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문현찬(Hyun-Chan Moon),갈홍주(Hong-Ju Kal),이원영(Won-Young Lee) 한국전자통신학회 2018 한국전자통신학회 논문지 Vol.13 No.4
본 논문은 다양한 구조의 선형 블록 오류정정코드를 소개하고, 이를 회로로 구현하여 비교 분석한 결과를 보여주고 있다. 메모리 시스템에서는 잡음 전력으로 인한 비트 오류를 방지하기 위해 ECC(: Error Correction Code)가 사용되어 왔다. ECC의 종류에는 SEC-DED(: Single Error Correction Double Error Detection)와 SEC-DED-DAEC(: Double Adjacent Error Correction)가 있다. SEC-DED인 Hsiao 코드와 SEC-DED-DAEC 인 Dutta, Pedro 코드를 각각 Verilog HDL을 이용해 설계 후 0.35μm CMOS 공정을 사용해 회로로 합성하였다. 시뮬레이션에 의하면 SEC-DED회로는 인접한 두 개의 비트 오류를 정정하지 못하지만 적은 회로 사용면적과 빠른 지연 시간의 장점이 있으며, SEC-DED-DAEC 회로의 경우 Pedro 코드와 Dutta 코드 간에는 면적, 지연 시간의 차이가 없으므로 오류 정정률이 개선된 Pedro 코드를 사용하는 것이 더 효율적임을 알 수 있다. This paper introduces various linear block error correction code and compares performances of the correction circuits. As the risk of errors due to power noise has increased, ECC(: Error Correction Code) has been introduced to prevent the bit error. There are two representatives of ECC structures which are SEC-DED(: Single Error Correction Double Error Detection) and SEC-DED-DAEC(: Double Adjacent Error Correction). According to simulation results, the SEC-DED circuit has advantages of small area and short delay time compared to SEC-DED-DAEC circuits. In case of SED-DED-DAEC, there is no big difference between Dutta’s and Pedro’s from performance point of view. Therefore, Pedro’s code is more efficient than Dutta’ code since the correction rate of Pedro’s code is higher than that of Dutta’s code.
병렬 CRC 생성 방식을 활용한 BCH 코드 복호기 설계
갈홍주(Hong Ju Kal),문현찬(Hyun Chan Moon),이원영(Won Young Lee) 한국전자통신학회 2018 한국전자통신학회 논문지 Vol.13 No.2
본 논문은 병렬 CRC 생성 방식을 적용한 BCH 코드 복호기를 소개한다. 기존에 사용되는 병렬 신드롬 생성기로 LFSR(: Linear Feedback Shift Register)을 변형한 방식을 사용하면 짧은 길이의 코드에 적용하는 데 많은 면적을 차지한다. 제안하는 복호기는 짧은 길이 코드워드의 복호화를 위해 병렬 CRC(: Cyclic Redundancy Check)에서 체크섬을 계산하는 데 사용되는 방식을 활용하였다. 이 방식은 병렬 LFSR과 비교해 중복된 xor연산을 제거해 최적화된 조합회로로 크기가 작고 짧은 전파지연을 갖는다. 시뮬레이션 결과 기존 방식 대비 최대 2.01ns의 지연시간 단축 효과를 볼 수 있다. 제안하는 복호기는 0.35-μm CMOS 공정을 이용하여 설계하고 합성되었다. This paper introduces a BCH code decoder using parallel CRC(: Cyclic Redundancy Check) generation. Using a conventional parallel syndrome generator with a LFSR(: Linear Feedback Shift Register), it takes up a lot of space for a short code. The proposed decoder uses the parallel CRC method that is widely used to compute the checksum. This scheme optimizes the a syndrome generator in the decoder by eliminating redundant xor operation compared with the parallel LFSR and thus minimizes chip area and propagation delay. In simulation results, the proposed decoder has accomplished propagation delay reduction of 2.01 ns as compared to the conventional scheme. The proposed decoder has been designed and synthesized in 0.35-μm CMOS process.