RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      검색결과 좁혀 보기

      선택해제

      오늘 본 자료

      • 오늘 본 자료가 없습니다.
      더보기
      • 무료
      • 기관 내 무료
      • 유료
      • KCI등재

        고주파수 영역의 정확도 높은 RF 부성저항 회로 분석

        윤은승(Eun-Seung Yun),홍종필(Jong-Phil Hong) 대한전자공학회 2015 전자공학회논문지 Vol.52 No.4

        본 논문에서는 부성저항을 생성하는 회로로 알려진 RFNR 회로에 대한 새로운 분석을 소개한다. 새로운 분석에서는 RFNR 회로에 대한 수식분석의 정확성을 높이기 위해 트랜지스터의 게이트 저항과 소스 커패시턴스에 의한 영향을 고려하였다. 기존의 분석에서는 트랜지스터의 소스를 통하여 수식을 분석하였지만 제안된 수식에서는 회로의 공진부인 트랜지스터의 게이트를 통하여 회로를 분석했다. 그 결과, 제안하는 분석은 고주파수에서 기존의 분석보다 정확도를 향상시킬 수 있었다. 본 논문에서는 시뮬레이션을 통해 고주파수에서 분석의 정확도를 검증하였다. This paper presents a new analysis of RF negative resistance (RFNR) circuits, known as a negative resistance generator. For accurate equation analysis of RFNR, this study examined the effects of the gate resistance and the source parasitic capacitance of the transistor. In addition, the input admittance of the conventional equation was calculated by looking into the source-terminal of the transistor, whereas that of the proposed equation was calculated by examining the gate-terminal of the transistor. The proposed equation analysis is more accurate than that of the conventional analysis, especially for higher frequency range. This paper verify the accuracy of the proposed analysis at high frequency range using the simulation.

      연관 검색어 추천

      이 검색어로 많이 본 자료

      활용도 높은 자료

      해외이동버튼