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- 저자 : 박풍원 (검색결과 2 건)
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Iodide/Iodine용액에서 CPU chip 분쇄물의 금 침출특성
정인상,조아람,최준철,송유진,박풍원,박경호,이수정,박재구,Jung, Insang,Joe, Aram,Choi, Joonchul,Song, Youjin,Park, Poongwon,Park, Kyungho,Lee, Sujeong,Park, Jaikoo 한국자원리싸이클링학회 2016 資源 리싸이클링 Vol.25 No.1
요오드용액을 사용하여 노트북 인쇄회로기판 CPU chip 중에 함유된 금을 침출하는 연구를 진행하였다. 150 mesh 이하로 분쇄된 CPU chip을 Iodide/Iodine용액에서 처리한 결과 금의 침출율은 20%로 매우 낮게 나타났다. 이와 같이 낮은 침출율의 원인은 CPU chip 분쇄과정에서 금 입자 표면에 생성된 구리 피막이 침출액과 금의 접촉을 방해하기 때문인 것으로 판단되었다. 한편, CPU chip 분쇄물을 질산용액을 사용하여 전처리 한 후 Iodide/Iodine 용액으로 침출하였을 때 금의 침출율은 약 90%으로 크게 증가하였다. 이 현상을 설명하기 위하여 침출 잔사를 EDS 및 ICP 분석을 통해 관찰한 결과, 금 입자표면에 피복되어 있는 구리의 약 80%가 질산에 의해 제거되었으며 이로 인해 금의 침출율이 향상된 것을 확인할 수 있었다. The leaching behavior of gold from waste CPU chip using Iodide/Iodine solution was studied. The direct leaching of gold with Iodide/Iodine solution for CPU chip under the size of 150 mesh showed leaching ratio of 20%. It was assumed that the copper film was produced on the gold particle during grinding process and the copper film prevents lodine/Iodide solution from contacting with leachable gold. Meanwhile, the extraction of gold was improved to 90% by pretreatment process with $HNO_3$ solution. In order to explain the result, EDS and ICP analysis for the leaching residue were conducted. It was found that the copper coated on the surface of the gold particle was removed about 80% by $HNO_3$, resulting in the increment of gold leaching rate.
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권석제,박승수,김성민,조아람,송유진,박풍원,박재구,Kwon, Seokje,Park, Seungsoo,Kim, Seongmin,Joe, Aram,Song, Youjin,Park, Poongwon,Park, Jaikoo 한국자원리싸이클링학회 2016 資源 리싸이클링 Vol.25 No.1
노트북 실장인쇄회로기판(Printed Circuit Board Assembly, PCBA)으로부터 탄탈럼을 회수하기 위한 선별실험을 실시하였다. 우선 노트북 실장인쇄회로기판에 실장된 전자부품(Electronic Components, ECs)을 자체개발한 실험장치를 이용하여 기판으로부터 분리하였다. 분리된 전자부품을 체분리하여 -6.35+2.80 mm구간에서 전체 탄탈럼 캐퍼시터의 약 93.2 wt.%를 회수할 수 있었다. 회수된 탄탈럼 캐퍼시터를 해머밀로 분쇄 후, 자력선별기를 통해 자력세기 300 가우스에서 분쇄물 중의 전극을 제거하였다. 전극이 제거된 자력선별 산물을 대상으로 넬슨 선별기(Knelson concentrator)를 이용한 선별 실험 결과 Bowl의 회전수 200 rpm, 유동층수 유량 7 L/min에서 76.9%의 최대 선별효율을 보였으며, 이때 품위 및 회수율은 각각 약 81.1%, 약 78.8%를 나타내었다. The study to obtain tantalum concentration from electronic components (ECs) on Printed circuit board assembly (PCBA) of laptop was conducted. Electronic components on laptop PCBA were detached from boards by using self-developed experimental apparatus. The detached electronic components were sieved and 93.2 wt.% of tantalum capacitors were concentrated from the size interval from 2.80 mm to 6.35 mm. The tantalum capacitors were pulverized by hammer mill and electrodes (anode and cathode) were removed from the grinding products by using magnetic separators under the magnetic force of 300 Gauss. Finally, tantalum concentrate was concentrated from the magnetic separator products by using Knelson concentrator, and the maximum efficiency of 76.9% was achieved under the operating condition of bowl rotating speed of 200 rpm, and fluidizing water flowrate of 7 L/min. The grade and recovery of Ta concentrate under the condition were 81.1% and 78.8%, respectively.
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