여분의 메모리를 이용한 SRAM 재사용 설계 및 검증

심은성,장훈 한국통신학회 2005 韓國通信學會論文誌 Vol.30 No.4

임산부의 영양보충제 복용실태와 건강증진행위에 미치는 요인

심은성,최소영 한국모자보건학회 2019 한국모자보건학회지 Vol.23 No.1

Purpose: The purpose of this study was to identify the relationships among nutritional supplement intake, subjective health status, health control level and health promotion behaviors and to investigate factors affecting health promotion behaviors in pregnant women. Methods: A total of 153 pregnant women was recruited from a university hospital in J city in Korea. Data were collected using self-reported questionnaires. Results: Most participants (91.5%) took nutritional supplements. Health promotion behavior had positive correlations with subjective health status (r=0.313, p<0.001), internal control (r=0.229, p=0.004), powerful others locus of control (r=0.162, p=0.046), and doctors locus of control (r=0.215, p=0.008). There was a negative correlation between health promotion behavior and chance locus of control (r=-0.273, p=0.001). Health status (β=0.25, p=0.001), chance locus of control (β=-0.28, p<0.001), doctors locus of control (β=0.20, p=0.009), and powerful others locus of control (β=0.16, p=0.033) were significant predictors for health promotion behavior. These variables explained 25.8% of the variance in health promotion behavior. Conclusion: The study results indicate that it is necessary to develop a nutrition education program and nursing intervention in order to promote health for pregnant women.

여분의 메모리를 이용한 SRAM 재사용 설계 및 검증

심은성,장훈,Shim Eun sung,Chang Hoon 한국통신학회 2005 韓國通信學會論文誌 Vol.30 No.4A

본 논문에서는 내장된 메모리의 자체 테스트를 통한 메모리 고장 유무 확인과 더불어 메인 메모리의 고장난 부분을 여분의 메모리로 재배치하여 사용자로 하여금 고장난 메모리를 정상적인 메모리처럼 사용할 수 있도록 BISR(Build-In Self Repair) 설계 및 구현을 하였다. 메인 메모리를 블록 단위로 나누어 고장난 셀의 블록 전체를 재배치하는 방법을 사용하였으며, BISR은 BIST(Build-In Self Test) 모듈과 BIRU(Build-In Remapping Unit) 모듈로 구성된다. 실험결과를 통해 고장난 메모리를 여분의 메모리로 대체하여 사용자가 메모리를 사용함에 있어서 투명하게 제공하는 것을 확인 할 수 있다. bIn this paper, built-in self-repair(BISR) is proposed for semiconductor memories. BISR is consisted of BIST(Buit-in self-test) and BIRU(Built-In Remapping Uint). BIST circuits are required not oがy to detect the presence of faults but also to specify their locations for repair. The memory rows are virtually divided into row blocks and reconfiguration is performed at the row block level instead of the traditional row level. According to the experimental result, we can verify algorithm for replacement of faulty cell.

