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        • KCI등재

          XML 보안 기반의 부동산 계약서 전자서명 생성 및 검증

          이문구(Moon-Goo Lee) 대한전자공학회 2008 電子工學會論文誌-CI (Computer and Information) Vol.45 No.6

          전자거래에 있어서 데이터의 무결성과 부인방지 같은 보안 서비스는 안전한 전자거래를 가능하게 하는 필수요소이다. 본 논문에서는 기존 부동산 거래 절차를 기반으로 안전한 부동산 전자상거래를 가능하게 하는 부동산 계약 전자서명 생성 및 검증시스템을 구현하였다. 본 논문에 사용된 보안 서비스를 위한 기술적 배경은 XML 전자서명 기술로 XML 전자서명은 기존에 존재하는 전자서명 알고리즘에 XML을 적용한 전자서명 기법으로 기존 서명과는 다르게 부분 데이터에 대한 서명이 가능하기 때문에 매우 효율적이며 현재 널리 이용되고 있는 XML 기반 전자 상거래 시스템에 적용이 쉽다는 장점이 있다. Talking about reliability of E-commerce, the security services such as data integrity and non-repudiation are the most crucial elements. This thesis implemented the real estate contract digital signature system that makes this real estate E-commerce possible. The technical background used in this thesis for the security services is XML (eXtensible Markup Language) signature technique, which is a signature technique that applies XML on the existing digital signature algorithm. The advantage of using XML signature technique is that it is very efficient since signing for the partial data is possible, and it is easy to apply to the XML-based E-commerce system, which is most commonly used.

        • 항공기용 복합 전자 소자의 항공기 장착을 위한 인증 방안

          한상호(Sangho Han) 대한전자공학회 2019 대한전자공학회 학술대회 Vol.2019 No.6

          항공기에 기능 보강 등의 목적으로 CEH의 사용이 일반화 되고 있으며 점차 이용 빈도가 증가할 것으로 추정된다. 이러한 현장에서 회로를 가변시켜 사용할 수 있는 전자 하드웨어의 등장으로 항공전자부품의 인증은 소프트웨어의 인증에 이어 새로운 국면을 맞고 있다. 2000년 4월 인증 지침서로 RTCA DO-254가 발행된 이래 FAA1)에서는 2005년 6월 AC20-152를 발행하여 복합 전자소자에 대한 인증기준으로 채택하였다. 이와 같이 복합 전자 하드웨어의 인증을 위한 지침이 마련됨에 따라 향후 항공용으로 개발되는 복합 전자 하드웨어는 소프트웨어와 마찬가지로 인증을 받아야 한다. 우리나라에서 항공전자 부품 개발시 소프트웨어의 인증과 더불어 하드웨어의 인증 문제가 대두될 것이며 이에 대한 대비가 필요한 시점이다. 이 글은 향후 복합 하드웨어의 인증에 대비하여 개발자가 알아야 할 사항을 개괄하였다. The use of CEH for the purpose of enhancing the functions of aircraft is becoming common and it is estimated that the frequency of use will increase gradually. With the advent of electronic hardware that can be used to vary circuits in these sites, certification of aviation electronic components is in a new phase following certification of software. Since RTCA DO-254 was issued as a certification guide in April 2000, the FAA has issued AC20-152 in June 2005 to adopt it as a certification basis for complex electronic devices. As such, guidance is provided for the certification of complex electronic hardware, complex electronic hardware developed for future aviation should be certified just like software. In addition to the certification of software, the development of aviation electronic components in Korea will require preparation for the certification of hardware. This article outlines what developers should know for future certification of complex hardware.

        • KCI등재

          MONTE-CARLO 방법에 의한 AlGaAs/GaAs 계면의 전자 전달특성 분석

          남승현,정학기,김봉렬,Nam,,Seung-Hun,Jung,,Hak-Ki,Kim,,Bong-Ryul 대한전자공학회 1989 전자공학회논문지 Vol. No.

