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Influence of Mn-oxide Nanoclusters on the Electric Properties of ZnO:Mn Films
Vadim Sh. Yalishev,홍사환,박배호,V. Pelenovich,율다세프 한국물리학회 2009 THE JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY Vol.55 No.1
Polycrystalline ZnO:Mn films have been deposited on Si substrates by using ultrasonic spray pyrolysis methods. ZnO:Mn (3%) films show hysteretic behaviors in the I-V curves and these behaviors are related to charging and discharging of Mn-oxide nanoclusters. The conditions for hysteresis to appear depend on the sizes of the formed Mn-oxide nanoclusters close to the electrode interfaces.
탐침형 정보 저장장치에 응용 가능한 강유전체 물질의 특성 연구
최진식,김진수,황인록,변익수,김수홍,전상호,이진호,홍사환,박배호,Choi J.S.,Kim J.S.,Hwang I.R.,Byun I.S.,Kim S.H.,Jeon S.H.,Lee J.H.,Hong S.H.,Park B.H. 한국진공학회 2006 Applied Science and Convergence Technology Vol.15 No.2
We have investigated structural and electrical properties of $PbZr_{0.3}Ti_{0.7}O_{3}$ (PZT) thin films deposited by pulsed laser deposition methods. PZT thin films have been deposited on $LaMnO_3$ (LMO) bottom electrodes with $LaAlO_3$ (LAO) substrates during different deposition times. High-resolution x-ray diffraction data have shown that all the PZT films and bottom electrodes are highly oriented. The thickness of each film is determined by field-emission scanning electron microscope. We have also observed root mean square roughness by using atomic force microscopy mode, and local polarization distribution and retention behavior of a ferroelectric domain by using piezoelectric force microscopy mode. A PZT/LMO structure has shown good ferroelectric and retention properties as the media for nano-storage devices. Pulsed laser deposition 방법으로 증착한 $PbZr_{0.3}Ti_{0.7}O_{3}$ (PZT)박막의 구조적, 전기적 성질에 대한 연구를 하였다. PZT 박막은 $LaAlO_3$ 기판위에 동일한 조건으로 증착된 $LaMnO_3$ (LMO) 산화물을 하부 전극으로 하여 증착시간을 변화시키며 증착하였다. High-resolution x-ray diffraction 결과를 통해 LMO 하부 전극과 PZT 박막이 방향성 있게 자란 것을 확인할 수 있었고 박막의 두께는 field-emission scanning electron microscope을 통하여 측정할 수 있었다. 또한 우리는 atomic force microscopy을 이용하여 박막의 표면 거칠기를 구하였고 국소적인 범위의 전기적 특성은 piezoelectric force microscopy 모드를 이용하여 측정하였다. 그 결과 PZT/LMO 구조는 나노 스토리지의 미디어로 쓰이기 위해 필요한 성질들을 갖추었음을 알 수 있었다.