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      • 구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

        박종욱(Jongwook Park),신상훈(Sang-Hoon Shin),박성주(Sungju Park) 한국정보과학회 1999 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.26 No.9

        본 논문에서는 스캔플립프롭 선택 시간이 짧고 높은 고장 검출률(fault coverage)을 얻을 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 순차회로에서 테스트패턴 생성을 용이하게 하기 위하여 완전스캔 및 부분스캔 설계 기술이 널리 이용되고 있다. 스캔 설계로 인한 추가영역을 최소화 하고 최대의 고장 검출률을 목표로 하는 부분스캔 기술은 크게 구조분석과 테스트 가능도(testability)에 의한 설계 기술로 나누어 볼 수 있다. 구조분석에 의한 부분스캔은 짧은 시간에 스캔플립프롭을 선택할 수 있지만 고장 검출률은 낮다. 반면 테스트 가능도에 의한 부분스캔은 구조분석에 의한 부분스캔보다 스캔플립프롭의 선택 시간이 많이 걸리는 단점이 있지만 높은 고장 검출률을 나타낸다. 본 논문에서는 구조분석에 의한 부분스캔과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계 기술의 장단점을 비교 · 분석하여 통합함으로써 스캔플립프롭 선택 시간을 단축하고 고장 검출률을 높일 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 실험결과 대부분의 ISCAS89 벤치마크 회로에서 스캔플립프롭 선택 시간은 현격히 감소하였고 비교적 높은 고장 검출률을 나타내었다. This paper provides a new partial scan design technique which not only reduces the time for selecting scan flip-flops but also improves fault coverage. To simplify the problem of the test pattern generation in the sequential circuits, full scan and partial scan design techniques have been widely adopted The partial scan techniques which aim at minimizing the area overhead while maximizing the fault coverage, can be classified into the techniques based on structural analysis and testabilities In case of the partial scan by structural analysis, it does not take much time to select scan flip-flops, but fault coverage is low. On the other hand, although the partial scan by testabilities generally results in high fault coverage, it requires more time to select scan flip-flops than the former method. In this paper, we analyzed and unified the strengths of the techniques by structural analysis and by testabilities. The new partial scan design technique not only reduces the time for selecting scan flip-flops but also improves fault coverage. Test results demonstrate the remarkable reduction of the time to select the scan flip-flops and high fault coverage in most ISCAS89 benchmark circuits

      • KCI등재

        포스트 코로나 19, 한국-EU의 지속가능한 경쟁정책 협력 전망

        박종욱(Jongwook Park) 한국정치사회연구소 2022 한국과 국제사회 Vol.6 No.3

        유럽 그린 딜 정책은 코로나19 팬데믹 이후 경기침체 회복을 위한 중요 열쇠이자, 유럽의 새로운 성장 전략으로 묘사된다. 그린 딜 정책의 실효성을 제고하기 위해 경쟁정책도 예외가 아니다. 2021년 오스트리아는 유럽회원국 가운데 처음으로 카르텔 금지 예외 규정에 지속가능한 환경적 측면을 반영하였다. 이러한 오스트리아의 환경친화적인 경쟁정책은 유럽 그린 딜 정책과 맞물려 지속가능한 환경 협정에 대한 유럽 경쟁법 집행의 나침반 역할을 할 것으로 기대된다. 한편, 포스트 코로나 시대 지속가능한 성장 전략의 관점에서 EU 회원국이나 우리나라 기업들이 서로 협력하여 환경적 가치를 지닌 시장 행위를 할 가능성이 높다는 점을 고려해 볼 때, 그러한 행위의 경쟁법상 판단을 둘러싼 우리나라와 EU의 경쟁당국 간의 협력도 증가할 것으로 예상된다. 이런 점에서 양 경쟁당국의 경쟁정책 간 충돌을 예방하고, 포스트 코로나 시대 시장경제의 조화 속에서 환경정책의 실효성을 제고하기 위해 오스트리아의 경쟁정책과 같이 우리나라도 지속가능한 경쟁정책의 지평을 확대하는 것이 바람직할 것이다. The purpose of this study is to reveal how environmental policies and competition policies can interact as part of Post-Covid19 era economic policies, and to examine the prospects of cooperation between Korea and the EU with regard to sustainable competition policies. Above all, the Austrian Cartel and Competition Law Amendment Act 2021 can serve as a compass to consistently solve problems regarding sustainable agreements for environmental protection among competition authorities of Korea and the EU without contradiction, so it is significant to observe § 1 of the Austrian Cartel Act based on Article 101 of the Treaty on the Functioning of the European Union(Art. 101 TFEU). The composition of this study is as follows. First, examinations are made on the relationship between environmental policies and competition policies, focusing on environment- friendly competition policies. Next, analysis is conducted on Austria's environment-friendly competition policies. Specifically, analysis is conducted on the general exception of § 2 para 1 of the Austrian Cartel Act. Next, brief reviews are made of the prospects of sustainable competition policy cooperation between Korea and the EU and of how environmental policies can be applied to the Korea Monopoly Regulation Act. Finally, the above contents are summarized and a conclusion is made.

