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정종문,김정현,신명주,이미란,정재윤,정희석,김진선,강준길,홍병희,조광섭,Jeong, Jong-Mun,Kim, Jung-Hyun,Shin, Myeong-Ju,Lee, Mi-Ran,Chung, Jae-Yoon,Jeong, Hee-Suk,Kim, Jin-Sheon,Hong, Byeong-Hee,Kang, June-Gill,Cho, Guang-Sup 한국진공학회 2007 Applied Science and Convergence Technology Vol.16 No.6
32인치 WXGA급 (해상도 1366$\times$768) LCD-TV용 백라이트를 구성하는 외부전극 형광램프 및 각 광학 부품들에 대한 휘도 특성을 조사하고, 광학시트들의 빛의 투과율을 계측하였다. 12등식과 18 등식의 백라이트에 대한 휘도 특성을 조사하였다. 휘도 균일도는 12등식 백라이트에서도 85 %의 휘도 균일도를 갖지만, 광학 부품들의 휘도 값과 백라이트의 효율은 18 등식의 백라이트에 비하여 낮다. 외부전극 형광램프 12 등식과 18 등식의 백라이트에 대하여 램프의 휘도를 100 %로 규격화하면, 확산판, 확산시트, 프리즘시트 (BEF) 및 편광시트 (DBEF)의 상대 휘도는 램프의 휘도 값과 무관하게 정량화된다. 광학 부품의 상대 휘도 값은 12등식은 18등식보다 낮다. 백라이트의 휘도 100 %에 대한 액정 패널의 투과도는 DBEF와 BEF를 사용한백라이트는 7.14 %, DBEF만을 사용하면 6.12 %, 그리고 BEF만을 사용하면 3.21 %이다. 본 실험에서 얻어진 광학 부품들의 상대 휘도의 정량화 데이터와 액정의 투과도는 백라이트 설계를 위한 기초 자료이다. Luminance properties of external electrode fluorescent lamps and optical components in backlight unit (BLU) and optical transmission rates of optical sheets, are investigated for LCD-TV of 32" in diagonal with WXGA level resolution (1366$\times$768). The luminance is measured in 12-lamps and 18-lamps of BLU. The luminance uniformity preserves about 85 % in the 12-lamps backlight, while the luminance of optical components and the efficiency of backlight in the 12-lamps are lower than those in the 18-lamps backlight. When the lamp luminance in BLU having 12-lamps and 18-lamps is normalized as 100 %, the relative luminance of a diffusion plate, a diffusion sheet, a prism sheet (BEF), a polarization sheet (DBEF), has a constant value without dependence on a lamp luminance. The relative luminance of optical components in 12-lamps BLU is lower than that in 18-lamps backlight. The light transmission rate, the relative luminance of liquid crystal display panel with the luminance 100 % of backlight, is 7.14 % in the use of DBEF and BEF, 6.12 % in the use of only DBEF, and 3.21 % in the use of only BEF. Those Data obtained in this experiment for the lamps and optical components, are the design parameters for the LCD backlight.
길도현,김상범,송혁수,유동근,이상훈,박민순,강준길,조광섭,조미령,황명근,김영욱,Gill, Doh-H.,Kim, Sang-B.,Song, Hyuk-S.,Yu, Dong-G.,Lee, Sang-H.,Pak, Min-Sun,Kang, June-Gill,Cho, Guang-Sup,Cho, Mee-R.,Hwang, Myung-G.,Kim, Young-Y. 한국진공학회 2006 Applied Science and Convergence Technology Vol.15 No.3
외부전극 형광램프의 구동에서 과도한 전력을 인가하면, 외부전극 부분의 유리관 표면에 작은 원형의 구멍(핀홀)이 발생하여 램프가 파손된다. 핀홀은 외부전극과 유리관을 유전층으로 하는 캐패시터의 절연파괴이며, 이러한 절연파괴력은 인가되는 전력에 비례한다. 유전상수가 K인 램프에 흐르는 전류가 작을 때, 핀홀이 발생하는 유리관의 절연파괴 전기장의 세기는 약 3K kV/mm,이다. 이러한 절연파괴 전기장의 세기는 램프에 흐르는 전류가 커질수록 작아진다. Application of power higher than the optimum operation value to an external electrode fluorescent lamps(EEFL) leads to the formation of small holes, called pinholes, which subsequently leads to lamp failure. The pinholes come from the insulating breakdown of the capacitor which is the dielectric layer between an external electrode and glass tube. The power of insulation breakdown is proportional to the electric power applied to the lamp. When a lamp current is low in the glass tube of dielectric constant K, the dielectric field strength of pinholes is about 3K kV/mm. The field strength of insulation breakdown decreases as the lamp current increases.
