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장진범(Jin beum Jang),임영상(Young sang Lim),유일환(Ile hwan Yoo),황동연(Dong yeon Hwang),민경하(Kyung ha Min) 한국컴퓨터게임학회 2013 한국컴퓨터게임학회논문지 Vol.26 No.4
We present a palm recognition system that can be used for developing an interactive amusement including game contents. The first step of our system is to capture palm photographs using web camera and to extract hand region using YCbCr color transformation and the active contour model. In the second, we build a template that formulates the conditions for recognizing palm lines. We apply Hough transform to the hand region to extract line information and match the extracted lines with the template to recognize palm lines. We further build a series of fortunetelling stories that match the shape and organization of palm lines to complete the amusement system based on palm recognition.
산업용 다관절 로봇에 장착된 정밀 감속기 수명시험법에 관한 연구
장진(Jin Jang),유승진(Seung-Jin Yoo),이정훈(Jeong-Hoon Lee),김광민(Kwang-Min Kim),박종원(Jong-Won Park) 대한기계학회 2021 대한기계학회 춘추학술대회 Vol.2021 No.4
산업용 로봇에 활용되는 정밀감속기는 높은 감속비와 정밀도, 강성 등의 성능을 작고 가벼운 하드웨어에 담아내야 하는 한편 고장 시 로봇이 참여하는 전체 공정의 불량과 다운 타임이 발생하기 때문에 해당 성능을 지속할 수 있는 수명이 예상 가능해야 한다. 감속기 제조사는 부품 단위 시험결과를 바탕으로 보증 수명을 제시하지만 로봇 제조사는 로봇에 조립한 상태로 수행하는 시스템 수준의 수명 시험을 선호한다. 시험 장비의 구성에 따라 스트레스 수준(속도와 부하 토크)을 자유롭게 설정하고 측정할 수 있는 부품 단위의 시험과 달리 시스템 수준의 시험에서 각 관절의 토크는 타 관절의 움직임에 영향을 받아 시험 모드를 만드는 것이 매우 복잡하고 감속기의 출력 토크를 직접 측정할 수 없다는 한계가 있다. 더욱이 서보모터의 용량이 시스템에 최적화되어 있어 가속시험의 개념을 적용할 수 없는 것도 신뢰성 시험 측면에서 제약조건이다. 본 연구에서는 정밀감속기를 산업용 다축 로봇에 장착하여 수명시험을 진행함에 있어 각 감속기의 스트레스 수준을 계산하고 시험 모드를 만드는 반복적인 과정에 대해 설명한다. 또한 시험시간의 제약을 극복하기 위한 열화 판별법 등에 대해 고찰하고 실제 고장사례에 대해 고장 신호 분석 결과를 제시한다. Precision reducers used in industrial robots must contain performance such as high reduction ratio, high precision, and stiffness, etc., in small and light hardware. At the same time, failure will cause excessive loss to the entire process which the robot participates in, so it is important to be able to predict how long the reducers can sustain their performance. The precision reducer manufacturer provides a guaranteed life based on the test result of the reduction gear unit, but the robot manufacturer prefers a system-level life test performed in the state of being assembled on the robot. Unlike part-level tests where stress levels (speed and load torque) can be freely set and measured, in system-level tests, torque at each joint is influenced by movement of other joints, making test mode is very complicated and the output torque of the reducer cannot be measured directly. Moreover, it is also a constraint in terms of reliability testing that an accelerated test cannot be applied because the capacity of the servo motor is optimized for the system. In this study, the iterative process of calculating the stress level of each reducer and creating a test mode in the system level test by mounting a precision reducer on an industrial multi-axis robot is explained. In addition, the methods of determining deterioration are considered to overcome the limitations of test time and the results of failure signal analysis for actual failure cases are presented.
SPICE를 사용한 다결정 실리콘 TFT-LCD 화소의 전기적 특성 시뮬레이션 방법의 체계화
손명식,유재일,심성륭,장진,유건호,Son, Myung-Sik,Ryu, Jae-Il,Shim, Seong-Yung,Jang, Jin,Yoo Keon-Ho 대한전자공학회 2001 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.38 No.12
복잡한 thin film transistor-liquid crystal display (TFT-LCD) array 회로의 전기적 특성을 분석하기 위해서는 PSPICE나 AIM-SPICE와 같은 회로 시뮬레이터를 사용하는 것이 필수적이다. 본 논문에서는 SPICE 시뮬레이션을 위한 다결정 실리콘 (poly-Si) TFT 소자의 입력 변수 추출을 체계화하는 방법을 도입한다. 이 방법을 excimer laser annealing 및 silicide mediated crystallization 방법으로 각각 제작된 다결정 실리콘 TFT 소자에 적용하여 실험 결과와 잘 일치하는 결과를 얻었다. SPICE 시뮬레이터 중에서 PSPICE는 graphic user interface(GUI) 방식의 편의성을 제공하므로 손쉽게 복잡한 회로를 구성할 수가 있다는 장점이 있으나, poly-Si TFT 소자 모델을 가지고 있지 않다. 이 연구에서는 PSPICE에 다결정 실리콘 TFT 소자 모델을 이식하고, TFT가 이식된 PSPICE를 사용하여 poly-Si TFT-LCD 단위 화소 및 라인 RC 지연을 고려한 화소에 대한 전기적 특성을 분석하였다. 이러한 결과는 TFT-LCD 어레이 특성 분석을 위한 시뮬레이션을 효율적으로 수행하는데 기여할 수 있을 것으로 기대된다. In order to analyze the electrical characteristics of complicated thin film transistor-liquid crystal display (TFT-LCD) array circuits, it is indispensible to use simulation programs such as PSPICE and AIM-SPICE. In this paper, we present a systematic method of extracting the input parameters of poly-Si TFT for SPICE simulations. This method was applied to two different types of poly-Si TFTs, fabricated by excimer laser annealing and silicide mediated crystallization methods, and yielded good fitting results to experimental data. Among the SPICE simulators, PSPICE has the graphic user interface feature making the composition of complicated circuits easier. We added successfully a poly-Si TFT device model to the PSPICE simulator, and analyzed easily the electrical characteristics of pixels considering the line RC delay. The results of this work would contribute to efficient simulations of poly-Si TFT-LCD arrays.