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NAND回路網의 試驗패턴 發生을 위한 D - 알고리즘의 效率改善
노정호(Jeong-Ho No),강병욱(Byeong-ug Kang),안광선(Gwang-Seon Ahn) 한국정보과학회 1987 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.14 No.1
만능 빌딩블럭인 NAND게이트의 조합 논리회로의 시험패턴 발생을 위하여 기존의 D 알고리즘에 LASAR 알고리즘의 도입을 시도하였다. 결함모델은 가장 보편적으로 채택되고 있는 고착결함을 사용하였다. NAND 게이트 단일 종류로 제한함으로써 백 트레이싱과정의 논리가 간결해짐을 확인할 수 있었다. 백트래이싱시 최장의 경로를 채택함으로써 최대한의 임플리케이션이 이루어지도록 하였다. 그 결과 인킨시스턴시의 가능성이 줄어들어 시험 패턴의 발생 속도가 향상됨을 확인하였다. 전가산회로 등 다수의 회로를 예로하여 D 알고리즘과 본 연구에서 제안한 알고리즘을 적용, 성능을 비교한 결과 특히 fan-out와 reconvergency가 많은 회로에서 D 알고리즘에 비해 제안한 알고리즘의 처리단계가 현격히 줄어지는 것을 확인하였다.