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A NOTE ON TOPOLOGICAL PROPERTIES IN MULTI-VALUED DYNAMICAL SYSTEMS
조치현,주항연,강노원,김명정 충청수학회 2022 충청수학회지 Vol.35 No.2
In this article, we investigate the transitivity and chain transitivity on multi-valued dynamical systems. For compact-valued continuous dynamics, we prove that the notion of transitivity is expressed by the notions of the shadowing property and chain transitivity under locally maximal condition.
FDTD법을 이용하여 분산매질을 고려하기 위한 PLRC-APML 기법
이정엽,이정해,강노원,정현교,Lee Jung-Yub,Lee Jeong-Hae,Kang No-Weon,Jung Hyun-Kyo 한국전자파학회 2004 한국전자파학회논문지 Vol.15 No.10
본 논문에서는 유한 시간 차분법(FDTD) 내에서 PLRC(Piecewise Linear Recursive Convolution)법을 이용한 분산성 물질에 대한 비등방성 흡수체(APML)를 제안한다. 제안된 흡수체는 비선형, 분산성 매질 해석시 무한 경계조건을 표현하기 위해 사용될 수 있다. 제안된 흡수체는 기존의 APML 정식화 과정에서 분산 특성을 고려한 것이며 PLRC법의 장점인 빠른 계산시간, 저 메모리 사용, 다극 감수율의 간편한 정식화 등의 장점을 가지고 있다. 개발된 분산성 APML은 드바이(Debye)매질과 로렌츠(Lorentz) 매질 등의 분산성 물질의 해석에 적용하였으며 수치실험을 통해 흡수경계에서 뛰어난 흡수율을 가짐을 보였다. In this paper, a dispersive anisotropic perfectly matched layer(APML) is proposed using piecewise linear recursive convolution(PLRC) for finite difference time domain(FDTD) methods. This proposed APML can be utilized for the analysis of a nonlinear dispersive medium as absorbing boundary condition(ABC). The formulation is simple modification to the original AMPL and can be easily implemented. Also it has some advantages of the PLRC approach-fast speed, low memory cost, and easy formulation of multiple pole susceptibility. We applied this APML to 2-D propagation problems in dispersive media such as Debye and Lorentz media The results showed good absorption at boundaries.
반사 펄스의 주파수 해석을 이용한 광대역 3.5 mm 동축형 단일 포트 벡터 회로망 분석법
이동준,권재용,소준호,강노원 한국전자파학회 2012 한국전자파학회논문지 Vol.23 No.8
본 논문에서는 샘플링 오실로스코프를 이용한 시간 영역의 해석을 통해 초고주파 소자 및 안테나의 반사 계수를 평가하는 방법을 소개한다. 20 GHz 급의 펄스 입력 신호에 대한 반사 신호를 측정한 후, 이를 푸리에 변환하여 반사 계수를 추출하였다. 초고주파 반사파 회로망의 보정에 필요한 3가지 오차 계수들은 3.5 mm calibration kit을 이용하여 유도하였다. 또한, 반사파 측정을 위하여 결합기를 사용한 경우의 오차 계수를 유도하고, 이를 적용하여 얻은 반사 계수와 벡터 회로망 분석기로 측정한 결과를 비교하였다.
Uncertainty of S-Parameter Measurements on PCBs due to Imperfections in the TRL Line Standard
구현지,Martin Salter,강노원,Nick Ridler,홍영표 한국전자파학회 2021 Journal of Electromagnetic Engineering and Science Vol.21 No.5
This paper evaluates the uncertainty of S-parameter measurements on multilayer printed circuit boards (PCBs) due to the uncertainties of the dimensions and dielectric properties of the line standard in the Thru-Reflect-Line (TRL) calibration. This evaluation is performed in two ways: one is based on repeated TRL calibrations with a randomly perturbed line standard, and the other is based on equations given by Stumper. The two methods require the uncertainties of the S-parameters of the TRL line standard, which are obtained from the uncertainties of the dimensions and dielectric properties using three-dimensional electromagnetic Monte Carlo simulation. The two methods agree well with each other. This study also shows how to apply impedance renormalization in Stumper’s equations. We design the TRL standards and the devices under test (DUTs) in PCB stripline and precisely measure the cross-sectional dimensions of the fabricated striplines. Uncertainty analysis based on the measured values enables us to investigate the impact of realistic deviations in the dimensions of the TRL line standard on the S-parameter measurement uncertainty of the DUTs. Finally, as an example, we evaluated the uncertainty in the measured S-parameters of a Beatty line on the fabricated PCB.