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패턴 테스트 가능한 NAND-형 플래시 메모리 내장 자체 테스트
황필주(Phil-Joo Hwang),김태환(Tae-Hwan Kim),김진완(Jin-Wan Kim),장훈(Hoon Chang) 대한전자공학회 2013 전자공학회논문지 Vol.50 No.6
메모리반도체산업이 성장함에 따라 수요와 공급이 큰 폭으로 증가하고 있다. 그 중 플래시 메모리가 스마트폰, 테블릿PC, SoC(System on Chip)산업에 많이 사용되고 있다. 플래시 메모리는 NOR-형 플래시 메모리와 NAND-형 플래시 메모리로 나뉜다. NOR-형 플래시 메모리는 BIST(Built-In Self Test), BISR(Built-In Self Repair), BIRA(Built-In Redundancy Analysis)등 많은 연구가 진행되었지만 NAND-형 플래시 메모리 BIST는 연구가 진행되지 않았다. 현재 NAND-형 플래시 메모리 패턴테스트는 고가의 외부 테스트 장비를 사용하여 테스트를 수행하고 있다. NAND-형 플래시 메모리에서는 블록단위로 소거, 페이지 단위로 읽기, 쓰기 동작이 가능하기 때문에 자체 내장 테스트가 존재하지 않고 외부장비에 의존하고 있다. 고가의 외부패턴 테스트 장비에 의존해서 테스트를 수행하던 NAND-형 플래시 메모리를 외부 패턴 테스트 장비 없이 패턴 테스트를 수행할 수 있도록 두 가지의 유한 상태 머신 기반 구조를 갖고 있는 BIST를 제안한다. The demand and the supply are increasing sharply in accordance with the growth of the Memory Semiconductor Industry. The Flash Memory above all is being utilized substantially in the Industry of smart phone, the tablet PC and the System on Chip (SoC). The Flash Memory is divided into the NOR-type Flash Memory and the NAND-type Flash Memory. A lot of study such as the Built-In Self Test (BIST), the Built-In Self Repair (BISR) and the Built-In Redundancy Analysis (BIRA), etc. has been progressed in the NOR-type fash Memory, the study for the Built-In Self Test of the NAND-type Flash Memory has not been progressed. At present, the pattern test of the NAND-type Flash Memory is being carried out using the outside test equipment of high price. The NAND-type Flash Memory is being depended on the outside equipment as there is no Built-In Self Test since the erasure of block unit, the reading and writing of page unit are possible in the NAND-type Flash Memory. The Built-In Self Test equipped with 2 kinds of finite state machine based structure is proposed, so as to carry out the pattern test without the outside pattern test equipment from the NAND-type Flash Memory which carried out the test dependant on the outside pattern test equipment of high price.
블루투스 기저대역을 위한 상관기와 액세스 코드 생성 모듈의 설계
황선원,이상훈,신위재,Hwang Sun-Won,Lee Sang-Hoon,Shin Wee-Jae 한국융합신호처리학회 2005 융합신호처리학회 논문지 (JISPS) Vol.6 No.4
본 논문에서는 블루투스 기저대역에 적용하기 위한 상관기와 액세스 코드 생성모듈의 설계에 대해 다룬다. 상관기와 액세스 코드 생성 모듈은 블루투스 유닛 사이의 연결설정과 패킷판별, 클록 동기화를 수행한다. 상관기 모듈은 1Mb/s 전송속도를 가지는 입력신호에 대해 슬라이딩 윈도우 상관을 취하여 유용한 패킷판별과 클록 동기화를 행하며, 그 구성은 Wallace tree 구조의 CSA(Carry Save Adder)와 임계 값 판별기로 구성된다. 액세스 코드 생성모듈은 블루투스 표준안에서 제시한 4단계의 생성과정에 따라 설계하였으며 BCH(Bose-Chadhuri-Hocquenghem)순회 부호기(cyclic code)와 제어장치로 구성된다. 의사 랜덤 시퀀스는 동기화 문제를 해결하기 위해 임의의 저장장치에 저장된 형태로 사용하였다. 본 논문에서 제시한 상관기와 액세스 코드 생성모듈은 하드웨어 묘사언어인 VHDL로 설계되었으며 시뮬레이션 및 테스트를 위해 Xilinx FPGA를 사용하여 검증하였다. 