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        1. 산성염료에 의한 Stretch Nylon 염색에 관하여

        최길호 한국섬유공학회 1966 한국섬유공학회지 Vol.3 No.1

        The result of dyeing on stretch Nylon by acid dyestuff folloues as; 1) The result of having respectively dyed levelling acid dyes, Erio Fast Red 2G5, and Polar Red RS Conc. of milling acid dyes in neutral dye Lath (pH6.2) showed that in bath low temperature and high temperature the beginning exhaustion of Polar Red RS Conc. of the above two dyestuffs turned out to be excellent and the last exhaustion in dyeing the two dyrestuffs had little difference to each other. In neutral dye bath, the practical dyeing for 40 minutes, increasing the temperature gradually from 7$0^{\circ}C$ to 9$0^{\circ}C$, had also resulted in excellence. 2) As the result of dyeing in weskly acid bath (pH5.6) Polar Red RS Conc. was good in the beginning exhaustion, and the last dyeing in high temperature had no difference in Erio Fast Red 2GS and Polar Red RS Conc having for 30 minutes from 7$0^{\circ}C$ in the practical dyeing, the dyeing for 30 minutes under the gradually increased temperature to 9$0^{\circ}C$ was fairly good. 3) In strong acid bath (pH 3.0) the beginning exhaustion in low temperature proved to be pretty good in polar Red RS Conc. and in the last dyeing in high temperature, Erio Fast Red 2GS and Polar Red RS Conc. was equal to math other. 4) According to the result of Fastness, Erio Fast Red 2GS was not so good in water and washing compared with polar Red RS Conc, and it is the apposite in Rubbing Accordingly in practical use a little difference between them does not bring any disturbance.

      • KCI등재후보

        전기화학적 전착에 의한 ZnSe박막 구조 및 발광특성

        김환동,최길호,윤도영,Kim, Hwan-Dong,Choi, Kil-Ho,Yoon, Do-Young 한국반도체디스플레이기술학회 2008 반도체디스플레이기술학회지 Vol.7 No.4

        Thin film has been an increasing important subject of intensive research, owing to the fact that these films possess desirable optical, electrical and electrochemical properties for uses in many semi-conducting nano-crystal applications, such as light-emitting diodes, lasers and solar cell applications. Here, ZnSe thin films were deposited by electrochemical method for the applications of light emitting diode. Electrochemical deposition of ZnSe thin film is not easy, because of the high difference of reduction potential between zinc ion and selenium acid. In order to handle the band gap of ZnSe crystal thin films easily, electrochemical methods are promising to manufacture these films economically. Therefore we have investigated the present study to characterize zinc selenide thin films deposited on ITO glass plates electrochemically. The luminescent properties of ZnSe films have been evaluated by UV-Vis spectrometer and luminescence spectrometer. And the morphology of the film surface has been discussed qualitatively from SEM images.

      • 적응적 방법에 의한 하이퍼큐브 네트워크 결함 진단 알고리즘

        최혜연,김선신,강성수,최길호,이충세 충북대학교 컴퓨터정보통신 연구소 2003 컴퓨터정보통신연구 Vol.11 No.2

        시스템 레벨의 대부분의 진단 알고리즘은 PMC 모델을 바탕으로 결함의 개수가 t개를 초과하지 않는다는 t-진단가능 시스템의 특성을 이용하여 결함을 진단한다. 그러나, 다중처리 시스템 상에서 큰 규모의 결함 집합을 고려할 때에 여러 가지 제약이 따른다. 또한 병렬처리 시스템의 규모가 커짐에 따라 시스템 내에서 발생되는 결함의 빈도가 높아지게 된다. 진단 알고리즘에서 가정하는 결함의 개수 t는 병렬처리 시스템 안에 있는 노드의 수에 비해 상당히 작은 개수이며, 결함의 개수가 t개를 초과할 경우의 연구는 거의 이루어지지 않았다. Somani와 Peleg은 k개의 부정확한 진단을 용인함으로써 결함의 개수가 t개를 초과할 경우에도 시스템을 진단하는 t/k-dignosable 시스템을 제안하였다. 이 논문에서는 Somani 등이 제안한 것처럼 k=1개의 부정확한 진단을 용인하는 경우에 하이퍼큐브를 진단하는 알고리즘을 제안한다. 이 논문에서 제안한 알고리즘은 더 많은 결함을 진단하면서도 기존의 알고리즘보다 효율이 거의 떨어지지 않는다는 사실을 분석을 통하여 확인할 수 있었다. System level diagnosis algorithms are based on the PMC model and use the properties of t-diagnosable system where the maximum number of the faults does not exceed t. Diagnostic algorithms have limit when dealing with large fault sets in multiprocessor systems. Somani and Peleg proposed t/k-diagnosable system to system diagnose by allowing upper bounded few number of units to be diagnosed incorrectly, which can diagnosis more faults than t-diagnosable system. In this paper, we propose hypercube diagnosis algorithm using t/k-diagnosable system. When the number of faults exceeds t, we allow a fault(k=1) to be diagnosed incorrectly, Based on this idea, we find that the performance of the proposed algorithm is nearly as efficient as any previously known strategies and detect more faults.

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