김동준,정종문,정희석,김진선,이민규,김정현,구제환,권기청,강준길,최은하,조광섭,Jin, Dong-Jun,Jeong, Jong-Mun,Jeong, Hee-Suk,Kim, Jin-Shon,Lee, Min-Kyu,Kim, Jung-Hyun,Koo, Je-Huan,Gwon, Gi-Cheong,Kang, June-Gill,Choi, Eun-Ha,Cho, Guang- 한국진공학회 2008 Applied Science and Convergence Technology Vol.17 No.4
교류 $50{\sim}100\;kHz$의 고주파와 수 kV의 고전압으로 구동되는 냉음극 형광램프의 전류 및 전압을 계측하는 방법을 조사하였다. 고 전압 측에 설치되는 프로브 자체의 임피던스 영향으로 램프의 휘도가 변화하고 누설 전류가 발생하여 정확한 전류 및 전압의 계측이 어렵다. 따라서 프로브의 임피던스와 누설 전류를 고려한 회로 분석을 통하여 올바른 계측 방법을 제시하였다. 프로브 설치로 휘도 변화 시, 인버터에 입력되는 DC 전압을 조정하여 램프의 특정 휘도를 유지하여 계측한다. 램프 전류($I_G$)는 접지 측에서 전류 프로브나 고주파 전류계로 계측하며, 전압은 고 전압 측에 설치한 전압 프로브로 계측한다. 램프 전압($V_C$)은 고전압이 인가되는 냉음극과 안전 캐패시터 사이에서 계측하며, 인버터의 출력 전압(VI)은 안전 캐패시터와 인버터 출력단 사이에서 계측한다. 램프 전압($V_C$)과 램프 전류($I_G$)의 위상차가 없기 때문에, 램프 자체의 순수 소모 전력은 램프 전압($V_C$)와 램프 전류($I_G$)의 곱이다. 인버터의 출력 전압($V_I$)과 램프 전류($I_G$)의 위상차($\theta$)는 전압 프로브의 용량성 임피던스로 인하여 계측값이 부정확하며, 회로의 분석에서 얻어진 $cos{\theta}=V_C/V_I$로부터 위상차를 얻을 수 있다. A method of measuring the current and voltage is suggested in the circuit of cold cathode fluorescent lamps (CCFLs) which are driven at a high frequency of $50{\sim}100\;kHz$ and a high voltage of several kV. It is difficult to measure the current and voltage in the lamp circuit, because the impedance of the probe at high voltage side causes the leakage current and the variation of luminance. According to the analysis of equivalence circuit with the probe impedance and leakage current, the proper measuring method is to adjust the input DC voltage and to keep the specific luminance when the probe is installed at a high voltage circuit. The lamp current is detected with a current probe or a high frequency current meter at the ground side and the voltage is measured with a high voltage probe at the high voltage side of lamp. The lamp voltage($V_C$) is measured between the ballast capacitor and the lamp electrode, and the output voltage($V_I$) of inverter is measured between inverter output and ballast capacitor. As the phases of lamp voltage($V_C$) and current ($I_G$) are nearly the same values, the real power of lamp is the product of the lamp voltage($V_C$) by the lamp current($I_G$). The measured value of the phase difference between inverter output voltage($V_I$) and lamp current($I_G$) is appreciably deviated from the calculated value at $cos{\theta}=V_C/V_I$.
