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광간섭단층촬영으로 분류된 미만성 당뇨황반부종의 위험인자
김도형,김상훈,김현웅,윤일한,Do Hyung Kim,M,D,Sang Hoon Kim,M,D,Hyun Woong Kim,M,D,Ill Han Yoon M,D 대한안과학회 2006 대한안과학회지 Vol.47 No.4
Purpose: Recently diffuse diabetic macular edema has been morphologically classified by optical coherence tomography. This study was conducted to examine the difference of risk factors of the classified types of diffuse macular edema. Methods: The subjects included 93 people who were diagnosed with non-insulin dependent diabetes. We diagnosed the presence of diabetic macular edema with slit lamp fundus examination and used OCT for the classification of diffuse macular edema. We examined the differences in epidemiological risk factors in non-diabetic macular edema patients after diabetic macular edema patients were examined with fluorescein angiography to confirm diffuse macular edema. Results: Diabetic macular edema was classified into 4 types using OCT. Compared with patients without macular edema, sponge-like macular edema - related epidemiological risk factors included diabetic nephropathy, cystoid macular edema was related to HbA1c, serous macular detachment was related to treatment of diabetes by insulin, and posterior hyaloid raction was related to diastolic blood hypertension. Conclusions: In the present study, differences in epidemiological risk factors were related to the occurrence of a type of diffuse macular edema.
김도형,류철,이재호,김선자,Kim, D.H.,Ryu, C.,Lee, J.H.,Kim, S.J. 한국전자통신연구원 2010 전자통신동향분석 Vol.25 No.3
최근 모바일 시장의 패러다임이 개방형으로 변화함에 따라 모바일 단말에서도 사용자에게 다양한 애플리케이션과 콘텐트 제공이 가능하도록 하는 모바일 소프트웨어 플랫폼에 대한 관심이 증가되고 있다. 모바일 시장에서는 애플의 아이폰, 구글의 안드로이드폰과 같은 범용 운영체제 기반의 모바일 소프트웨어 플랫폼이 탑재된 스마트폰들이 본격적으로 출시되고 있다. 스마트폰 시장이 지속적으로 확대될 것으로 예측됨에 따라, 스마트폰에 탑재되는 모바일 소프트웨어 플랫폼들의 경쟁도 치열하게 전개되고 있다. 모바일 소프트웨어 플랫폼 제공업체들은 모바일 소프트웨어 플랫폼 시장을 선점하기 위해 개발자 및 사용자들에게 모바일 소프트웨어 플랫폼의 API나 소스 코드를 제공하여, 자사 소프트웨어 플랫폼 기반의 다양한 애플리케이션 개발을 유도하고 있다. 본 고에서는 모바일 시장에서 경쟁하고 있는 모바일 소프트웨어 플랫폼들의 특정 및 최근 동향에 대해 기술한다.
김도형(D H Kim),홍성제(S J. Hong) 한국정보과학회 1993 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.20 No.2
지난 수십년동안 시험패턴생성 알고리즘에 관한 많은 연구가 활발히 이루어져 왔다. 그러나 대 부분의 알고리즘들의 그 수행시간이 많이 걸려 실제 VLSI 회로에 적용하기에는 부적격한 실정이다. 특히, 순차회로의 시험패턴생성 문제는 조합회로와는 비교가 안될만큼 복잡하고 없다고 알려져 있다. 본 논문에서는 비동기 회로에 대한 시험패턴생성에 관한 것으로, 비동기 회로내부에 존재하는 feedback선들을 절단하여 순차회로를 조합회로의 배열로 변환한 다음 시험패턴생성을 시도하였다. 여기에 대한 대표적인 알고리즘으로 9-value를 이용한 시험생성이 있지만, 이것은 D-algorithm을 이용한 시험생성에서 찾지 못하는 결합을 구할 수는 있으나 역시 그 수행시간이 느려 비효율적이다. 이에 본 논문에서 제안하는 15-value 논리를 이용하면 효과적인 시험패턴생성을 얻을 수가 있다. 즉 조합회로의 배열로 인하여 발생할 수 있는 복수결함효과 (Multiple Fault Effect)를 방지할 수가 있으며, 또한 회로 내부의 모든 선들이 가질 수 있는 값들을 15가지로 표현함으로써 시험생성과정에서 발생할 수 있는 선택의 폭을 상당히 축소시킬 수가 있다.
초미립 WC로 제작된 무코팅 엔드밀 공구의 가공성 평가
김도형(D. H. Kim),권동희(D. H. Kwon),강익수(I. S. Kang),김정석(J. S. Kim) 한국정밀공학회 2006 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 Vol.2006 No.5월
The quality of tool material is very important factor in machining evaluation. The characteristics of tungsten carbide, such as grain size and hardness, and density are depending on the variation of Co composition and WC size. In this study, the non-coated end mill which is made of ultra-fine tungsten carbide is investigated by measuring tool wear and tool life test. The machining test is conducted with high hardened workpiece under high-speed cutting condition.
2.5m 해상도 지구관측 카메라 MAC 비행모델의 지상 MTF 성능 측정
김도형(Eugene D. Kim),최영완(Young-Wan Choi),양호순(Ho-Soon Yang) 한국항공우주학회 2005 韓國航空宇宙學會誌 Vol.33 No.10
해상도 2.5m 급 지구관측 카메라인 MAC(Medium-sized Aperture Camera)의 비행모델이 정렬 및 조립되었다. 본 논문에서는 지상에서 측정한 MAC의 시스템 MTF 성능, MTF를 이용한 초점면부의 정렬 등에 대해 논의한다. 칼날주사방식을 이용하여 MAC의 시스템 MTF를 측정하였고, 이를 위해 회절한계 성능의 구경 450 ㎜ 급의 카세그레인 시준기를 만들어 사용하였다. 시스템 MTF를 이용하여 CCD 검출기 초평면부의 최적의 초점에 정렬하였다. The Flight Model of MAC (Medium-sized Aperture Camera), a 2.5m GSD class earth observation camera has been aligned and assembled. Topics discussed in this paper include the ground MTF performance of the MAC system, and the alignment of the focal plane assembly. MTF was measured by a knife-edge scanning technique, and a 450 ㎜ diameter Cassegrain collimator with diffraction-limited performance was made and used for the MTF measurements. System MTF was used as the figure-of-merit to find the best focus of the focal plane assembly.