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각분해 X-선 광전자 분광기를 이용한 GaAs 자연 산화막의 분포연구
사승훈,강민구,박형호,오경희,서경수,Sa, Seung-Hun,Gang, Min-Gu,Park, Hyeong-Ho,O, Gyeong-Hui,Seo, Gyeong-Su 한국재료학회 1997 한국재료학회지 Vol.7 No.6
본 연구에서는 비파괴적 분석 기법인 각분해 X-선 광전자 분광기(Angle-Resolved X-ray Photoelectron Spectros-copy)를 이용하여 GaAs 표면 자연 산화막의 깊이에 따른 화학적 결합 상태 및 조성 분석을 수행하였다. GaAs의 벽개면 및 Ar이온으로 식각된 면을 기준시료로 하여 각 원자의 광전자 강도(intensity)를 보정해주는 인자인 ASF(atomic sensitivity factor)의 최적값을 구하였다. 이륙각에 따라 발생되어지는 각 원소의 피이크 분해와 정확한 ASF의 보정을 통한 각 원소의 실험적인 결과를 이용하여 깊이 방향으로의 조성 분포 모델을 세웠으며, 이론적인 강도와의 상호비교로부터 표면 오염층의 구조는 표면으로부터 탄소층, Ga-oxide와 As-oxide로 이루어진 oxides층, As-As결합의 elemental As층 및 GaAs기판의 순으로 존재함을 알 수 있었다. 또한 GaAs 표면에 존재하는 오염층은 35.8$\pm$3.3 $\AA$이었다. 또한 위 결과로부터 분석깊이 영역에서 원자수의 비로써 정의되는 의미로서의 실질조성을 구하였는데 단지 특정 이륙각에 따라 일반적인 ASF로 보정된 표면조성 결과는 표면 상태를 명확히 표현해주지 못함을 확인할 수 있었다.
$({NH_4})_2{S_x}$ 용액 처리된 GaAs의 대기중 노출;GaAs 표면산화기구 및 안정성
강민구,사승훈,박형호,서경수,오경희,이종람,Gang, Min-Gu,Sa, Seung-Hun,Park, Hyeong-Ho,Seo, Gyeong-Su,O, Gyeong-Hui,Lee, Jong-Ram 한국재료학회 1996 한국재료학회지 Vol.6 No.12
고진공하에서 벽개된 GaAs를 대기중 노출시킨후, 결합상태 및 조성의 변화를 정량적으로 연구하여 Ga의 우선적 산화경향 및 결합의 붕괴에 기인한 원소상태 Ga 및 As의 생성을 관찰하였다. 대기중 노출시, 초기 Ga/As 비(=0.01)는 Ga의 우선적 산화에 의해 증가하였으며 원소상태 As의 증가와 더불어 일정값(=1.25)으로 유지되었다. 습식세정된 GaAs와 유황처리된 (S-passivated)GaAs를 각각 대기중에 노출시켜, 각각의 표면상태 변화를 비교, 관찰하였다. 유황처리된 GaAs는 습식세정처리만한 GaAs에 비해 산화막 성장이 크게 억제되었고, 이는 (NH4)2Sx 용액 처리로 형성된 Ga-S 및 As-S 겹합의 표면보호 효과에 기인한 것이다. 특히 대기중 노출에 따른 유황처리된 GaAs 표면조성 및 결합상태 변화의 정량적 관찰을 통하여, 유황보호막(S-passivation layer) 및 GaAs 표면과 대기중 산소와의 반응 기구를 규명할 수 있었다. 대기중 노출에 따라, 표면의 Ga-S 및 As-S 결합은 대기중 산소와 반응하여 점차 붕괴, 감소하는 경향을 나타냈으며, 이와 동시에 unpassivated 상태의 GaAs가 산소와 반응하여 Ga-O 결합을 형성함을 관찰할 수 있었다. 본 연구에서는 X-선 광전자 분광기를 사용하여 GaAs 표면 조성 및 결합상태의 변화를 관찰하였다.
황경진,오종혁,성낙균,류두열,사승훈,박건주,이종곤,이정건,Seung-Hun Sa,Sung-Hung Park,이희덕 한국물리학회 2006 THE JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY Vol.49 No.III
This paper presents the mechanism of junction leakage current for shallow n+/p junctions using a Co-silicide process. An abnormal leakage current occurred for a perimeter intensive diode. The main cause of the increased leakage current is not the formation of a Schottky junction, but the cobaltsilicide- related traps near the junction. Poole-Frenkel barrier lowering predominantly influenced the reverse leakage current, thereby masking the Schottky contact effect. Reverse leakage current can be reduced by using N2 Pre-Amorphization Ion implantation (PAI) before the Co-silicide process for nano-scale CMOS technology. It was revealed that nitrogen atoms can retard the diffusion of cobalt atoms.