조광섭(Guangsup Cho),이대홍(Dae H. Lee),이주영(Joo Y. Lee),송혁수(Hyuck S. Song),길도현(Doh H. Gill),구제환(Je H. Koo),최은하(Eun H. Choi),김상범(Sang B. Kim),김봉수(Bong S. Kim),강준길(June G. Kang),조미령(Mee R. Cho),황명근(Myung G. H 한국진공학회(ASCT) 2005 Applied Science and Convergence Technology Vol.14 No.1
전극 양단에 안정 콘덴서(Ballast Contenser)를 부착한 냉음극 형광램프와 외관전극의 용량성 결합으로 동작되는 외부전극 형광램프의 전류-전압 방전특성을 조사하였다. 냉음극 형광램프의 전극 양단에 인가되는 전압과 전류의 특성은 전압의 증가로 암전류 영역과 타운젠트 점화방전을 거쳐서 음극 강하를 통한 전형적인 글로우 방전을 보여준다. 안정 콘덴서에 인가되는 전압을 포함한 전류-전압은 안정 콘덴서에 인가되는 전압이 상대적으로 크기 때문에 냉음극 강하가 나타나지 않고, 글로우 방전 영역에서 전압의 증가에 따라서 전류가 증가한다. 외부전극 자체가 캐패시터인 외부전극 형광램프에서의 전류-전압은 안정 콘덴서를 포함한 냉음극 형광램프와 동일한 특성을 보여준다. 따라서 외부전극 형광램프는 동작 전압에서 글로우 방전의 특성을 갖으며, 외부전극 자체가 안정 콘덴서의 기능을 한다. The characteristics of current and voltage in a basic discharge experiment are investigated for a cold cathode fluorescent lamp with ballast capacitors attached at both ends of lamp and for a capacitive coupled external electrode fluorescent lamp. In the current-voltage characteristics for a cold cathode fluorescent lamp except ballast capacitors, it is shown that the typical glow discharge with the cathode fall follows after the dark current and Townsend firing discharge. However, in the characteristics for a cold cathode fluorescent lamp including ballast capacitors, the current increases as the voltage increases in the glow discharge region without representing a cathode fall since the most voltage is loaded at two capacitors. The characteristics for the external electrode fluorescent lamp shows the same as that of the cold cathode fluorescent lamp in the respect of glow discharge characters, and the external electrode itself roles the ballast capacitor.
김영삼(Young Sam Kim),김영권(Young Guon Kim),오현주(Hyun Ju Oh),조대근(Dai Geun Joh),길도현(Doh Hyun Gill),김대일(Dae Il Kim),강준길(June Gill Kang),강승언(Seung Oun Kang),최은하(Eun Ha Choi),조광섭(Guangsup Cho) 한국진공학회(ASCT) 1999 Applied Science and Convergence Technology Vol.8 No.4(1)
표면전도 전자방출 표시장치의 표시면으로 흐르는 표시전류의 근원은 음극 표면에서 방출된 전자의 관성력에 의한 것임을 전자 운동 궤적의 계산을 통하여 확인하였다. 마이크로 이하의 전극 간격을 갖는 공면 전극구조에서 음극의 가장자리 면에서 전자의 터널링에 의하여 방출된 대부분의 전자는 동일면상의 양극 쪽으로 면전류가 흐르며, 약 10^(-3)의 비율로 표시면의 양극 쪽으로 표시전류가 흐른다. 이때의 표시전류는 표면의 양쪽 가장자리면 사이의 전기장의 굴곡에 의한 원심력에 의하여 표시면으로 방출되는 전자이다. It is confirmed that the cause of anode current in SEDs (surface conduction electron emission displays) is the inertial force of electron emitted from the cathode surface in the calculation of electron trajectory. In the fissure of sub-micron, most of electrons emitted from the area of the cathode edge flow into the coplanar anode, while some electrons are emitted into the display surface by the current ratio of 10^(-3). The later electrons are forced to fly into the display surface by the centrifugal force due to the curved electric field between top side surfaces near the fissure.
강준길 光云大學校 1994 論文集 Vol.23 No.-
분산된 퉁신망 환경에서, 동기화는 오류 허용을 갖는 기준 시간기반의 실시간 분산 시스템에서 중요한 운영 체제 기능의 하나이다. 본 논문에서는 분산망에서 각각의 시간 동기화에 필수적인 동기화 체계의 고장의 형태와 수에 따라, 실시간 분산 시스템에서 가능한 동기화의 한계를 나타낸다. 임의의 순간에 발생하는 동기화의 축적으로 연속적인 동기화는 달성되며, 일정한 형태의 지역적이거나 전역적인 외부 시간 측정을 위해 공통 시간 기준을 이용한다. 결론적으로, 동기화의 정확도를 향상시키고 CPU 로드를 감소시키는 VLSI 클럭 동기화 구성 단위의 기능이 서술된다. 이 구성 단위의 기능으로 실시간 분산 시스템에서 클럭 동기화를 위한 CPU 오버헤드와 네트워크 트래픽은 1% 미만으로 감소시킬 수 있음을 나타내었다.