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마스크 레이아웃 합성을 위한 벡터화한 변을 사용한 블록 분할 기법
손영찬,주이아,유상대,Son, Yeong-Chan,Ju, Ri-A,Yu, Sang-Dae 대한전자공학회 2001 電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices) Vol.38 No.12
Due to the high density of integration in current integrated circuit layouts, circuit elements must be designed to minimize the effect of parasitic elements and thereby minimize the factors which can degrade circuit performance. Thus, before making a chip, circuit designers should check whether the extracted netlist is correct, and verify from a simulation whether the circuit performance satisfies the design specifications. In this paper, we propose a new block disassembly technique which can extract the geometric parameters of stacked MOSFETs and the distributed RCs of layout blocks. After applying this to the layout of a folded-cascode CMOS operational amplifier, we verified the connectivity and the effect of the components by simulating the extracted netlist with HSPICE. 오늘날 집적회로의 집적도가 증가되고 있기 때문에 회로 소자는 기생성분의 영향을 최소화하고 회로의 성능을 감소시키는 요인을 최소화하도록 설계되어야 한다. 그래서 칩을 제작하기 전에 레이아웃으로부터 추출한 회로가 정확한가를 검증하고 시뮬레이션으로 추출된 회로가 설계사양을 만족하는지를 확인해야 한다. 본 논문에서는 스택 구조의 MOSFET의 기하학적인 파라미터와 레이아웃 배선 블록의 분산 RC를 추출할 수 있는 새로운 블록 분할 기법을 제안한다. 폴디드 캐스코드 CMOS 연산 증폭기의 레이아웃에 이 기법을 작용하여 회로를 추출하고, Hspice로 시뮬레이션을 수행하여 전기적 연결관계와 이들 소자의 영향을 검증하였다.
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