설계된 회로의 합성결과는 치대 4.689ns의 임계지연과 최대 7-bit까지의 상관허용 오차를 보여준다. We describe the design for a correlator and an access code generator in bluetooth system. These are used for a connection setting, a packet decision and a clock synchronization between Bluetooth units. The correlator consists of two blocks; carry save adder based on Wallace tree and threshold-value decision block. It determines on an useful packet and clock-synchronization for input signal of 1.0Mbps through the sliding-window correlating. The access-code generator also consists of two blocks; BCH(Bose-Chadhuri-Hocquenghem) cyclic encoder and control block. It generates the access-codes according to four steps' generation process based on Bluetooth standard. In order to solve synchronization problem, we make use of any memory as a pseudo random sequence. The proposed correlator and access-code generator were coded with VHDL. An FPGA Implementation of these modules and the simulation results are proved by Xilinx chip. The critical delay and correlative margin based on synthesis show the 4.689ns and the allowable correlation-error up to 7-bit.
심층 강화학습 기반 무선 전력 통신네트워크를 위한 분산 자원할당 최적화
황상원(Sangwon Hwang),이훈(Hoon Lee),이인규(Inkyu Lee) 한국통신학회 2021 한국통신학회 학술대회논문집 Vol.2021 No.2
본 논문은 무선 전력 통신네트워크에서 합 전송률을 최대화하기 위한 분산 자원 할당 최적화 연구를 진행하였다. 심층 강화학습 기법을 활용하여 기존의 중앙 처리 방식 기법에 의존하여 전역 정보가 필요한 최적화 기법과 달리 각 H-AP 가 해당 셀의 지역 정보만 이용하여 분산적으로 작동하게 하는 알고리즘을 제시하고, 실험 결과를 통해 제안한 기법의 성능을 확인하였다.
황환웅,윤지훈,Hwang, Hwanwoong,Yun, Ji-Hoon 한국전기전자학회 2018 전기전자학회논문지 Vol.22 No.3
IEEE 802.11 무선랜은 20MHz부터 160MHz의 전송 대역폭을 지원한다. 일반적으로 전송 시 대역폭이 증가함에 따라 전송속도가 증가하지만, 동시에 단위 주파수당 전송파워가 낮아져 오류율이 증가하고 재전송을 유발할 수 있다. 본 논문에서는 이러한 현상이 전송 에너지 소비에 미치는 영향을 분석하기 위한 수학적 모델링을 수행한다. 그리고, 이를 바탕으로 전송 대역폭을 결정하는 기법을 제시한다. 제시된 기법은 기존 전송 결과를 기반으로 대역폭별 오류율을 추정하고 이를 바탕으로 대역폭별 에너지 소비 테이블을 업데이트 후 이들 간의 비교를 통해 최적 대역폭을 결정한다. VoIP 트래픽을 가정한 시뮬레이션을 통해 다양한 환경에서 제안한 기법의 에너지 소비 성능을 평가한다. IEEE 802.11 wireless LANs support 20, 40, 80 and 160MHz bandwidth transmission. In general, the data rate increases as the transmission bandwidth increases. However, the transmission power spectral density decreases, which may lead to increasing packet errors and retransmissions. In this paper, we derive a mathematical model of energy consumption with consideration of various factors such as transmission bandwidth, packet error rate and data size. Based on the model, we design a scheme to adapt a transmission bandwidth for each frame transmission. The scheme estimates packet error rates for different bandwidth cases, updates the table of energy consumption and selects the best bandwidth for the next transmission. The simulation study with VoIP traffic shows the energy consumption of the scheme under various environments.