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시뮬레이션을 이용한 해수 전기분해 기반 CO<sub>2</sub> 포집 및 광물 탄산화 연구
최원용 ( Wonyong Choi ),강동우 ( Dongwoo Kang ),유윤성 ( Yunsung Yoo ),( Cristian Aravena ),박진원 ( Jinwon Park ) 한국폐기물자원순환학회(구 한국폐기물학회) 2020 한국폐기물자원순환학회 추계학술발표논문집 Vol.2020 No.-
국내의 이산화탄소 배출량은 국제에너지기구(IEA, 2017)기준 세계에서 7번째로 높으며, 지속적인 증가 추세에 있으며, 이에 대응하기 위해 이산화탄소 배출 감소 기술인 CCU(carbon capture and utilization) technology의 적용이 고려되고 있다. 보편적인 CCU 습식흡수법에서 사용되는 아민계 흡수제를 통한 CO<sub>2</sub> 포집기술은 운용에 필요한 에너지 요구량이 큰 기술이기에, 효율적이고 경제적인 운용을 위한 개선이 요구되고 있다. 이에 본 연구에서는 정제소금 생산공정 부산물인 해수농축폐수의 전기분해로 인해 생성되는 알칼리 포집전환 용액을 통한 이산화탄소 포집 기술 공정의 경제성을 검증하였다. Matlab 프로그램을 활용하여 전기분해에 필요한 전력량을 계산하였으며, Aspen Plus 프로그램을 통해 흡수탑 공정 및 해수 내 잔존하는 금속이온들과 반응하여 CaCO<sub>3</sub> 및 MgCO<sub>3</sub>를 생성하는 광물탄산화공정의 Simulation을 진행하였다. 또한 Sensitivity Analysis를 통해 최적의 흡수제 및 공정 최적화를 이루는 운전조건을 도출하였으며 이를 바탕으로 해수 기반 이산화탄소 포집 및 광물화 공정의 타당성을 확인하였다.
시뮬레이션을 이용한 해수 전기분해 기반 CO<sub>2</sub> 포집 및 광물 탄산화 연구
최원용 ( Wonyong Choi ),이동욱 ( Dongwook Lee ),장규민 ( Kyumin Jang ),김인준 ( Injun Kim ),유윤성 ( Yunsung Yoo ),강동우 ( Dongwoo Kang ),박진원 ( Jinwon Park ) 한국폐기물자원순환학회(구 한국폐기물학회) 2020 한국폐기물자원순환학회 춘계학술발표논문집 Vol.2020 No.-
최근 온실가스 배출 제어 문제는 세계적인 이슈로 나타나고 있다. 이를 위한 해결책으로 온실가스에서 가장 큰 비중을 차지하는 이산화탄소의 배출을 제어하는 CCU(carbon capture and utilization) 기술이 고려되고 있다. 보편적인 이산화탄소 포집 기술로서는 아민계열 습식 흡수제를 통한 CO<sub>2</sub> 포집이 이루어지고 있지만, 이는 공정 운영에 투입되는 에너지의 요구량이 큰 기술이기 때문에 공정의 효율적이고 경제적인 운영을 위한 개선이 요구되고 있다. 이에 본 연구에서는 해수 전기분해를 통해 생성되는 금속이온들을 이용하여 고순도, 고품질의 금속탄산염을 생산하여 산업원료로 재이용할 수 있는 공정의 경제성을 검증하였다. Aspen Plus 프로그램을 통해 흡수탑 공정으로 이산화탄소를 포집 후 해수를 전기분해하여 발생되는 알칼리 수용액과 금속 이온들을 반응시켜 CaCO<sub>3</sub>, MgCO<sub>3</sub>, NaHCO<sub>3</sub>를 생성하는 공정과, 전기분해를 통해 발생하는 수산화나트륨을 이용하여 이산화탄소를 포집하는 공정의 simulation을 진행하였다. Sensitivity Analysis를 통해 최적의 흡수제 및 공정 최적화를 이루는 운행조건을 도출하였으며 이를 바탕으로 해수 기반 이산화탄소 포집 및 광물화 공정의 타당성을 확인하였다.
Variational AutoEncoder 를 활용한 BGA 결함 탐지
이경민(Gyeongmin Lee),최원용(Wonyong Choi),한기준(Keejun Han) 한국HCI학회 2024 한국HCI학회 학술대회 Vol.2024 No.1
본 연구는 사용자의 사전 파라미터에 의존하는 규칙기반(Rule-Based)의 BGA (Ball Grid Array) 결함 검출 방법의 한계를 극복하기 위해 VAE (Variational AutoEncoder)를 기반으로 한 방법을 제안한다. 기존 BGA 결함 탐지 방법 중 대부분은 규칙 기반 접근방식에 의존하고 있어, 사용자에 의해 사전 설정된 검사 파라미터에 따라 검사의 정확도가 좌우되며 반도체 자재 변경 시 파라미터 재설정이 필수적이다. 이에 본 연구는 검사 파라미터를 사전에 설정할 필요가 없는 VAE 를 활용한 방법을 제안한다. 반도체 결함을 검출하기 위해, 원본 반도체 이미지와 VAE 를 통해 생성된 이미지 간의 코사인 유사도를 이상치 점수로 사용한다. 실험 결과, 제안된 방법이 기존의 규칙 기반 방법에 준하는 높은 성능을 보이는 것을 확인했다. 본 연구에서 제안하는 방법은 검사 파라미터 없이 BGA 결함 탐지가 가능하여 더욱 사용자 친화적인 머신 비전 사용자 인터페이스를 제공한다.