          MONTE-CARLO 시뮬레이션 방법을 이용하여 AlGaAs/GaAs MODFET의 Q-2DEG에서의 전자 에너지, 전자의 비행거리, 계곡 내 전자 점유분포, 전자의 평균 속도 등 각각의 천이특성을 전계를 달리하여 계산하였다. 전계가 강할수록 전자가 (100)계곡으로 급격하게 천이하며 속도 오버슈트가 급격하게 발생함을 알 수 있었다. 즉 속도 오버슈트와 같은 비정상상태를 포함한 전자 전달 특성을 얻을 수 있다. 이러한 결과를 토대로 AlGaAs/GaAs MODFET와 같은 Q-2DEG를 이용한 이종접합 디바이스에서 속도 오버슈트가 전자의 고이동도를 얻는 중요한 요소가 될수 있음을 알 수 있다. 전계가 증가함에 따라 (100)계곡으로 천이하는 전자는 현저하게 증가하였다. 전자 천이 지속 시간은 전계 E=7KV/cm의 경우 1.4psec에서 전계 E=12KV/cm의 경우 0.7psec로 감소하였다. 전계 E=12KV/cm의 경우 Q-2DEG 전자는 천이 지속 시간동안의 속도 최대값이 실온에서 정상상태 속도 보다 거의 8배의 값을 갖는다. 속도 오버슈트에의한 Q-2DEG에서의 속도 향상은 서브 마이크로 게이트 단위의 AlGaAs/GaAs MODFET의 고이동도에 영향을 끼칠 수 있다. GaAs 벌크와 Q-2DEG에서의 속도 특성을 비교하여 전계 7KV/cm를 가했을 경우 2DEG의 속도 최대값은 GaAs 벌크에 비해 더 큰 값을 얻었다. GaAs에 비해 Q-2DEG에서의 산란이 덜 일어 남으로써 속도 오버슈트가 Q-2DEG에서 더 일찍 일어나며 GaAs 벌크 전자는 Q-2DEG 전자에 비해 전계에 의한 영향을 덜 받음을 알수 있으며, GaAs에 비하여 Q-2DEG는 속도천이하는 동안 속도 값이 더 크고 빠르게 천이하는 사실로써 GaAs 벌크를 이용한 디바이스보다 Q-2DEG를 이용하는 것이 더 큰 전자 이동도를 얻을 수 있으리라 생각한다. B2가 1.74mg% 함유되어 있었으며 지용성 비타민으로는 비타민 A가 1.22mg%, 비타민 E는 0.32mg%로 미량 함유되어 있었다.신은 최내엽 양상추의 부위별 질산염 최저치와 최고치 차이는 중록 10.4배 엽신 11.1배에 머물렀다. 5. 외부엽 1g 섭식 대비 내부엽 1g 섭식시의 ${NO_3$}^- 섭취량은 배추의 경우 3.72배, 양배추의 경우 4.18배, 양상추의 경우 6.50배나 많았다. 6. 결론적으로 같은 량의 엽채류를 섭식하면서 일일 질산염 섭취량을 줄이기 위해서는 배추, 양배추, 양상추 모두 외부엽보다는 내부엽을 선택적으로 소비하는 것이 바람직함을 알 수 l있었다.었다. 6. 녹즙 종류별 ${NO_3}^-$ 함량은 당근녹즙(143ppm) < 명일엽(506ppm) < 돌미나리(669ppm) < 케일녹즙(985ppm) 순으로 많았고, Vitamin C 함량은 당근(43ppm) < 돌미나리(289ppm) < 케일(353ppm) < 명일엽(768ppm)의 순으로 높았다. 7. 일일 ${NO_3}^-$ 섭취량은 500ml의 녹즙을 마시는 경우 명일엽 253mg, 돌미나리 335mg, 케일 483mg으로 녹즙만으로도 이미 WHO/FAO의 일일 ${NO_3}^-$ 섭취허용량보다 1.16배, 1.53배, 2.21배나 초과할 수 있는 것으로 나타났다. 연약한 곤충의 방제에 효과적인 것으로 나타났다. 따라서 제조된 살충비누를 활용하면 환경친화적인 해충방제가 가능하다고 판단되었다.소변의 이상소견이 발견되어 신장 조직검사를 실시할 경우 혈청 $C_3$치의 감소 여부에 관계없이 MPGN도 진단적 고려 대상이 되어야 한다고 생각한다.신장 조직검사를 시행한 결과 진행성 경과를 취할 수 있는 막 증식성 사구체 신염과 매우 희귀한 증례인 신유전분증 Transport properties of 2DEG at AlGaAs/GaAs interface such as average electron energy, flight distance, each valley occupancy ratio, average electron velocity for various fields are investigated by MONTE-CARLO method. As the electric field increases, more electrons transit drastically from (000) valley to (000) upper valley. This phenomenon shows the nonstationary effect such as velocity overshoot. The duration of the transient decreases from about 1.4 psec for electric field E = 7KV/cm to about 0.7 psec for 12KV/cm. The average electron velocity during transient transport in 2DEG is about 8 times the steady-state velocity for E = 12KV/cm at room temperature. In comparison with bulk GaAs the peak velocity in the 2DEG is higher than that in even pure bulk GaAs at electric field E = 7 KV/cm. On the basis of the fact that the electrons in the 2DEG have larger peak velocity and shorter transient time of velocity than those in the bulk GaAs, it is suggested that the device with 2DEG may obtain higher mobility than that with bulk GaAs.