조기진통 임부의 조기진통 스트레스, 불안 및 우울의 관계

심은성,최소영 한국자료분석학회 2016 Journal of the Korean Data Analysis Society Vol.18 No.2

본 연구에서는 조기진통 임부의 조기진통 스트레스, 불안 및 우울과의 관계를 파악하여, 조기진통 임부의 정서적 지지를 위한 간호중재방안의 기초 자료를 제공하고자 본 연구를 시도하게 되었다. 본 연구의 대상자는 2014년 7월 28일부터 2014년 10월 28일까지 J시에 소재한 대학병원에 조기진통으로 입원한 임부 65명을 대상으로 하였으며 자료 분석은 SPSS window program 21.0을 이용하여 기술통계, t-test와 ANOVA 및 Pearson 상관계수를 사용하였다. 대상자의 조기진통 스트레스 정도는 평균 109.98±18.80점, 평균평점은 2.33±.40점으로 나타났다. 대상자의 불안 정도는 평균 67.20±15.36점, 평균 평점 2.80±.64점으로 나타났다. 대상자의 불안정도에 차이는 보인 일반적 특성과 산과적 특성은 성격과 계획된 임신 여부이었다. 대상자의 우울 정도는 평균 19.74±8.53점, 평균 평점 .94±.41점으로 나타났다. 대상자의 우울에 차이를 보인 일반적 특성은 학력, 직업유무 및 성격이었으며 산과적 특성은 결혼 연령, 계획된 임신 여부 및 현재 임신 방법이었다. 본 연구 결과 입원중인 조기진통 임부의 조기진통 스트레스, 불안 및 우울은 양의 상관관계를 보였으며, 조기진통이 높을수록 불안과 우울이 높고, 불안이 높을수록 우울이 높은 것으로 나타났다. 이러한 연구 결과를 바탕으로 조기진통 임부에 대한 조기진통 스트레스, 불안과 우울을 중재할 수 있는 입원 교육 프로그램이 필요할 것으로 판단된다. The purpose of this study was to measure the level of preterm labor stress, anxiety, depression and identify relationship among those variables in pregnant women with preterm labor. Participants were 65 pregnant women who had diagnosed as the preterm labor. The mean score for the preterm labor stress of the subjects was 109.98±18.80. The mean score for the anxiety of the subjects was 67.20±15.36. The mean score for the depression of the subjects was 19.74±8.53. For co-relation among preterm labor stress, anxiety and depression of the subjects, anxiety (r=.558, p<.001) and depression (r=.545, p<.001) showed significant co-relation with preterm labor stress. The anxiety and depression of the subjects (r=.550, p<.001) showed strong co-relation each other. As a result of the present study, preterm labor stress, anxiety and depression of preterm labor women in hospital showed a significant co-relation. Based on these study results, it was necessary hospitalization education program to intervene the anxiety, depression and preterm labor stress for women with preterm labor.

내장 메모리 자가 복구를 위한 여분의 메모리 분석 알고리즘

심은성,장훈 대한전자공학회 2007 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.44 No.2

With the advance of VLSI technology, the capacity and density of memories is rapidly growing. In this paper we proposed reallocation algorithm. All faulty cell of embedded memory is reallocated into the row and column spare memory. This work implements reallocation algorithm and BISR to verify its design. 최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리 사용으로 고장난 메모리를 고장이 없는 메모리처럼 사용할 수 있도록 여분의 메모리 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다.

SRAM 이중-포트를 위한 내장된 메모리 BIST IP 자동생성 시스템 개발

심은성,이정민,이찬영,장훈,Shim Eun-Sung,Lee Jung-Min,Lee Chan-Young,Chang Hoon 대한전자공학회 2005 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.42 No.2

In this paper, we develop the common CAD tool that creates the automatically BIST IP by user settings for the convenient test of embedded memory. Previous tools have defect that when memory model is changed, BIST IP must re-designed depending on memory model because existing tools is limited the widely used algorithms. We develop the tool that is created automatic BIST IP. It applies the algorithm according to the memory model which user requests We usually use the multi-port asynchronous SRAM needless to refresh as the embedded memory. However, This work researches on the dual-port SRAM. 본 논문에서는 내장된 메모리의 테스트를 편리하게 하기 위하여 간단한 사용자 설정에 의해 자동으로 BIST IP를 생성해 내는 범용 CAD 툴을 개발하였다. 기존의 툴들은 널리 사용되고 있는 알고리즘에 국한되어 있어 메모리의 모델이 변하게 되면 다시 메모리 모델에 따라 BIST IP를 설계해야 하는 번거로움이 있었다. 하지만 본 논문에서는 사용자가 원하는 메모리 모델에 따라 알고리즘을 적용해 자동으로 BIST IP를 생성해 주는 툴을 개발하였다. 내장된 메모리로는 리프레쉬가 필요 없는 다중-포트 비동기식 SRAM이 가장 많이 사용되며, 본 연구에서는 이중-포트 SRAM에 대하여 연구 하였다.

플래시 메모리를 이용한 내장 메모리 자가 복구의 재배치 데이타 사용 기술

심은성,장훈 한국정보과학회 2007 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.34 No.8

the advance of VLSI technology, the capacity and density of memories is rapidly growing. In this paper, We proposed a reallocation algorithm for faulty memory part to efficient reallocation with row and column redundant memory. Reallocation information obtained from faulty memory by only every test. Time overhead problem occurs geting reallocation information as every test. To its avoid, one test resulted from reallocation information can save to flash memory. In this paper, reallocation information increases efficiency using flash memory. VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리로 효율적인 재배치를 위해 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다. 재배치 정보는 고장난 메모리를 매번 테스트 해야만 얻을 수 있다. 매번 테스트를 통해 재배치 정보를 얻는 것은 시간적 문제가 발생한다. 이것을 막기 위해 한번 테스트해서 얻은 재배치 정보를 플래시 메모리에 저장해 해결할 수 있다. 본 논문에서는 플래시 메모리를 이용해 재배치 정보의 활용도를 높인다.

