Efficient Parallel Scan Test Technique for Cores on AMBA-based SoC

Song, Jaehoon,Jung, Jihun,Kim, Dooyoung,Park, Sungju The Institute of Electronics and Information Engin 2014 Journal of semiconductor technology and science Vol.14 No.3

Today's System-on-a-Chip (SoC) is designed with reusable IP cores to meet short time-to-market requirements. However, the increasing cost of testing becomes a big burden in manufacturing a highly integrated SoC. In this paper, an efficient parallel scan test technique is introduced to minimize the test application time. Multiple scan enable signals are adopted to implement scan architecture to achieve optimal test application time for the test patterns scheduled for concurrent scan test. Experimental results show that testing times are considerably reduced with little area overhead.

Nanostructured Electron-Selective Interlayer for Efficient Inverted Organic Solar Cells

Song, Jiyun,Lim, Jaehoon,Lee, Donggu,Thambidurai, M.,Kim, Jun Young,Park, Myeongjin,Song, Hyung-Jun,Lee, Seonghoon,Char, Kookheon,Lee, Changhee American Chemical Society 2015 ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES Vol.7 No.33

<P>We report a unique nanostructured electron-selective interlayer comprising of In-doped ZnO (ZnO:In) and vertically aligned CdSe tetrapods (TPs) for inverted polymer:fullerene bulkheterojunction (BHJ) solar cells. With dimension-controlled CdSe TPs, the direct inorganic electron transport pathway is provided, resulting in the improvement of the short circuit current and fill factor of devices. We demonstrate that the enhancement is attributed to the roles of CdSe TPs that reduce the recombination losses between the active layer and buffer layer, improve the hole-blocking as well as electron-transporting properties, and simultaneously improve charge collection characteristics. As a result, the power conversion efficiency of PTB7:PC<SUB>70</SUB>BM based solar cell with nanostructured CdSe TPs increases to 7.55%. We expect this approach can be extended to a general platform for improving charge extraction in organic solar cells.</P><P><B>Graphic Abstract</B> <IMG SRC='http://pubs.acs.org/appl/literatum/publisher/achs/journals/content/aamick/2015/aamick.2015.7.issue-33/acsami.5b04624/production/images/medium/am-2015-04624q_0005.gif'></P><P><A href='http://pubs.acs.org/doi/suppl/10.1021/am5b04624'>ACS Electronic Supporting Info</A></P>

Efficient Parallel Scan Test Technique for Cores on AMBA-based SoC

Jaehoon Song,Jihun Jung,Dooyoung Kim,Sungju Park 대한전자공학회 2014 Journal of semiconductor technology and science Vol.14 No.3

Today’s System-on-a-Chip (SoC) is designed with reusable IP cores to meet short time-tomarket requirements. However, the increasing cost of testing becomes a big burden in manufacturing a highly integrated SoC. In this paper, an efficient parallel scan test technique is introduced to minimize the test application time. Multiple scan enable signals are adopted to implement scan architecture to achieve optimal test application time for the test patterns scheduled for concurrent scan test. Experimental results show that testing times are considerably reduced with little area overhead.

An Efficient Technique to Protect AES Secret Key from Scan Test Channel Attacks

Jaehoon Song,Taejin Jung,Jihun Jung,Sungju Park 대한전자공학회 2012 Journal of semiconductor technology and science Vol.12 No.3

Scan techniques are almost mandatorily adopted in designing current System-on-a-Chip (SoC) to enhance testability, but inadvertently secret keys can be stolen through the scan test channels of crypto SoCs. An efficient scan design technique is proposed in this paper to protect the secret key of an Advanced Encryption Standard (AES) core embedded in an SoC. A new instruction is added to IEEE 1149.1 boundary scan to use a fake key instead of user key, in which the fake key is chosen with meticulous care to improve the testability as well. Our approach can be implemented as user defined logic with conventional boundary scan design, hence no modification is necessary to any crypto IP core. Conformance to the IEEE 1149.1 standards is completely preserved while yielding better performance of area, power, and fault coverage with highly robust protection of the secret user key.