        • KCI등재

          전자선 직접묘사에서 Through-put이 향상된 단위 矩形묘사방법

          박선우,김철주,Park,,Sun-Woo,Kim,,Chul-Ju 대한전자공학회 1989 전자공학회논문지 Vol. No.

          This paper describes to the unit rectangle EB direct writing lithography method using SEM. This method has the constant exposure time to any rectangle pattern. In order to change the EB current according to various rectangle size for the constant exposure time, the supply current of condenser lens in controlled by BITMAP-IV CAD system. By this method, the resizing procedure of density pattern area is not needed to pattern data conversion, and the through-put ofr exposure is increased about 172 times compared with the unit scan exposure method. 본 논문은 패턴의 모양에 따라서 패턴 데이타 포멥변환시 분할되는 각종 矩形패턴을 크기에 구애됨이 없이 전자선 직접묘사 시간이 일정한 矩形단위로 전자선 직접묘사하는 방법을 제안하였다. 본 실험에서는 SEM을 사용하였으며 矩形의 크기에 따라 일정시간에 요구되는 전자선 전류를 변화시키기 위하여 집속렌즈의 공급전류를 BITMAP-IV CAD 시스템으로 제어하였다. 본방법에서는 패턴 데이타 포맵변환시 밀집된 패턴에 대한 resizing과정이 불필요하며 묘사시간에 근거한 through-put은 unit scan방식에 비하여 172배가 향상되었다.

        • MCM/PCB 회로패턴 검사에서 SEM의 전자빔을 이용한 측정방법

          김준일,신준균,지용,Kim,,Joon-Il,Shin,,Joon-Kyun,Jee,,Yong 대한전자공학회 1998 電子工學會論文誌, D Vol.d35 No.9

