http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
OSGi 컴퓨팅 환경에서 접근 제어를 이용한 원격 관리 서비스 구현
최규상(Choi Kyu Sang),정헌만(Jung Heoun Man),이세훈(Lee Se Hoon),백영태(Beak Yong Tae) 한국컴퓨터정보학회 2006 한국컴퓨터정보학회지 Vol.14 No.2
이 논문에서는 OSGi 서비스 프레임워크 환경에서 발생할 수 있는 보안 요구 사항 중에서 서로 다른 번들의 서비스 간의 상호 작용에서 발생할 수 있는 접근 제어(access control)문제를 설명하고 이를 만족 시킬 수 있는 구체적인 서비스 보안 모델을 제시하였다. 특히 번들이나 서비스에 대한 접근 통제를 유연성과 확장성이 보장되는 방식으로 처리 할 수 있도록 번들에 포함된 파일 형식으로 명시될 보안 정책(security policy)의 구성요소와 의미론을 정의 한다. 또한, 원격 관리 서비스를 위한 효율적인 서비스 구조를 제안하였다. In this paper, we proposed service security model and remote management service on OSGi computing environment. The model is used to make access control decisions like permission-based security inside the java2 platform. In model. policies are defined using a flat text file and include bundles. It method granted flexibility and extendability of access control of bundles and services. Also, we proposed service architecture efficiently for remote management service.
Hot - wall epitaxy 방법에 의한 HgCdTe 박막 성장
최규상(Kyusang Choi),정태수(Tae Soo Jeong) 한국진공학회(ASCT) 2000 Applied Science and Convergence Technology Vol.9 No.4
Hot-wall epitaxy 방법으로 GaAs (100) 기판 위에 9 ㎛의 CdTe (111)을 완충층으로 성장하고 그 위에 in-situ로 Hg_(1-x)Cd_xTe (MCT) 박막을 성장하였다. 성장된 MCT 박막의 2 결정 x-선 요동곡선의 반치폭 값은 125 arcsec이었으며 표면 형상의 roughness는 10 ㎚의 작고 깨끗한 면을 나타내었다. 성장된 MCT 박막에 대한 광전류 측정으로부터 최대 peak 파장과 cut off 파장은 각각 1.1050 ㎛ (1.1220 eV)와 1.2632 ㎛ (0.9815 eV) 임을 알았다. 이 peak 파장은 광전도체의 intrinsic transition에 기인한 band gap에 대응하는 봉우리이다. 이로부터 MCT 박막은 1.0 ㎛에서 1.6 ㎛의 근 적외선 파장 영역을 감지할 수 있는 광전도체용 검출기로 쓰일 수 있음을 알았다. Using the hot-wall epitaxy method, we grew a Hg_(1-x_Cd_xTe (MCT) thin film in-situ after growing (111) CdTe of 9 ㎛ as a buffer layer. The value of FWHM of double crystal x-ray diffraction rocking curve was 125 arcsec and the surface morphology was clean with a small roughness of 10 ㎚. From measuring the photocurrent of the grown MCT thin film, the maximum peak wavelength and the cut-off wavelength were 1.1050 ㎛(1.1220 eV) and 1.2632 ㎛(0.9815 eV), respectively. This peak wavelength corresponds to the peak of the band gap due to the intrinsic transition of the photoconductor. Therfore, the MCT thin film could be used as the photoconducting detector sensing a near-IR wavelength band from 1.0 to 1.6 ㎛.