An Efficient SoC Test Technique by Reusing On/Off-Chip Bus Bridge

Jaehoon Song,Hyunbean Yi,Juhee Han,Sungju Park IEEE 2009 IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regul Vol.56 No.3

<P>Today's system-on-a-chip (SoC) is designed with reusable intellectual property cores to meet short time-to-market requirements. However, the increasing cost of testing becomes a big burden in manufacturing a highly integrated SoC. In this paper, an efficiently testable design technique is introduced for an SoC with an on/off-chip bus bridge for the on-chip advanced high-performance bus and off-chip peripheral-component-interconnect bus. The bridge is exploited by maximally reusing the bridge function to achieve efficient functional and structural testing. The testing time can be significantly reduced by increasing the number of test channels and shortening the test-control protocols. Experimental results show that area overhead and testing times are considerably reduced in both functional- and structural-test modes. The proposed technique can be extended to the other types of on/off-chip bus bridges.</P>

스캔 기반 사이드 채널 공격에 대한 새로운 AES 코아 키 보호 기술

송재훈(Jaehoon Song),정태진(Taejin Jung),박성주(Sungju Park) 한국정보과학회 2009 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.36 No.1

This paper presents a new secure scan design technique to protect secret key from scan-based side channel attack for an Advanced Encryption Standard(AES) core embedded on an System-on-a-Chip(SoC). Our proposed secure scan design technique can be applied to crypto IP core which is optimized for applications without the IP core modification. The IEEE1149.1 standard is kept, and low area and power consumption overheads and high fault coverage can be achieved compared to the existing methods. 본 논문은 Advanced Encryption Standard(AES) 암호화 코아가 내장된 System-on-a-Chip(SoC)의 스캔 기반 사이드 채널 공격에 의해 발생될 수 있는 비밀 키 정보 누출 방지를 위한 효과적인 시큐어 스캔 기술을 제안한다. 본 논문에서 제안하는 시큐어 스캔 설계 기술은 어플리케이션에 최적화 되어있는 암호화 IP 코아를 수정하지 않고 적용을 할 수 있다. 또한 SoC 상의 IEEE1149.1 제어기 표준을 유지하며 기존 방식보다 적은 면적 오버헤드와 전력 소모 및 높은 고장 검출율을 갖는 기술을 제안한다.

효율적인 SoC 테스트를 위한 온/오프-칩 버스 브리지 활용기술에 대한 연구

송재훈(Jaehoon Song),한주희(Juhee Han),김병진(Byeongjin Kim),정혜란(Hyeran Jeong),박성주(Sungju Park) 대한전자공학회 2008 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.45 No.4

오늘날의 시스템-온-칩(SoC)은 짧은 제품 생산 주기를 맞추기 위하여 재사용 가능한 IP 코아들을 이용하여 설계한다. 그러나 고집적 칩을 생산하는데 있어 증가한 칩의 테스트 비용은 큰 문제가 된다. 본 논문에서는 Advanced High-performance Bus(AHB)와 Peripheral Component Interconnect(PCI) 버스를 위한 온/오프-칩 버스 브리지를 이용한 효율적인 테스트 접근메커니즘을 제시한다. 본 기술은 독립적인 테스트 입력 경로와 출력 경로를 제공하고 버스 방향 전환을 위한 턴어라운드 지연시간을 없앰으로써 테스트 시간을 매우 줄였다. 실험 결과는 면적 오버헤드와 기능적 구조적 테스트 모두 에서의 시간이 줄어들었음을 보여준다. 제안하는 기술은 다른 종류의 온/오프-칩 버스 브리지에도 적용 가능하다. Today’s System-on-a-Chip (SoC) is designed with reusable IP cores to meet short time-to-market requirements. However, the increasing cost of testing becomes a big burden in manufacturing a highly integrated SoC. In this paper, we propose an efficient test access mechanism that exploits an on/off-chip bus bridge for the Advanced High-performance Bus (AHB) and Peripheral Component Interconnect (PCI) bus. The test application time is considerably reduced by providing dedicated test stimuli input paths and response output paths, and by excluding the bus direction turnaround delays. Experimental results show that area overhead and testing times are considerably reduced in both functional and structural test modes. The proposed technique can be applied to the other types of on/off-chip bus bridges.