          본 논문은 주사전자현미경(SEM)의 전자총을 이용하여 MCM 또는 PCB 회로기판의 신호연결선에서 전압차를 유도시켜 개방/단락 등의 결함을 측정 검사하는 방법을 제시한다. 본 실험에서는 주사전자현미경의 구조를 변형시키지 알고 회로기판의 개방/단락 검사를 실시할 수 있는 이중전위전자빔(Dual Potential) 검사방법을 사용한다. 이중전위전자빔(Dual Potential) 측정검사 방법은 이차전자수율 값 δ의 차이를 유기시키는 δ < 1 인 충전 전자빔과 δ > 1 인 읽기 전자빔을 사용하여 한 개의 전자총이 각각 다른 가속전압에 의해 생성된 두 개의 전자빔으로 측정하는 방법으로 특정 회로네트에 대한 개방/단락 등의 측정 검사가 가능하다. 또한 읽기 전자빔을 이용할 경우 검사한 회로 네트를 방전시킬 수 있어 기판 도체에 유기된 전압차를 없앨 수 있는 방전시험도 실시할 수 있어, 많은 수의 회로네트를 지닌 회로 기판에 대해 측정 검사할 때 충전되어 있는 회로네트에 대한 측정오류를 줄일 수 있다. 측정검사를 실시한 결과 glass-epoxy 회로기판 위에 실장된 구리(Cu) 신호연결선은 7KeV의 충전 전자빔으로 충전시키고 10초 이내에 주사전자현미경을 읽기 모드로 바꾸어 2KeV의 읽기 전자빔으로 구리표면에서의 명암 밝기 차이를 읽어 개방/단락 상태를 검사할 수 있었다. 또한 IC 칩의 Au 패드와 BGA의 Au 도금된 Cu 회로패드를 검사한 결과도 7KeV 충전 전자빔과 2KeV 읽기 전자빔으로 IC칩 내부회로에서의 개방 단락 상태를 쉽게 검사할 수 있었다. 이 검사방법은 주사전자현미경에 있는 한 개의 전자총으로 비파괴적으로 회로 기판의 신호 연결선의 개방/단락 상태를 측정 검사할 수 있음을 보여 주었다. This paper presents a characterization method for faults of circuit patterns on MCM(Multichip Module) or PCB(Printed Circuit Board) substrates with electron beams of a SEM(Scanning Electron Microscope) by inducing voltage contrast on the signal line. The experimentation employes dual potential electron beams for the fault characterization of circuit patterns with a commercial SEM without modifying its structure. The testing procedure utilizes only one electron gun for the generation of dual potential electron beams by two different accelerating voltages, one for charging electron beam which introduces the yield of secondary electron $\delta$ < 1 and the other for reading beam which introduces $\delta$ > 1. Reading beam can read open's/short's of a specific net among many test nets, simultaneously discharging during the reading process for the next step, by removing its voltage contrast. The experimental results of testing the copper signal lines on glass-epoxy substrates showed that the state of open's/short's had generated the brightness contrast due to the voltage contrast on the surface of copper conductor line, when the net had charged with charging electron beams of 7KV accelerating voltages and then read with scanning reading electron beams of 2KV accelerating voltages in 10 seconds. The experimental results with Au pads of a IC die and Au plated Cu pads of BGA substrates provided the simple test method of circuit lines with 7KV charging electron beam and 2KV reading beam. Thus the characterization method showed that we can test open and short circuits of the net nondestructively by using dual potential electron beams with one SEM gun.

        • KCI등재

          회로 시뮬레이션을 위한 단일전자 트랜지스터의 과도전류 모델링

          유윤섭,金相勳 대한전자공학회 2003 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.40 No.4

          In this study, a regime where independent treatment of SETs in transient simulations is valid has been identified quantitatively. It is found that as in the steady-state case, each SET can be treated independently even in the transient case when the interconnection capacitance is large enough. However, the value of the load capacitance CL of the interconnections for the independent treatment of SETs is approximately 10 times larger than that of the steady state case. A compact SET transient model is developed for transient circuit simulation by SPICE. The developed model is based on a linearized equivalent circuit and the solution of master equation is done by the programming capabilities of the SmartSpice. Exact delineation of several simulation time scales and the physics-based compact model make it possible to accurately simulate hybrid circuits in the time scales down to several tens of pico seconds. The simulation time is also shown to depend on the complexity level of the transient model. 본 논문에서는 과도상태 회로 시뮬레이션에서 각각의 단일전자 트랜지스터 (Single electron transistor: SET)가 독립적으로 다루어질 수 있는 영역을 체계적으로 조사했다. Interconnection 정전용량이 충분히 큰 회로의 과도상태 시뮬레이션에서도 정상상태 경우와 마찬가지로 각각의 SET가 독립적으로 다뤄질 수 있음을 찾았다. 그러나, 각각의 SET들이 서로 독립적으로 다뤄질 수 있는 interconnection의 부하정전용량은 정상상태보다 약 10배 정도 크다. 이런 조건에서 SPICE에 적용 가능한 단일전자 트랜지스터 (Single electron transistor: SET)의 과도상태 compact 모델을 제시한다. 이 모델은 SPICE main routine의 admittance 행렬과 전류 행렬 구성 요소를 효율적으로 만들기 위해 새롭게 개발된 등가회로 접근방식에 기초한다. 과도상태 모델은 전자우물 안의 전자 개수를 정확히 계산하기 위해서 시변 master 방정식 solver를 각각 포함한다. 이 모델을 이용해서 단일전자 회로 및 단일전자 소자/회로와 CMOS 회로가 결합한 SET/CMOS hybrid 회로를 성공적으로 계산했다. SPICE에 적용된 기존의 시뮬레이터의 결과와 비교해서 상당히 일치하며 CPU 계산 시간도 더 짧아짐을 보인다.

