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Magnetic Properties of Fe-doped NiO Nanoparticles
A. Kurokawa,N. Sakai, L. Zhu,H. Takeuchi,S. Yano,T. Yanoh,K. Onuma,T. Kondo,K. Miike,T. Miyasaka,Y. Ichiyanagi 한국물리학회 2013 THE JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY Vol.63 No.3
Ni1−xFexO (x = 0, 0.05, 0.1) nanoparticles with several nanometers encapsulated with amorphousSiO2 were prepared by our novel preparation method. A NiO single phase structure was confirmedusing the X-ray diffraction measurements. It is considered that Ni ions are replaced by Fe ionsbecause it is observed that the lattice constant decreases. The temperature dependence behaviorof the magnetization revealed that the blocking temperature, TB, shifted from 17 to 57 K as theamount of Fe ions increased, and that below TB, ferromagnetic behaviors were exhibited. Thecoercive force, HC, increased from 0.8 to 1.5 kOe as the amount of Fe ions increased.
Final report of CCQM-K129 'Measurement of Mole Fractions of Cu, In, Ga and Se in Cu(In,Ga)Se2 Films
Kim, K J,Kim, A S,Jang, J S,Suh, J K,Wirth, T,Unger, W,Hodoroaba, V-D,Araujo, J R,Archanjo, B S,Galhardo, C E,Damasceno, J,Achete, C A,Wang, H,Wang, M,Bennett, J,Simon, D,Kurokawa, A,Terauchi, S,Fujim BUREAU INTERNATIONAL DES POIDS ET MESURES 2016 METROLOGIA -BERLIN- Vol.53 No.1
정재인(J.I. Jeong),A. Kurokawa,S. Ichimura,J. Toth,K. Yoshihara,이영백(Y.P. Lee) 한국진공학회(ASCT) 1996 Applied Science and Convergence Technology Vol.5 No.3
새로운 형태의 2차원 평면 표시형 구변경분석기를 제조하여 그 특성을 평가하였다. 이 분석기는 고체 내에서 여기되어 방출된 전자의 에너지와 각도분포를 측정해서 해석하는데 사용하기 위한 것으로 궁극적으로는 비파괴적으로 단층적인 정보를 얻는 표면전자단층해석법 (Surface Electron Spectroscopic Tomography: SEN)를 개발하는 것을 목표로 하고 있다. 이 실험에 사용된 분석기는 H.Daimon 등이 개발한 것과 유사하나 외부에 미소 전자총을 사용한 점이 다르다. 그러나 미소전자총을 사용할 경우, 전자빔이 분석기에 인가된 전압에 의해 간섭을 받기 때문에 많은 문제점을 초래하게 된다. 본 연구에서는 이와 같은 경우에 발생된 제반 문제점과 이를 해결하기 위한 여러 가지 방안 그리고 조정된 분석기를 이용하여 실리콘 시편에서 얻은 Auger 스팩 트럼의 해석을 주로 기술하였다. A new display-type spherical mirror analyzer has been characterized in terms of the performance and the Auger spectra taken by using it. The final goal with the analyzer is to develop SET (Surface Electron Spectroscopic Tomography) which is capable to provide a 3-dimensional layer-by-Iayer information non destructively. This kind of analyzer was originally designed by H.Daimon. The main feature is to display 2-dimensional electronic structures directly onto a screen. In our case, an external micro-electron beam was employed as an excitation source. However, this invokes various problems because of the interference between the electron beam and the analyzer. The problems have been solved through the optimization of various parameters of the analyzer.