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김수창(S.C. KIM),김영미(Y.M. KIM),김동익(D.L KIM),김동원(D.W. KIM),김태준(T.J. KIM) 한국정보과학회 1993 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.20 No.1
본 고에서는 정보통신서비스를 위한 통신처리망에서의 운용관리시스템의 구조 및 C-OAM(Center OAM), M-OAM(Mediation OAM)으로 이루어진 계층적 기능과 OSI망관리 기능에 기초한 OAM 응용기능에 대해 설명하고 이러한 운용관리 기능을 원격, 집중관리하기 위한 망관리 프로토콜과 응용서비스모델에 대해 소개하고 실제 서비스망에서의 관리장치 제원규모와 장치 규격을 결정하기 위해 요구되는 소요 제원을 망관리 트래픽을 분석하므로서 산출하였다.
황주호(J. H. Hwang),박천홍(C.H. Park),이찬홍(C.H. Lee),김동익(D.I. Kim),김승우(S.W. Kim) 한국정밀공학회 2004 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 Vol.2004 No.10월
The scanning type XY stage is frequently used these days as precision positioning system in equipment for semiconductor or display element. It is requested higher velocity and more precise accuracy for higher productivity and measuring performance. The position accuracy of general stage is primarily affected by the geometric errors caused by parasitic motion of stage, misalignments such as perpendicular error, and thermal expansion of structure. In the case of scanning type stage, H type frame is usually used as base stage which is driven by two actuators such as linear motor. In the point view of scanning process, the stage is used in moving motion. Therefore, dynamic variation is added as significant position error source with other parasitic motion error. Because the scanning axis is driven by two actuators with two position detectors, 2 dimensional position errors have different characteristic compared to general tacked type XY stage. In this study 2D position error of scanning stage is analyzed by 1D heterodyne interferometer calibrator, which can measure 1D linear position error, straightness error, yaw error and pitch error, and perpendicular error. The 2D position error is evaluated by diagonal measurement (ISO230-6). The yaw error and perpendicular error are compensated on the base stage of scanning axis. And, the horizontal straightness error is compensated by cross axis compensation. And, dynamic motion error in scanning motion is analyzed.
허용민(Y.M. Hur),박동규(D.G. Park),이홍주(H.J. Lee),김동익(D.I. Kim),임인칠(I.C. Lim) 한국정보과학회 1988 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.15 No.2
본 논문에서는 기존의 경로 활성화 방법을 개선하고 이를 이용하여 조합 논리 회로의 stuck-at 고장을 효율적으로 검출할 수 있는 고장 시뮬레이션 방법을 제안한다. 기존의 조합 회로 고장 시뮬레이션 방법은 하나의 테스트 패턴에 대해서 일어날 수 있는 모든 고장을 인가하여 주 출력(Primary Output)까지 전파시켜 시뮬레이션 한다. 그러나 주 출력까지 전달되지 않는 고장에 대해서도 불필요한 시뮬레이션을 해야 하며 이로 인해서 시뮬레이션 시간과 메모리의 낭비를 가져오게 된다. 따라서, 본 논문에서는 회로에 인가하는 하나의 테스트 패턴에 대해 그 테스트 패턴이 검출할 수 있는 고장만을 시뮬레이션 하는 고장 시뮬레이션 방법을 제안하고 또한, fanout이 일어나는 신호선부터 고장 시뮬레이션을 수행함으로써 경로 활성화 방법이 갖고 있는 fanout 신호선의 stuck-at 고장을 효율적으로 검출하게 함으로써 시뮬레이션의 속도를 개선시킨다.