        • KCI우수등재

          철근 콘크리트 벽체 전자파 차폐성능 시험장치용 개구부 크기에 따른 투과율 분석

          김보현,오재현,이상훈,박인욱,오세준 대한전자공학회 2019 전자공학회논문지 Vol.56 No.11

          In this paper, we analyzed the electromagnetic wave transmission according to the aperture size for the electromagnetic wave shielding effectiveness measurement system of reinforced concrete walls. Recently, electromagnetic shielding technology under the condition of reinforced concrete wall has been investigated and the shielding effectiveness test on the unit cell size has been proceeded. However, this unit cell test has a few disadvantages such as small measurement range. In order to overcome it, the shielding effectiveness measurement system for a large size sample, 2.0 m × 2.0 m, was utilized. Test results were compared with numerical ones 본 논문은 철근 콘크리트 벽체의 전자파 차폐성능 시험장치에 대하여 개구부 크기에 따른 전자파 투과율을 분석하였다. 최근 철근 콘크리트 벽체 상태에서의 전자파 차폐기술 개발이 활발히 진행되고 있으며, 기존 단위셀 크기의 시험체 차폐성능 시험에 대한 평가가 진행되었다. 이러한 단위셀 크기의 차폐성능 평가는 측정범위가 작은 단점이 있다. 이러한 단점을 개선하기 위해 2.0 m × 2.0 m 시험시료를 평가할 수 있는 철근 콘크리트 벽체의 전자파 차폐성능 시험장치를 전자파 수치해석으로 검증 및 설계하였으며, 실험적 검증을 통해 수치해석 결과와 비교하였다.

        • KCI등재

          전력선 유도전압 기초 산출을 위한 전자계 해석

          이상무(Sangmu Lee), 은창수(Changsoo Eun) 大韓電子工學會 2010 電子工學會論文誌-TC (Telecommunications) Vol.47 No.5

          통신서비스에 장애를 유발하는 전력선에 의한 전자유도 현상에 대한 방호를 위하여는 유도전압을 평가하여야 하고 상응한 대책을 수행하여야 한다. 유도전압을 평가하는 방식은 ITU 규격과 일본 유도자료로부터 국내에 도입되어 법률 고시화되어 있는데 이것으로 수용되지 못하는 유도 커플링상의 제원 요소들이 있다. 본 논문에서는 계산 수행 적용이 곤란한 범위를 포괄할 수 있도록 좀더 일반화된 고전적 유도 및 전자파 원론 해석 근간의 전자계 형성에 의한 소스와 관측점의 유도전압 산출 방식에 대한 기술을 분석하여 제시하였다. The calculation method of induction voltage is abbreviately by the Ohm's law including Carson-Pollaczek's equation for mutual inductance estimation and various shielding effect coefficients. This method is mainly scoped to 60㎐ power source and the inducing/induced object positioned on the air, and the dimension of shielding material is not thoroughly reflected. In this paper, more general method of calculation is scrutinized through electromagnetic wave propagation principles. Electromagnetic force as a voltage in the spot generating from the source is evaluated according to the position of the source and object, especially their relationship with earth surface as boundary line and independent to source propagation frequency. And this method intends to consider the material specification of each object in the induction field.