송재용 ( Jae Yong Song ),사승훈 ( Seung Hun Sa ),남정우 ( Jung Woo Nam ),김진표 ( Jin Pyo Kim ),박종택 ( Jong Taek Park ) 한국안전학회(구 한국산업안전학회) 2011 한국안전학회지 Vol.26 No.3
This paper studied combustion characteristics of the building materials such as polyurethane-foam, sponge type sound-absorbing materials and styrofoam. To estimate of the combustion characteristics, we carried out combustion experiment of the building materials. And then to evaluate the suitability of the building materials, we measured heat release rate(HRR) and smoke density(Ds) of polyurethane-foam, sponge type sound-absorbing materials and styrofoam using by a cone-calorimeter. From the combustion experimental results, the general type sound-absorbing materials (GSAM) and styrofoam were rapid burned simultaneously with ignition and the incombustibility type sound-absorbing materials(ISAM) and polyurethane-foam had all gone out simultaneously with ignition. Measured results of HRR and Ds were not satisfied KS F ISO 5660-1 and IMO FTP Code, from the results, the polyurethane-foam, the sponge type sound-absorbing material and the styrofoam were ill-suited for using building interior materials.
송재용(Song, Jae-Yong),남정우(Nam, Jung-Woo),사승훈(Sa, Seung-Hun),김진표(Kim, Jin-Pyo) 한국화재소방학회 2011 한국화재소방학회 학술대회 논문집 Vol.2011 No.추계
본 연구에서는 정확한 화재원인 분석 및 사기범죄 여부 확인을 위하여 극초단파를 직접 휴대전화에 조사하고, 이때 발생되는 휴대전화의 손상형태를 분석하였다. 극초단파 조사를 위하여 전자레인지를 이용하였으며, 전자레인지의 마그네트론에서 발생되는 2.45 GHz의 극초단파가 휴대전화에 인가될 때 휴대전화의 손상형태를 분석하였다. 실험 결과, 휴대전화에 극초단파를 조사하는 경우, 조사 시간이 길어짐에 따라 심하게 손상되는 경향을 나타내었으며, 특히, 폴더의 힌지 부분 및 인테나 부분과 같이 금속이 설치되는 부분이 심하게 열변형되는 결과를 나타내었다. 휴대전화의 배터리 부분은 외함이 열변형되는 것 이외에 배터리의 손상이나 폭발 등은 발생되지 않는 것으로 평가되었다.
조영진(Cho, Young-Jin),남정우(Nam, Jung-Woo),배승철(Bae, Seung-Chul),사승훈(Sa, Seung-Hun),최창호(Choi, Chang-Ho),서영일(Seo, Young-Il),송재용(Song, Jae-Young),김진표(Kim, Jin-Pyo) 한국화재소방학회 2012 한국화재소방학회 학술대회 논문집 Vol.2012 No.춘계
국내의 설탕 제조공장에서 발생한 설탕 분진 폭발사고와 관련하여 조사내용을 토대로 분진폭발 원인을 분석하였다. 폭발이 발생한 장소는 제조된 설탕을 저장하는 사이로(Silo) 등이 포함되는 공간으로 설탕 분진이 항상 존재하는 곳이며, 작은 불씨만 있어도 쉽게 폭발로 이어질 수 있는 위험한 장소임을 공장 관계자들은 숙지하고 있었다. 폭발직전 용접작업이 있었음을 현장조사에서 확인할 수 있었으며, 설탕 분진이 폭발할 수 있다는 위험성에 대하여 전혀 알지 못하는 임시 직원이 작업과정에서 용접을 한 것으로 확인되었다. 분진 폭발의 위험성이 존재하는 환경에서 불꽃을 취급한 작업 자체도 부적절했지만, 안전관리 측면에서 설탕 분진의 위험성에 대하여 무지한 임시 직원이 혼자 작업할 수 있도록 용인한 점과 사전에 안전교육이 전혀 없었다는 점이 더욱 문제라고 할 수 있다.
박남규 ( Nam Kyu Park ),김진표 ( Jin Pyo Kim ),남정우 ( Jung Woo Nam ),사승훈 ( Seung Hun Sa ),송재용 ( Jae Yong Song ) 한국안전학회(구 한국산업안전학회) 2015 한국안전학회지 Vol.30 No.4
In this paper, we analyzed the vehicle fire accidents due to damage of vehicle’s electrical components, which is applied to a vehicle. In recent development of electrical components technology, approximately 40% of vehicle manufacturing parts have applied electronic circuit technology. Phenomenon such deterioration of insulating performance or electric breakdown on the vehicle’s electrical components and printed circuit boards(PCBs) resulted from moisture, contamination and aging due to repetitive operations, lead to the vehicle fire. Therefore, the application of electrical components with adequate electric capacity for vehicle and usage of molding techniques using a non-combustible materials to shut off the oxygen should be applied in order to prevent vehicle fire due to damage of the electrical components and PCBs.