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성 봉재,한 승호,김 선익,김 관후,이 가순,김 현호,원 준연,서 정덕,조 진웅 한국작물학회 2014 Korean journal of crop science Vol.59 No.3
This study investigated ginseng growth and ginsenoside contents after control a reserved ginseng cultivation land using various green manure crops for stable ginseng cultivation. Followings are results obtained from this research. After cultivate the green manure crops, microbial flora in soil was diversified, organic matter and total-N content increased, but salt content decreased. The highest output obtained from the wheat cultivated area among various green manure corps. Growth of shoot and root of two years old ginseng increased significantly at the green manure crop cultivated area. Specially, the wheat cultivated area was the most effective in growth. Also, the rate of the leaf discoloration at the aerial part and the rusty root at the root was the least at the wheat cultivation area. Meanwhile, the ginsenoside content was the most at the wheat cultivation area. Thus, the reserved ginseng cultivation land could be managed by cultivating wheat for effective ginseng growth.
넓은 전압 범위와 개선된 파워-업 특성을 가지는 밴드갭 기준전압 발생기의 스타트-업 회로
성관영,김종희,김태호,카오투안부,이재형,임규호,박무훈,하판봉,김영희,Sung, Kwang-Young,Kim, Jong-Hee,Kim, Tae-Ho,Vu, Cao Tuan,Lee, Jae-Hyung,Lim, Gyu-Ho,Park, Mu-Hum,Ha, Pan-Bong,Kim, Young-Hee 한국정보통신학회 2007 한국정보통신학회논문지 Vol.11 No.8
본 논문에서는 넓은 동작전압 범위와 저소비 전력 그리고 개선된 파워-업 특성을 가지는 캐스코드 전류 거울형 CMOS 밴드갭 기준전압 발생기의 스타트-업 회로를 제안하였다. 새롭게 제안된 스타트-업 회로는 기존의 스타트-업 회로에 비해 안정적인 파워-업 특성을 가지며 공급전압(VDDA)이 높아지더라도 밴드갭 기준전압 발생기 회로의 동작에 영향을 미치지 않는 것을 모의실험을 통하여 확인하였고 $0.18{\mu}m$ tripple-well CMOS 공정을 이용하여 테스트 칩을 제작하고 측정하였다. 측정 된 기준전압 Vref는 평균값이 738mV이고 $3{\sigma}$는 29.88mV이다. A start-up circuit of the bandgap reference voltage generator of cascode current mirror type with wide operating voltage range and enhanced power-up characteristics is proposed in the paper. It is confirmed by simulation that the newly proposed start-up circuit does not affect the operation of the bandgap reference voltage generatory even though the supply voltage(VDDA) is higher and has more stable power-up characteristic than the conventional start-up circuit. Test chips are designed and fabricated with $0.18{\mu}m$ tripple well CMOS process and their test has been completed. The mean value of measured the reference voltage(Vref) is 738mV and The three sigma value($3{\sigma}$) is 29.88mV.
포톤 계수 방식의 $32{\times}32$ 픽셀 어레이를 갖는 디지털 CMOS X-ray 이미지 센서 설계
성관영,김태호,황윤금,전성채,진승오,허영,하판봉,박무훈,김영희,Sung, Kwan-Young,Kim, Tae-Ho,Hwang, Yoon-Geum,Jeon, Sung-Chae,Jin, Seung-Oh,Huh, Young,Ha, Pan-Bong,Park, Mu-Hun,Kim, Young-Hee 한국정보통신학회 2008 한국정보통신학회논문지 Vol.12 No.7
본 논문에서는 $0.18{\mu}m$ triple-well CMOS 공정을 사용하여 포톤계수 방식의 $32{\times}32$ 픽셀 어레이를 갖는 CMOS ray 영상센서를 설계하였다. 설계된 영상센서의 카픽셀은 $100{\times}100\;{\mu}m2$ 면적을 가지고 있고 약 400개의 트랜지스터로 구성되어 있으며, 범프 본딩을 통해 ray 검출기와 CSA(Charge Sensitive Amplifier)의 연결을 위한 $50{\times}50{\mu}m2$의 오픈패드를 가지고 있다. 각각의 싱글픽셀 CSA에서 전압 바이어스 회로를 사용한 folded cascode CMOS OP amp 대신 레이아웃 면적을 줄이기 위하여 self biased folded cascode CMOS OP amp를 이용하였으며, 계수 모드 진입 전후에 CLK에서 발생 할 수 있는 short pulse를 제거하는 15bit LFSR 계수기 (Linear Feedback Shift Register Counter) 클럭 발생회로를 제안하였으며, 읽기 모드에서 CMOS X-ray 영상센서의 최대 전류를 줄이기 위하여 열 어드레스 디코더를 이용하여 한 열씩 읽도록 설계하였다. In this paper, x-ray image sensor of photon counting type having a $32{\times}32$ pixel array is designed with $0.18{\mu}m$ triple-well CMOS process. Each pixel of the designed image sensor has an area of loot $100{\times}100\;{\mu}m2$ and is composed of about 400 transistors. It has an open pad of an area of $50{\times}50{\mu}m2$ of CSA(charge Sensitive Amplifier) with x-ray detector through a bump bonding. To reduce layout size, self-biased folded cascode CMOS OP amp is used instead of folded cascode OP amp with voltage bias circuit at each single-pixel CSA, and 15-bit LFSR(Linear Feedback Shift Register) counter clock generator is proposed to remove short pulse which occurs from the clock before and after it enters the counting mode. And it is designed that sensor data can be read out of the sensor column by column using a column address decoder to reduce the maximum current of the CMOS x-ray image sensor in the readout mode.