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한석붕,윤원효 慶尙大學校生産技術硏究所 1998 生産技術硏究所論文集 Vol.14 No.-
In this paper, a novel test method is proposed to detect hard and soft faults in CMOS operational amplifiers. Proposed test method makes use of the offset voltage, which is one of the op-amps specifications. During the test mode, CUT is implemented to unit gain op-amps with feedback loop. When the input is grounded, a good circuit has a small offset voltage, but a faulty circuit has a large offset voltage exceeding predefined range of tolerance. Using the proposed method, no test vector is required to be applied. Therefore the test vector generation problem is eliminated and the test time is reduced. The accuracy and effectiveness of the method is verified through HSPICE simulation.
단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법
한석봉(Han S.B.),윤원효(Yun W.H.),김윤도(Kim Y.D.),송근호(Song G.H.),이효상(Lee H.S.) 한국정보과학회 1998 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.25 No.2Ⅱ
본 논문에서는 CMOS 2단 연산 증폭기에 존재하는 강고장을 검출하기 위한 새로운 아날로그 테스트 방법을 제안한다. 테스트 대상 회로는 테스트를 용이하도록 궤환 루프를 삽입하고 정현파 테스트 입력을 인가하여 출력단에 고장 효과를 발생시켜 고장을 검출하는 테스트 방법이다. 테스트 대상회로에 고장이 존재할 경우 출력단에서 정현파가 아닌 DC 전압이나 왜곡 신호가 나타나 고장 검출이 용이하다. 제안된 테스트 방법은 테스트 입력 신호를 생성하기 위한 복잡한 알고리즘을 요구하지 않으므로 테스트 패턴 시간이 짧고, 비용이 절감된다. 또한 테스트를 위한 추가적인 하드웨어의 오브헤드가 적다. 본 논문에서 제안된 테스트 방법의 정당성과 효율성은 HSPICE 모의실험을 통하여 검증하였다.