생산요소 관련 제조유연성이 제조성과에 미치는 영향에 대한 실증적 연구
최규상(Choi, Kyoosang),오중산(Oh, Joongsan) 한국경영교육학회 2010 한국경영교육학회 학술발표대회논문집 Vol.2010 No.6
본 연구는 자동차 부품산업과 전자 부품산업에 속한 제조업체들을 대상으로 생산요소 관련 제조유연성들(기능유연성, 기계유연성, 생산방식유연성) 간의 인과관계와 이들이 제조성과에 미치는 영향을 실증적으로 규명하기 위해 진행되었다. 본 연구에서 기능유연성은 작업자들의 다기능숙련 정도로 측정되었으며, 기계유연성과 생산방식유연성은 범주·이질성·이동성·균일함과 같은 네 가지 차원으로 측정되었다. 공장을 분석단위로 구조방정식을 이용하여 모형을 추정한 결과, 기능유연성은 다른 두 가지 제조유연성에 모두 긍정적인 영향을 미치는 것으로 확인되었다. 또한 기능유연성과 생산방식유연성은 모두 제조성과에 긍정적인 영향을 미치는 것으로 판명되었다. 반면 기계유연성은 예상과 달리 제조성과에 통계적으로 유의한 영향을 미치지 못하는 것으로 확인되었다. 따라서 기업은 기능유연성이나 생산방식유연성과 같은 무형의 생산요소와 관련된 유연성을 제고함으로써 제조성과를 개선할 수 있을 것으로 기대된다. The main purpose of this study is to investigate the causal relationships among functional flexibility, machine flexibility, method flexibility and manufacturing performance. The data of this study were collected from manufacturing companies operated in the automotive and electronic parts industries. Functional flexibility was measured by the degree of a worker's multi-skilling. Machine and method flexibilities were measured by four dimensions: range-number, range-heterogeneity, mobility and uniformity. The proposed relationships were tested at the factory level by using structural equation modeling. As anticipated, the results of this study suggest that functional flexibility has a positive effect on other manufacturing flexibilities. In addition, both functional and manufacturing flexibilities have positive influences on manufacturing performance. However, the effect of machine flexibility on manufacturing performance was not statistically significant. The findings of this study suggest that companies can improve their manufacturing performance by facilitating flexibilities ofintangible manufacturing resources such as functional flexibility and method flexibility.
최용성(Yongsung Choi),온병원(Byung-Won On),최규상(Gyu Sang Choi),이인규(Ingyu Lee) 한국정보과학회 2015 정보과학회논문지 Vol.42 No.3
Phase Change Memory (PCM 또는 PRAM), Magneto Resistive RAM (MRAM)과 같은 차세대 비휘발성 메모리가 등장하면서, Dynamic Random-Access Memory (DRAM)을 PRAM으로 대체하는 연구가 활발히 진행되고 있다. 본 논문에서는 PRAM을 메인 메모리로 사용하는 시스템에서 지금까지 널리 사용되고 있는 기존의 조인 알고리즘(블록 네스티드 조인, 소트-머지 조인, 그레이스 해시 조인, 하이브리드 해시 조인)들을 사용했을 때 발생하는 내구성과 성능 문제를 비교, 분석한다. 본 연구의 실험결과에 의하면 기존의 조인 알고리즘들을 PRAM에 맞게 재설계해야 하는 필요성이 제기되었다. 특히, 본 연구는 조인 알고리즘들을 PRAM에 적용했을 때 발생하는 이슈들을 과학적으로 규명한 첫 시도이다. 그리고 기존의 조인 알고리즘들을 PRAM에 적용했을 때 발생하는 내구성과 성능을 비교하기 위한 PRAM 기반의 시스템을 모델링하고 시뮬레이터를 구현한 것에 연구의 의의를 둘 수 있다. With the advent of non-volatile memories such as Phase Change Memory (PCM or PRAM) and Magneto Resistive RAM (MRAM), active studies have been carried out on how to replace Dynamic Random-Access Memory (DRAM) with PRAM. In this paper, we study both endurance and performance issues of existing join algorithms that are based on PRAM-based computer systems and have been widely used until now: Block Nested Loop Join, Sort-Merge Join, Grace Hash Join, and Hybrid Hash Join. Our experimental results show that the existing join algorithms need to be redesigned to improve both the endurance and performance of PRAMs. To the best of our knowledge, this is the first research to scientifically study the results of the four join algorithms running on PRAM-based systems. In this work, our main contribution is the modeling and implementation of a PRAM-based simulator for a comparative study of the existing join algorithms.