http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
정지용(Jiyong Jung),황준섭(Juhnsub Whang),구미회(MiHoi Koo),오희석(HeeSeok Oh),김호식(Hosik Kim) 한국자동차공학회 2008 한국자동차공학회 춘 추계 학술대회 논문집 Vol.- No.-
Advanced Safety Vehicle(ASV) system have Lane Keeping function and Auto parking function. physical mechanical connections. Unfortunately, these systems in automotive are not only inefficient systems against engine horsepower but hazard sources for driver on the front-end collision and complicate mechanical union. To resolve these problems, this paper presents LH/RH Independent Steer-by- Wire(SBW)system which is controlled by only electronic signals without mechanical connections. In this SBW system, two PMSMs as a Rack Motor and DC motor as a reaction motor are controlled by each independent ECU with information from all sensors.
자바와 XML 상호 분석을 통한 안드로이드 특화 문제점의 정적 분석 방법
정지용(Jiyong Jung),백종문(Jongmoon Baik) 한국정보과학회 2016 정보과학회 컴퓨팅의 실제 논문지 Vol.22 No.8
최근 안드로이드 플랫폼용 스마트 폰이 증가함에 따라 관련 어플리케이션 수도 크게 증가하고 있다. 안드로이드용 어플리케이션은 화면 구성 등을 위해 자바와 XML을 동시에 사용하는데, 이 둘 사이에서 다양한 문제가 많이 발생하고 있지만, 이를 고려한 정적 분석 연구와 도구는 부족하다. 본 논문에서는 자바와 XML 사이에서 발생 할 수 있는 문제점들과 품질 지표들을 살펴보고 이를 정적 분석 기법으로 분석 할 수 있는 방안을 제안하고자 한다. 제안한 방법으로 구글 플레이 스토어의 150개 어플리케이션을 대상으로 실험한 결과 172건의 문제점들과 35건의 성능 저하 이슈들을 발견하였다. 본 연구를 통해 안드로이드용 어플리케이션에 대한 정적 분석 연구와 소프트웨어 품질 향상에 기여하고자 한다. In recent years, as smartphones with Android platforms expand, the number of Android applications increases. Android applications implement Java and XML to compose the user interface, among other things. Between Java and XML, various problems may occur. Nonetheless, static analysis research and tools are not sufficient. In this paper we will list the problems which may occur between Java and XML. Subsequently, we will propose a detection method for them. Using the proposed technique, we found 172 Android-specific problems and 35 performance drop issues in 150 Android applications in the Google Play Store. We would like to contribute to research into static analysis and software quality improvement.
정지용(Jiyong Jung),최지성(Jisung Choi),박정흠(Jungheum Park),이상진(Sangjin Lee) 한국디지털포렌식학회 2019 디지털 포렌식 연구 Vol.13 No.2
macOS는 윈도우 운영체제에 이어 마주할 가능성이 높은 운영체제로 디지털 포렌식에서 중요한 운영체제다. 그러나 macOS의 높은 보안성과 빈번한 운영체제 업데이트는 애플의 PC 제품에 대한 디지털 포렌식 분석을 어렵게 만들고 있다. 또한 기존의 macOS에 대한 디지털 포렌식 연구들은 Log, Plist 등에 기록된 정보에 초점을 맞춰 연구가 진행되어 정보들을 연관지어 분석하는 방법에 대한 연구는 부족한 상황이다. 본 논문에서는 macOS의 최신 버전인 Mojave를 기반으로 디지털 포렌식 분석 시 제한 사항을 도출하고 도출된 사항들로부터 적합한 분석절차를 제안한다. 또한 macOS의 주요 아티팩트 간의 연관성을 분석하고 이를 토대로 분석 방법론을 제안한다. macOS is an operating system that is likely to be encountered following Windows OS and is an important operating system in the digital forensics. But the high security of macOS and frequent operating system updates make it difficult for Apple to analyze digital forensics for its PC products. In addition, traditional macOS digital forensics studies focus on information recorded in Log, Plist, and others, and lack research on how to correlate and analyze information. Based on Mojave, the latest version of macOS, limitations are derived in digital forensics analysis and suitable analysis procedures are proposed from the derived ones. It also analyzes the association between major artifacts in macOS and proposes an analysis methodology based on them.
Growth studies of chromium thin films using real - time spectroscopic ellipsometry
이용달(Yongdal Lee),정지용(Jiyong Jung),방경윤(Kyoungyoon Bang),오혜근(Hyegeun Oh),안일신(Ilsin An) 한국진공학회(ASCT) 1999 Applied Science and Convergence Technology Vol.8 No.3(2)
고속 실시간 분과 엘립소미트리를 이용하여 크롬 박막의 성장을 연구하였다. 이 장비는 1.3 eV에서 4.5 eV에 걸쳐 512개의 {Δ(hV), Ψ(hv)}를 가진 스펙트럼을 20 msec 이하의 속도로 연속하여 측정할 수 있는데, 크롬 박막 성장에 적용하였을 때 박막의 성질뿐만 아니라 공정과정에 관련된 정보까지 얻을 수 있었다. 각기 다른 증착조건에서 증착률 및 광학적 특성의 시간적 변화를 구할 수 있었으며 공정에서 대기 노출로 인한 오염과정을 보여줄 수 있었다. High speed real-time spectroscopic ellipsometry was employed in order to characterize the growth of chromium thin film. This instrument can collect 512 points of {Δ(hv), Ψ(hv)} spectra from 1.3 to 4.5 eV with acquisition and repetition rates of 20 msec or less. When this instrument was integrated into the chromium thin film growth, we could obtain not only the information on film properties but also the details of the processes. We deduced the growth rates and the evolution of the optical properties of chromium thin films under several preparation conditions. We also demonstrated the contamination process of chromium thin films caused by air exposure.