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- 저자 : 송요탁 (검색결과 4 건)
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손실층 Sub-mount를 갖는 CPW MMIC용 실리콘 MEMS 패키지
송요탁,이해영 한국전자파학회 2004 한국전자파학회논문지 Vol.15 No.3
초고주파 및 밀리미터파 통신 시스템의 집적회로 및 실장 기술로서 CPW기반의 전송선로를 갖는 MMIC 개발이 크게 증가하고 있으나, 실장시 패키지에서 발생되는 기생공진 현상으로 인해 그 성능이 크게 저하될 수 있다. 이런 기생 공진 현상을 억제시키기 위하여 도핑된 lossy 실리콘 웨이퍼를 칩 캐리어로 사용하고, HRS wafer를 사용하여 표면 및 벌크 MEMS 공정이 가능한 실리콘 MEMS 패키지가 해석적으로 제안되었다. 제안된 구조를 제작하여 세 가지의 칩 캐리어(conductor-back metal, 15 Ω$.$cm lossy Si, 15 ㏀$.$cm HRS)위에서 측정하여 실리콘 MEMS 패키지의 특성을 확인하였다. 제안된 실리콘 MEMS 패키지는 15 Ω$.$cm lossy 실리콘 칩 캐리어를 사용하여, 기생 공진 현상을 효과적으로 억제시킬 수 있었다. 전체 패키지에서 중앙의 GaAs CPW 패턴을 de-embedding하여 순수한 CPW MMIC 용의 실리콘 MEMS 패키지는 40 ㎓에서 삽입 손실은 - 2.0 ㏈이며, 전력 손실은 - 7.5 ㏈의 결과를 얻었다. A Si(Silicon) MEMS(Micro Electro Mechanical System) package using a doped lossy Si carrier for CPW(Coplanar Waveguide) MMICs(Microwave and Millimeter-wave Integrated Circuits) is proposed in order to reduce parasitic problems of leakage, coupling and resonance. The proposed chip-carrier scheme is verified by fabricating and measuring a GaAs CPW on the two types of carriers(conductor-back metal, doped lossy Si) in the frequency from 0.5 to 40 ㎓. The proposed MEMS package using the lightly doped lossy(15 Ω$.$cm) Si chip-carrier and the HRS(High Resistivity Silicon, 15 ㏀$.$cm) shows the optimized loss and parasitic problems-free since the doped lossy Si-carrier effectively absorbs and suppresses the resonant leakage. The Si MEMS package for CPW MMICs has an insertion loss of only - 2.0 ㏈ and a power loss of - 7.5 ㏈ at 40 ㎓.
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Maskless lithography 응용을 위한 마이크로렌즈 어레이 개발
남민우,오해관,김근영,서현우,위창현,송요탁,양상식,이기근,Nam, Min-Woo,Oh, Hae-Kwan,Kim, Geun-Young,Seo, Hyun-Woo,Wei, Chang-Hyun,Song, Yo-Tak,Yang, Sang-Sik,Lee, Kee-Keun 한국마이크로전자및패키징학회 2009 마이크로전자 및 패키징학회지 Vol.16 No.4
마스크리스 리소그래피(maskless lithography)에 응용하기 위한 마이크로렌즈 어레이(microlens array, MLA)가 석영의 습식 식각과 UV 접착제(UV adhesive)의 코팅을 바탕으로 개발되었다. 제작된 MLA의 초점거리는 ${\sim}45\;{\mu}m$ 정도였으며, 집광되는 광선의 초점은 ${\sim}1\;{\mu}m$로 측정되었다. MLA를 통과하며 초점을 맺은 빔(beam)의 크기 및 세기가 charge coupled device (CCD) 카메라와 빔 프로파일러(beam profiler)를 이용하여 각각 측정되었으며, 일정한 세기의 점들이 초점면에서 고르게 관찰되었다. 초점거리는 코팅된 UV 접착제의 두께에 따라 변화하였으며, UV 접착제의 두께가 두꺼울수록 짧아지는 경향을 보였다. 일반적인 마스크 얼라이너(mask aligner)를 이용한 MLA의 UV 포커싱(UV focusing)이 감광막(photoresist, PR) 상에서 실시되었으며, MLA를 통과한 빛이 감광막 위에 일정하게 집광되었다. 마스크 얼라이너와 MLA 사이의 거리 변화에 따라 감광막에 구현된 패턴 사이즈가 조절 되었다. 고온에서 오랜 시간이 지난 후에도 소자의 특성은 전혀 변함이 없었다. A microlens array (MLA) was developed based on the wet-etched quartz substrate and coating of UV adhesive on the substrate for maskless lithography application. The developed MLA has the focal length of ${\sim}45\;{\mu}m$ and the spot size of ${\sim}1\;{\mu}m$. The spot size of the focused beam passing through the MLA was detected by CCD camera, and its intensity was monitored by beam profiler. Uniform spots with nearly identical intensities were observed on the focal plane when a beam passes through the fabricated MLA. The focal length was varied depending on thickness of the coated UV adhesive. The thicker the thickness of the UV adhesive was, the shorter the focal length of the MLA was. With a general mask aligner, UV beam focusing was tested onto photoresist (PR). The beams were well focused onto PR when UV passes through the MLA. Depending on the variable distances from the MLA, beam sizes onto PR were controlled. Even at high temperature for a long time, the performances of the MLA were not changed.
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MLA(Micro Lens Array) 제작을 위한 광학 시뮬레이션
오해관(Haekwan Oh),서현우(Hyunwoo Seo),김근영(Geunyoung Kim),위창현(Changhyun Wei),송요탁(Yotak Song),이기근(Keekeun Lee),양상식(Sang Sik Yang) 대한전기학회 2009 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2009 No.7
This paper presents the simulation of micro-lens arrays based on dry and wet etching technique. Code V (Optical Research Associates Ltd) simulation was performed to extract optimal design parameters of a Micro-Lens Array(MLA). Thickness of UV adhesive, wavelength of laser source, curvature, and shape of lens surface were chosen for the design parameters. The simulation results showed that focal length of a MLA decreased with the increase of UV adhesive thickness. And the focal length depended on shape of lens surface and length of laser source.
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서현우,남민우,오해관,안효찬,김태준,위창현,이기근,양상식,송요탁 한국반도체디스플레이기술학회 2011 반도체디스플레이기술학회지 Vol.10 No.1
This paper presents light transmission efficiency by optical adhesive thickness between MLA and aperture layer and by aperture hole size. The gap between MLA and Aperture layer is adjusted by the shim. The more optical adhesive thickness increases, the better light transmission efficiency increases up to a point. After that, the light transmission efficiency decreases because stray lights cannot transmit through the aperture layer owing to cut-off by aperture layer. And as a result of light transmission efficiency with changing aperture hole size, the light transmission efficiency is proportional to area of aperture hole. The more specified process is made, the better data and sample will be got.
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