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- 저자 : 조유선(Yu-Sun Jo) (검색결과 4 건)
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개방 단말 동축선 프로브의 환산모델에 대한 안정성과 정확성
김의정,조유선,김세윤,Kim Yee-Jung,Jo Yu-Sun,Kim Se-Yun 한국전자파학회 2005 한국전자파학회논문지 Vol.16 No.1
동축선 프로브법을 사용하여 매질의 광대역 복소 유전율 값을 얻는다. 신뢰할 수 있는 복소 유전율 분포를 얻기 위해서는 먼저 측정된 반사계수의 정확성과 환산 모델의 안정성이 보장되어야 한다. 본 논문에서는 서로 다른 uncertainty를 갖는 계측기를 사용하여 환산 모델의 민감도를 해석하였다. 그리고 측정된 반사계수의 정확성에 영향을 주는 여러 요인에 대해 측정을 통해 조사하였다. Complex permittivities of material in a wide bandwidth are measured by using an open-ended coaxial probe. To obtain a confident complex permittivity profile, the accuracy of measured reflection coefficients and the stability of the conversion model should be guaranteed in advance. In this paper, the sensitivity of our conversion model is analyzed by employing two instruments with different uncertainties. And various factors effected on the accuracy of measured reflection coefficients are investigated in experiment.
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정지현,조유선,김세윤,Jung Ji-Hyun,Jo Yu-Sun,Kim Se-Yun 한국전자파학회 2005 한국전자파학회논문지 Vol.16 No.1
개방단말 동축선 프로브는 넓은 주파수 대역에서 매질의 복소 유전율을 측정하는데 사용된다. 기준매질과 측정매질의 반사계수의 차이가 작은 경우에는, 기존의 동축선 프로브로 측정된 복소 유전율은 계측기의 불확정도(uncertainty)에 의해 심한 동요를 보인다. 본 논문에서는 기준매질과 측정매질의 반사계수 차이를 증가시키기 위하여 내심이 돌출된 개방단말 동축선 프로브를 제안하였다. 내심이 돌출된 개방단말 동축선 프로브의 타당성은 FDTD 수치해석과 실제 측정을 통해 확인하였다. Open-ended coaxial probe is used to measure complex permittivities of materials in a wide bandwidth. Complex permittivity measured by a conventional coaxial probe suffers from severe fluctuation due to instrumental uncertainty when the difference between reflection coeffcients of reference and measuring materials is small. In this paper, open-ended coaxial probe with protruding inner conductor is suggested to increase the difference between reflection coefficients of reference and measuring materials. Its validity is assured by FDTD simulation and actual measurement.
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정지현,조유선,김세윤,Jung Ji-Hyun,Jo Yu-Sun,Kim Se-Yun 한국전자파학회 2005 한국전자파학회논문지 Vol.16 No.2
광대역에서 PCB 기판의 유전율은 개방 단말 동축선 프로브로 측정된 반사계수를 모멘트 방법에 적용하여 얻을 수 있다. 본 논문에서는 유전율과 반사계수의 관계를 적분식으로 나타내었고, 적분식에 사용되는 서로 다른 두께를 갖는 PCB 기판의 반사계수를 분산 FDTD로 수치 계산하였다. 적분식을 모멘트 방법을 사용하여 해석한 결과 PCB기판의 유전율은 최대 $2.015\%$의 오차 범위 안에서 환산됨을 알 수 있었다. The permittivity profile of PCB substrate in a wide bandwidth is obtained by applying the moment method to the reflection coefficients measured by an open-ended coaxial probe. In this paper, the relation between a reflection coefficients and the corresponding permittivity is expressed into an integral form and the reflection coefficient of PCB substrates with different thickness are calculated using the dispersive FDTD method. The simulation results assure the validity of our conversion procedure within $2.015\%$ error.
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