        • KCI등재

          일체형 방식의 인덕터 코어에 대한 전자장 해석

          김기준(Kijoon Kim) 대한전자공학회 2009 電子工學會論文誌 IE (Industry electronics) Vol.46 No.2

          본 연구에서는 초소형화의 욕구와 고밀도의 내실을 동시에 충족시킬 수 있으며 전자 장해를 발생하지 않는 일체형 인덕터코어를 개발하기 위한 방법의 하나로 고전류인가에 따른 인덕터의 전자장 특성을 분석하고자하였다. 분석 결과, 인덕터 내부에서는 전자장이 크게 발생하였지만 인덕터 표면에 나타나는 자장분포 값은 매우 미약하여 주위의 다른 전자 부품에 영향을 미칠 정도는 아니었으며, 표면을 벗어나면 그 값은 순식간에 거의 0[T]로 작아지고 있기 때문에 일체형 인덕터를 이용하여 회로를 구성하였을 때 다른 전자 부품들에 대한 전자 장해는 발생하지 않을 것으로 생각된다. 이 결론은 일체형 인덕터 개발에 많은 영향을 미칠 것이며, 특히 인덕터 코어의 특성 분석 및 신뢰도 향상에 많은 도움이 될 것으로 예상된다. The inductor needs to have the desire of super miniaturization, substance of high density and no electronic obstacle. In this study, it analyzes electromagnetic field properties of the core due to inserted high current to develop union type inductor. As the results, it appears high electromagnetic field in inductor insides, but magnetic is very small in inductor surfaces. Also, magnetic distribution are almost 0[T] in circumferences get out of the inductor surfaces. It is an evidence that magnetic distribution as the electronic magnetic obstacle does not appear at other electronic parts. These above results affect to develop the union type inductor, especially it can be expect to help analysis of electromagnetic field properties of inductor core and reliability improvement.

        • KCI등재

          2D CRD 수에 따른 전자파 잔향실 내의 필드 균일성 개선

          김진복(Jin-Bok Kim), 이중근(Joong-Geun Rhee), 김정훈(Jung-Hoon Kim), 이유진(Eugene Rhee) 大韓電子工學會 2010 電子工學會論文誌-TC (Telecommunications) Vol.47 No.4

          본 논문은 전자파장해 및 복사 내성 측정에 사용되는 전자파 무반사실의 대용 방법으로 사용되는 전자파 잔향실 내의 필드 균일성에 관한 연구이다. 최근 Wireless LAN 이나 DMB 및 휴대 인터넷 사용량의 증가로 인해 전자기파 노이즈가 다른 기기나 장비에 악영향을 미칠 것으로 예상되는 2.3 ㎓ 대역에 초점을 맞추었다. 본 논문에서는 전자파 잔향실 내부의 전계강도 수치해석을 위하여 시간영역 유한 차분법이 사용되었으며, 전자파 잔향실의 특성과 내부 전계강도의 균일성 개선을 위하여 2D CRD의 배치와 개수를 변화시키면서 표준 편차, 공차 특성, 편파 특성을 비교분석하였다. 전자파 잔향실의 두 면에 확산기를 부착하였을 때 확산기를 사용하지 않은 전자파 잔향실에 비하여 표준 편차는 1.98 ㏈, 공차 특성은 3.6 ㏈ 만큼 개선되었다. This paper presents the improvement of the field uniformity in a reverberation chamber which can be substitute an anechoic chamber for the electromagnetic interference (EMI) and immunity test. Nowadays, there are many EMI issues due to the increasing use of wireless local area network (LAN), digital multimedia broadcasting (DMB), and mobile internet. With this reason, this paper studied the field characteristics in a reverberation chamber for 2.3 ㎓ band. In this paper, the finite difference time domain (FDTD) method is used to analyze the field characteristics in a reverberation chamber. To improve the field uniformity in the reverberation chamber, this paper adopted a 2D cubical residue diffuser (CRD) with varying the disposition and number of CRD. For each case, the tolerance and standard deviation of the electric field strength are evaluated.In comparison with the reverberation chamber without any CRD, the reverberation chamber with two CRDs showed improved results; 1.98 ㏈ improvement in standard deviation and 3.6 ㏈ improvement in tolerance.

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