건축물의 철근 인프라를 이용한 하우징 스틸 매쉬 기반 IoT 구조 검토 연구

송재훈(Jaehoon Song),황병준(Byungjoon Hwang),박천일(Park, Cheon-Il),조주필(Juphil Cho) 한국통신학회 2021 한국통신학회 학술대회논문집 Vol.2021 No.11

하우징의 건축 공사의 가장 기본이 되는 공사가 기초공사인데, 기초공사나 건축물과 연계된 도로공사 등에 있어서 가장 중요한 건축자재 중의 하나가 철근이라고 할수 있다. 이러한 철근은 매설하기 전에 건축 설계도면에 맞춰서 절단, 구부럼짐, 결속선에 의한 철근 결속등의 과정을 거친다. 결속과 배치가 완료된 철근은 마치 그물망과 같은 메쉬(mesh netwo가)구조를 가지면서 건축물의 기초영역에서 가장 골고루 분포하고 있으면서 다양한 형태로 가공도 용이한 통신선로용 도체로 간주될수 있다. 본 연구에서는 다양한 형태로 절단되고, 가공이 용이한 건축물용 철근을 이용하여 하우징에 적용할수 있는 통신망으로서의 활용성을 검토해 본다, 특히 건축물용 주요소재인 철근의 경우에는 하우징에 매설되거나 배치되어 영구적으로 이용되므로 다양한 센서들과 연계된다면 하우징 메쉬 통신 인프라로서 IoT구조를 검토하고 제시해 본다.

AMBA 기반 SoC의 병렬 코어 테스트를 위한 효과적인 테스트 설계 기술

송재훈(Jaehoon Song),오정섭(Jungsub Oh),박성주(Sungju Park) 大韓電子工學會 2011 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.48 No.2

본 논문에서는 AMBA 기반 SoC의 코어 테스트 시간을 최소화 하는 것을 목표로 한다. 이를 위하여 테스트 대상 코어에 대해 병렬로 테스트를 수행하며 AMBA를 TAM으로 재사용 하는데 있어서 필요한 기술을 제안한다. 기능 테스트시의 AMBA버스 제어를 위해 설계 된 TIC를 구조적 테스트 시의 제어에 재활용 하여 병렬 테스트의 제어에 필요한 추가 로직을 최소화 하였으며, 기능적 테스트를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 구조적 테스트 시 병렬 테스트를 수행 할 수 있어서 SoC의 신뢰성 확보와 테스트 시간 단축에 기여 할 수 있다. The goal of this paper is reducing the test time for AMBA-based SoC. To achieve this goal, the design technique that can test several cores concurrently by reusing AMBA as TAM is proposed. The additional control logic for structural parallel core test is minimized by reusing TIC which is originally used for functional test of AMBA. SoC reliability and test time reduction can be significantly achieved with the concurrent core test technique as well as functional test.

