2%, 3%되게 한다. 묽힌 시료들을 $1150^{\circ}C$에서 30분간 용융하여 유리화된 구슬을 만든 다음, 곱게 갈아서, 다시 유압기로 압축하여 분석시편을 만든다. 이 시편을 사용하여 X-선 세기를 측정하고, 원소의 특성 X-선 세기에 관한 J. Scherman의 식으로부터 유도한 식에 대입하여 분석 결과를 계산했다. 이들 분석결과들을 표준검정곡선법으로 얻은 기준값과 잘 일치하며, 결과에 대한 재현성도 좋음을 보여 주었다. -ray fluorescence analysis of $Ta_2O_5$, $Nb_2O_5$ and $ZrO_2$ in tin-slag samples using the simple dilution method was studied. The method is to correct mathematically the calibration curve to the linear line by the dilution. One synthesized standard having similar composition to the sample and tin slag samples were diluted with anhydrous $Li_2B_4O_7$ at the level of 1%, 2% and 3% of the sample content respectively. The diluted samples were fused at $1150^{\circ}C$ for 30 minutes and these glass beads were finely ground and pelletized. Measuring the X-ray intensities with these pellets, analytical results were calculated by the equation derived from J. Scherman's equation for the characteristic X-ray intensity of an element. Analytical results agreed with the reference values obtained by the standard calibration method within allowable error range and were reproducible.
BaO-Pr$_2$O$_3$-TiO$_2$계 및 BaO-(Nd,Pr)$_2$O$_3$-TiO$_2$계 마이크로파 유전체의 합성 및 특성에 관한 연구
이용석,이재원,성학제,김준수,이병하 한국세라믹학회 1998 한국세라믹학회지 Vol.35 No.8
This experiment is third study concerning BaO-{{{{ { { Pr}_{ 2} O}_{3 } }}-{{{{ { TiO}_{2 } }} (Ln=Sm, Nd, Pr, La..) system which is known to show a high dielectric constant and Q value in microwave dielectric materials. The process of cry-stallization and the microwave dielectric properties of the specimens sintered at 1220-140$0^{\circ}C$ for 2 hr was investigated in the BaO-(Na,{{{{ { { Pr})_{2 }O }_{3 } }}-{{{{ { TiO}_{2 } }} as well as BaO-{{{{ { { Pr}_{ 2} O}_{3 } }}-{{{{ { TiO}_{2 } }} system. The single phase BaPr2Ti5O14 and Ba(Nd,{{{{ { { Pr})_{2 }O }_{3 } }}Ti5O14 was finally formed from the Pr2Ti2O7 (Nd, Pr)2Ti2O7 as a secondary phase in the BaO-{{{{ { { Pr}_{ 2} O}_{3 } }}-{{{{ { TiO}_{2 } }} and BaO-(Nd, {{{{ { { Pr})_{2 }O }_{3 } }}-{{{{ { TiO}_{2 } }} system respectively The dielectric constant of the specimens sint-ered at 1280~131$0^{\circ}C$ showed the maximum value as 105(BaO-{{{{ { { Pr}_{ 2} O}_{3 } }}-{{{{ { TiO}_{2 } }} system) and 88 (BaO-(Nd,{{{{ { { Pr})_{2 }O }_{3 } }}-{{{{ { TiO}_{2 } }} system) and the Q values of them showed higher value than 1800 which are due to the maximum den-sity. However the dielectric properties of the specimens sintered at higher temperature than 131$0^{\circ}C$ were reduced due to the increases of pore which were resulted from the sudden grain growth.