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김선미,김상기,변성혁,정희영,강세훈,임종철,윤승현,신용윤,Kim, S.M.,Kim, S.K.,Byun, S.H.,Jung, H.Y.,Kang, S.H.,Lim, J.C.,Yoon, S.H.,Shin, Y.Y. 한국전자통신연구원 2019 전자통신동향분석 Vol.34 No.1
Various hyper-intelligent and ultra-realistic data-driven services are being increasingly developed with the goal of achieving a hyper-connected intelligent society. To sustain this trend, our research focuses on the integration and optimization of data-driven applications from several aspects such as delivery, storage, execution, and sharing of data and software, beyond the limitations of the existing network infrastructure. In this paper, we present important research issues of data-centric hyper-distributed autonomous infrastructure technologies.
Hyper Duplex 스테인리스강의 상변태 및 기계적 물성에 미치는 합금원소의 영향
김선미(S. M. Kim),김광태(K. Y. Kim),김지수(J. S. Kim),이종수(C. S. Lee) 한국소성가공학회 2010 한국소성가공학회 학술대회 논문집 Vol.2010 No.5
The effects of various alloying elements (W, Cu and Ce) on toughness of 27Cr-7Ni duplex stainless steels were investigated on the basis of the TTT diagrams for secondary phases such as σ phase and χ phase. It was found that the addition of W delayed the precipitation a phase, but induced the X phase along grain boundary, resulting in the decrease of toughness. Cerium was found to be effective in suppressing the precipitation of secondary phases and its effect was the greatest when added with Cu.
CsX+(X=Al, Ga, As) 분자이온을 이용한 SIMS의 정량분석
김차연(C. Y. Kim),김선미(S. M. Kim),김성태(S. T. Kim),지종열(J. Y. Ji) 한국진공학회(ASCT) 1992 Applied Science and Convergence Technology Vol.1 No.1
표면분석 장비로서 SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)는 ppb(Part per billion) 단위의 높은 감도를 가지고 있어 시료 표면에 존재하는 극미량 불순물의 정성분석과 심도분석 기능으로 널리 쓰이고 있다. 한편, 심각한 매질효과로 인하여 정량분석에는 취약하며 이를 극복하기 위해서 많은 노력이 시도되고 있다. 이 노력의 일환으로 본 실험은 Cs^+, O^+ 두 초기 이온을 이용하여 Al_xGa_(1-x) As 시료내에 matrix-level의 고농도로 존재하는 Al, Ga 원자에 대한 정량분석을 시도하여 그 조성비를 결정하고자 하였다. 이를 위해 각 이온의 peak 세기를 조사한 후, 매질 효과에 기인한 보정인자를 고려하여 조성에 따른 이차이온 peak 세기의 변화가 선형적인 검량선을 구하였다. 이에 기준하여 평균 상대오차 10%, 표준편차 2%범위내에서 SIMS 정량값의 정확도를 확보할 수 있었다. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is widely known as highly sensitive a surface analysis technique. Efforts for quantification have been hindered, however, by the presence of matrix effects. Here we describe a new technique for the quantitative analysis of Al_xGa_(1-x)As. Instead of Al^+, Ga^+, As^+ ions, CsX^+ ions (X=Al, Ga, As) have been detected. Intensity of these molecular ions appears to be much less affected by matrix effects. We have successfully accomplished the compositional analysis with standard deviation better than 2 percent.
EPW 용액에서의 실리콘 양극 산화막 형성에 관한 연구
부종욱(J. U. Bu),김선미(S. M. Kim),김승희(S. H. Kim),김성태(S. T. Kim),권숙인(S. I. Kwon) 한국진공학회(ASCT) 1993 Applied Science and Convergence Technology Vol.2 No.2
Si 이방성 에칭 용액인 EPW(Ethylenediamine, Pyrocatechol, Water) 용액내에서 potentiostat를 이용한 cyclic polarization 방법으로 양극 산화막의 연구를 수행하였다. p-Si 및 n-Si에서 양극 산화막의 breakdown potential은 동일한 값을 보였으며, p^+-Si의 경우에는 양극 산화막의 breakdown이 일어나지 않았다. 산화막의 XPS 분석결과 n-Si과 p-Si의 경우 Si 2p photopeak의 chemical shift는 각각 Δ3.62eV, Δ3.55eV였으며, p^+-Si의 경우에는 Δ4.25eV였다. 따라서 p^+-Si의 양극 산화막이 light doping의 경우와 비교하여 커다란 에칭 저항성을 보이는 것은 산화막의 화학적 조성 차이에 기인하는 것이라 생각된다. p^+-Si이 에칭 용액내에서 anodic bias 상태에 놓이게 되면 boron이 표면으로 diffuse-out되는 것을 SIMS 분석을 통해 알 수 있었는데, 그 원인은 아직 분명하지는 않지만, 이것은 실제, etch-stop이 일어나는 임계 boron 농도가 일반적으로 알려진 값보다 훨씬 높을 것이라는 것을 시사한다. We have studied the anodic oxidation of silicon in the anisotropic etchant of EPW(Ethylenediamine, Pyrocatechol and Water) solution using the cyclic polarization technique. The samples have been characterized by means of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and secondary ion mass spectrometry (SIMS). The results of cyclic polarization experiments show that the anodic oxides formed on p- and n-type silicon wafers break down at the same potential while breakdown does not occur up to open circuit potential in the case of p^+ -Si. Strong etch-resistance of p^+-Si sample is believed to be related with the formation of strong Si-O bonding, as observed with XPS. SIMS depth profiles suggest that the critical concentration of boron for etch-stop to occur appears to be much higher than what is widely believed.
고남석,박노익,김선미,Ko, N.S.,Park, N.I.,Kim, S.M. 한국전자통신연구원 2021 전자통신동향분석 Vol.36 No.4
The competition to lead the next generation of mobile technologies, 6G, is underway while the deployment of 5G has not been implemented worldwide. ITU-R plans to develop technical requirements and standards after completing the 6G Vision by 2023. It can be considered too early to have a concrete view of the 6G core network architecture from this timeline. However, major stakeholders have started making their presence felt by publishing their views. From updated analysis on the technology and service trends proposed, we present a list of research directions on 6G core network from several perspectives: distribution of network functions to nearer edge locations; future fixed-mobile convergence, including low earth orbit satellites; highly-precise QoS guarantee; supporting an extremely wide variety of service requirements; AI-native automation and intelligence; and aligning with the evolution of radio access network.