중국기업의 국제화에 관한 탐색적 연구 - 하이얼그룹 사례를 중심으로 -

송재훈 ( Jaehoon Song ) 아시아.유럽미래학회 2013 유라시아연구 Vol.10 No.4

중국의 개혁·개방정책은 대내적으로는 낙후된 경제의 견인이라는 측면과 더불어 대외개방차원에서 중국기업에 대한 국제화의 문을 여는 전환점이 되었다. 중국기업 국제화의 제1기는 1980년부터 시작 되었고 당시 兩頭在外라는 방식을 통해 초기단계의 중국기업 국제화가 이루어 졌다. 이와 같은 국제화 과정의 초기형태는 중국기업이 의도적으로 혹은 능동적으로 시장을 개척한 것이 아니라 중국정부의 지원과 견인이라는 여러 가지의 형태를 통해 이루어진 결과로 볼 수 있다. 따라서 능동적으로 국외시장을 개척하려는 노력이 부족한 상황 하에서 당시 기업의 국제화 수준은 매우 낮을 수밖에 없었다. 그러나 90년대 중반에 이르러 중국 국내 경제발전과 규모의 확대에 따라 공급자 중심의 시장이 수요자 및 소비자중심의 시장으로 전환되었다. 이로 인해 국내시장의 경쟁이 치열해 졌고 기업의 이윤이 점점 줄어드는 상황에 직면하자 대다수의 중국기업은 눈길을 해외로 돌리기 시작하였다. 특히 기업 국제화의 제2기는 중국이 WTO에 가입한 2001년 이후로 볼 수 있으며, 많은 외국 기업들이 앞 다투어 중국시장에 진출하기 시작하였고, 이로 인해 경쟁압력의 부담이 갈수록 커진 중국기업은 정부의 走出去정책에 의해 부득이 해외시장에로 눈길을 돌려야만 했다. 제3기는 2000년대 후반 G2국가로 부상한 중국이 막강한 자본력을 바탕으로 국가 간의 장벽을 넘은 인수·합병의 전략을 통해 중국기업들이 글로벌시장에서 중요한 역할을 시작한 시기로 볼 수 있다. 그러나 이러한 중국기업의 국제화는 중국경제나 기업의 향 후 발전방향을 의미하지만 기업이 국제화 과정에서 겪는 국제표준(Global Standard)이나 브랜드, 양질의 인적자원 부족 등과 같은 많은 문제와 어려움으로 인해 결코 낙관적으로만 평가 할 수는 없다. 따라서 본 연구에서는 이와 같은 현실상황에 기초해 기업의 국제화과정과 관련한 여러 이론을 중심으로 중국기업의 국제화 과정을 살펴보았고, 그 과정에서 나타나는 문제점과 항 후 과제 등을 찾아보았다. 그리고 중국의 대표적인 국제화 성공 모델인 Haier그룹을 대상으로 사례연구를 통해 해외시장 진출 전후의 경영기법과 국제화의 과정 및 성공요인을 도출해 보았다. 특히 Haier의 경우 향후 해외시장에서 성공적인 진출을 위해 Haier은 지금보다 고급화, 고품질을 강조하며 차별화된 마케팅으로 기업의 이미지를 제고해야 할 필요가 있다고 보여 진다. 또한 다양한 서비스와 판촉활동을 하여 틈새시장을 공략해야 할 필요가 있으며, 지금까지 선진국에서 쌓은 경험과 다양하고 세계적이고 지역적 특색에 맞는 마케팅을 전략적으로 잘 활용해야 할 필요가 있다. Haier의 성공은 그동안 ‘중국은 세계의 공장일 뿐’ 이라는 우리의 생각을 뒤엎고 중국에도 우수한 기업과 경영자가 있다는 것을 알려주는 계기가 되었다. 특히 Haier의 강력한 리더십과 경영철학, 부단한 제품개발 노력과 실행, ‘先難候易’의 전략은 우리 기업에게도 시사하는 바가 크다고 할 수 있다. 따라서 본 연구에서는 이러한 내용과 사례를 바탕으로 향후 우리나라 기업들의 국제화 과정이나 대중국 진출과 관련하여 전략 수립 시에 고려해야 할 시사점을 제언해 보았다. Internally, China’s reform and open-door policy both in the terms of the traction of the underdeveloped economy and in terms of openness was a turning point triggering the globalization of Chinese enterprises in the world. The initial stage in globalization of Chinese enterprises had started with Liang tou zai wai(兩頭在外) since 1980. It seemed that this early form of the globalization process by Chinese companies intentionally or actively did not explore the market but result from the support and traction of the Chinese government. Therefore, the level of globalization of enterprises was very low due to insufficient efforts to actively explore overseas markets. However, in the mid-1990s a customer-oriented market emerged from market- oriented one in accordance with the China’s domestic economic development and expansion. As a result, the competition in a domestic market and the company’s profits were shrinking and a majority of Chinese enterprises began to turn an attention abroad. Especially, the second stage in globalization of Chinese enterprises started from the joining of WTO in 2001. Many foreign companies began to enter the Chinese market. So the Chinese enterprises payed attention to overseas markets under increasingly competitive pressures and by a government policy, such as Zou chu qu(走出去). From the third stage in globalization of Chinese enterprises in the late of 2000s when China stood up at G2 with powerful capital, they played an important role in the global market through strategic mergers and acquisitions over the barriers between countries. Though globalization of the Chinese enterprises means a bright future in the Chinese economy and development the compannies, it is not easy to be optimistic in the long term because of such problems as global standard or the brand and the lack of high quality human resources. Analyzing the enterprises’s globalization process theories, the study mainly looked at the problems and challenges of the globalization of Chinese enterprises. And the study will draw upon such successful factors as how the Haier Group, being a China’s leading global company, applies the management techniques of pre and post when going into overseas markets. In addition, we will find implications when Korea sets up strategies for a process of globalization and attempts to advance to Chinese market.