      • 가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계 (pp.610-618)

        박종욱(Jongwook Park),박성주(Sungju Park) 한국정보과학회 1997 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.24 No.6

        DRAM이 Gbit단위로 고밀도 되어 가는 상황에 있어서 다양한 종류의 고장(fault)을 빠른 속도로 점검하는 일은 더욱 더 중요한 문제로 부각되고 있다. Embedded 메모리 테스트를 위하여 Built-In Self Test(BIST) 기술이 널리 사용되고 있지만 고밀도 DRAM 테스트를 위해서는 BIST대신 테스터 장비를 통하여 deterministic하게 생성된 패턴을 이용하고 있다. 메모리 테스트는 일반 논리회로와는 달리 각 고장모델에 따라서 일정한 개수(최소 O(√n)에서 최대 O(n²)의 테스트패턴만이 필요하다. 테스트 장비는 일종의 컴퓨터시스템으로서 다양한 메모리테스트 알고리듬을 프로그래밍한 후 컴파일된 코드를 실행하여 테스트패턴, 번지 및 제어신호를 생생한 후 메모리칩에 주입하는 과정을 반복한다. 본 연구에서는 이러한 고가의 테스트 장비 대신 Weighted Random Pattern Test(WRPT) 생성기 회로의 구현으로 일반적인 메모리 고장을 포함한 Static, Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Fault는 물론 모델링 되지 않는 고장 및 timing 고장 등을 한 번에 점검토록 하는데 목표를 둔다. 기존의 확률에 기인한 분석적인 방법과는 달리 고장시뮬레이션을 통하여 본 연구에서 제시하는 WRPT 생성기가 일반적인 Pseudo Random Pattern Generator(PRPG)보다 더 많은 고장을 점검할 수 있음을 보여준다. It becomes highly important to test various kinds of defect rapidly on a high density DRAM. Although the Built-In Self Test(BIST) technique is widely adopted for the testing of SRAMs embedded within a processor, expensive test equipments producing deterministic test patterns are mostly used to test DRAMs. In general constant number of test patterns(from O(√n) upto O(n²) where 'n' is the size of a memory) are required to test different types of memory faults. A memory test equipment can be considered as a very expensive computer system which compiles different levels of memory test programs and produces the addresses, read/write signal and test patterns. This paper introduces a new Weighted Random Pattern Test(WRPT) generator which can detect not only Static, Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Faults but also non-modelled defects. Without writing various test programs on an expensive tester this simple WRPT circuit can test high density DRAM at real operational speed. It will be shown through a fault simulator that the WRPT can achieve much higher fault coverage than the conventional Pseudo Random Pattern Generator(PRPG).

      • KCI등재

        탄소세 도입의 지역별 및 산업별 영향 분석: 에너지 연소 온실가스 배출량을 중심으로

        박종욱 ( Jongwook Park ) 한국환경경제학회·한국자원경제학회 2024 자원·환경경제연구 Vol.33 No.1

        이 연구는 2019년 지역산업연관표와 지역별 및 산업별 온실가스 배출량을 추정하여 우리나라 온실가스 배출현황 및 탄소중립을 위한 탄소세 부과의 경제적 효과를 지역별 및 산업별로 분석하였다. 분석결과 제조업 중심의 광역자치도에서 온실가스 배출량, 배출계수 및 배출유발계수가 높게 추정되었다. 동일한 산업일지라 하더라도 온실가스 배출계수가 지역에 따라 다른 것으로 나타났는데, 이는 대분류 기준에 따른 상품 분류, 생산기술의 특성, 생산요소 투입구조의 지역별 차이 등에 기인하는 것으로 추정된다. 한편 탄소세가 부과될 경우 온실가스 배출량이 많은 제조업을 중심으로 생산비용이 상승하고 수요 및 생산이 감소할 것으로 예측되었다. 이에 비해 탄소세 부과가 각 지역에 미치는 영향은 지역별로 차이가 상대적으로 크지 않을 것으로 예측되었는데, 이는 지역별로 산업비중이 달라 탄소세 부과가 지역에 미치는 직접적인 영향이 다를지라도 산업연관효과에 의해 그 차이가 완화되기 때문인 것으로 판단된다. 이처럼 탄소세 부과의 영향은 특정 지역에 집중되지 않고 전 지역에 파급될 것으로 예상되는 만큼 향후 탄소중립 이행과정에서 지자체 간의 긴밀한 협조가 필요할 것으로 생각된다. This study estimates the regional input-output table and GHG emissions in 2019 and then analyzes the economic effects of carbon taxes by region and industry in Korea. The GHG emission, emission coefficient, and emission induction coefficient are estimated to be higher in manufacturing-oriented metropolitan provinces. The GHG emission coefficient in the same industry varies from region to region, which might reflect the standard of product classification, characteristics of production technology, and the regional differences in input structure. If a carbon tax is imposed, production costs are expected to increase and demand and production will decrease, especially in the manufacturing industry, which emits more GFG. On the other hand, the impact of carbon taxes on each region is not expected to vary significantly from region to region, which might be due to the fact that those differences are mitigated by industry-related effects. Since the impact of carbon taxes is expected to spread to the entire region, close cooperation between local governments is necessary in the process of implementing carbon neutrality in the future.

      • 구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계

        박종욱(Jongwook Park),박경택(Kyongtek Park),박성주(Sungju Park) 한국정보과학회 1997 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.24 No.2Ⅱ

        순차회로에서 테스트패턴 생성을 용이하게 하기 위하여 완전스캔 및 부분스캔 기술이 널리 이용되고 있다. 스캔설계로 인한 추가영역 및 속도지연을 최소화하고 최대의 고장 점검도를 목표로 하는 부분스캔 기술은 그래프 모델링[1], 테스트 가능도[2], 상위 수준에서의 구조분석[3,4] 등으로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 구조분석에 의한 부분시캔과 테스트 가능도를 이용한 부분스캔 기술을 소개하고 각각의 기술에 의한 실험결과를 비교 · 분석한다. 어떤 순차회로에서는 구조분석에 의한 방법의 점검도가 높고 또 다른 회로에서는 테스트 가능도에 의한 스캔설계가 높은 점검도를 나타냄을 관측하였다. 이러한 두 가지 기술의 장단점을 분석하여 통합함으로써 최상의 고장점검도를 이룰 수 있는 새로운 방법을 제안한다.

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