임산부의 영양보충제 복용실태와 건강증진행위에 미치는 요인

심은성 ( Eun Sung Sim ),최소영 ( So Young Choi ) 한국모자보건학회 2019 한국모자보건학회 학술대회 연제집 Vol.2019 No.2

Purpose: The purpose of this study was to identify the relationships among nutritional supplement intake, subjective health status, health control level and health promotion behaviors and to investigate factors affecting health promotion behaviors in pregnant women. Methods: A total of 153 pregnant women was recruited from a university hospital in J city in Korea. Data were collected using self-reported questionnaires. Results: Most participants (91.5%) took nutritional supplements. Health promotion behavior had positive correlations with subjective health status (r=0.313, p<0.001), internal control (r=0.229, p=0.004), powerful others locus of control (r=0.162, p=0.046), and doctors locus of control (r=0.215, p=0.008). There was a negative correlation between health promotion behavior and chance locus of control (r=-0.273, p=0.001). Health status (β=0.25, p=0.001), chance locus of control (β=-0.28, p<0.001), doctors locus of control (β=0.20, p=0.009), and powerful others locus of control (β=0.16, p=0.033) were significant predictors for health promotion behavior. These variables explained 25.8% of the variance in health promotion behavior. Conclusion: The study results indicate that it is necessary to develop a nutrition education program and nursing intervention in order to promote health for pregnant women.

플래시 메모리를 이용한 내장 메모리 자가 복구의 재배치 데이타 사용 기술

심은성(Eun Sung Shim),장훈(Hoon Chang) 한국정보과학회 2007 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.34 No.7·8

최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의행과 열 메모리로 효율적인 재배치를 위해 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다. 재배치 정보는 고장난 메모리를 매번 테스트 해야만 얻을 수 있다. 매번 테스트를 통해 재배치 정보를 얻는 것은 시간적 문제가 발생한다. 이것을 막기 위해 한번 테스트해서 얻은 재배치 정보를 플래시 메모리에 저장해 해결할 수 있다. 본 논문에서는 플래시 메모리를 이용해 재배치 정보의 활용도를 높인다. With the advance of VLSI technology, the capacity and density of memories is rapidly growing. In this paper, We proposed a reallocation algorithm for faulty memory part to efficient reallocation with row and column redundant memory. Reallocation information obtained from faulty memory by only every test. Time overhead problem occurs geting reallocation information as every test. To its avoid, one test resulted from reallocation information can save to flash memory. In this paper, reallocation information increases efficiency using flash memory.

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민,심은성,장훈,Lee Jeong-Min,Shim Eun-Sung,Chang Hoon 대한전자공학회 2005 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.42 No.2

본 논문에서는 사용자로부터 테스트하고자 하는 고장 모델을 입력받아 적절한 much 테스트 알고리즘을 만들고 BIST 회로를 생성해 주는 Memory BIST Circuit Creation System(MBCCS) 을 제안하고 있다. 기존의 툴들은 널리 사용되고 있는 알고리즘에 국한되어 메모리의 사양이 변할 경우 거기에 맞는 BIST 회로를 다시 생성해주는 번거로움이 있었다. 하지만 본 논문에서 제안한 툴에서는 다양해진 메모리 구조에 적합한 메모리 BIST 회로를 사용자 요구에 맞는 알고리즘을 적용해서 자동적으로 생성하게 하였고, 임의적으로 선택된 고장 모델에 대한 알고리즘을 제안된 규칙에 따라 최적화함으로 해서 효율성을 높였다. 또한 다양한 크기의 폭을 갖는 주소와 데이터를 지원하며 IEEE 1149.1 회로와의 인터페이스도 고려하였다. In this paper, we propose a memory BIST Circuit Creation System which creates BIST circuit based on user defined fault model and generates the optimized march test algorithm. Traditional tools have some limit that regenerates BIST circuit after changing the memory type or test algorithm. However, this proposed creation system can automatically generate memory BIST circuit which is suitable in the various memory type and apply algorithm which is required by user. And it gets more efficient through optimizing algorithms for fault models which is selected randomly according to proposed nile. In addition, it support various address width and data and consider interface of IEEE 1149.1 circuit.