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Masaki Hashizume,Takeomi Tamesada,Hiroaki Yoshihara,Koji Nii 대한전자공학회 1992 JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Vol.- No.-
A Genetic Approach to State Reduction of Incompletely Specified Machines
Masaki Hashizume,Takeomi Tamesada,Takashi Shimamoto,Akio Sakamoto 대한전자공학회 1997 ITC-CSCC :International Technical Conference on Ci Vol.- No.-
Test Input Vectors for CMOS SRAM Functional Test based on Quiescent Supply Current in Write Operation
Masaki Hashizume,Takeomi Tamesada,Takeshi Koyama,A. J. Van de Goor 대한전자공학회 1997 ITC-CSCC :International Technical Conference on Ci Vol.- No.-
A Heuristic State Reduction Method of Incompletely Specified Machine Based on a Maximal State in Maximal Compatible Set
Masaki Hashizume,Takeomi Tamesada,Takaaki Nii 대한전자공학회 1993 JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Vol.- No.-
A Fast Derivation Algorithm of Maximum Cliques in Undirected Graph
Masaki Hashizume,Takeomi Tamesada,Akio Sakamoto 대한전자공학회 1995 JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Vol.- No.-
Supply Current Measurement Circuit for Bridging Fault Detection in Microprocessor Based Circuit
Toshihiro Sezaki,Masaki Hashizume,Takeomi Tamesada,Ikuro Morita,Eiji Tasaka,Tatuoki Isshiki 대한전자공학회 1997 ITC-CSCC :International Technical Conference on Ci Vol.- No.-
Quiescent Supply Current model of Bipolar Logic Gates for Current Testing
Toshimasa Kuchii,Masaki Hashizume,Takeomi Tamesada 대한전자공학회 1997 ITC-CSCC :International Technical Conference on Ci Vol.- No.-
Oscillation Frequency Estimation for Detecting Feedback Bridging Faults
Massaki Hashizume,Nobuyuki Inou,Hiroyuki Yotsuyanagi,Takeomi Tamesada 대한전자공학회 2002 ITC-CSCC :International Technical Conference on Ci Vol.2002 No.7
Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit
Masaki Hashizume,Makoto Kawajiri,Hiroyuki Yotsuyanagi,Takeomi Tamesada 대한전자공학회 2003 ITC-CSCC :International Technical Conference on Ci Vol.2003 No.7
Testability of Pin Open in Small Outline Package ICs by Supply Current Test
Masao Takagi,Masaki Hashizume,Masahiro Ichimiya,Hiroyuki Yotsuyanagi,Takeomi Tamesada 대한전자공학회 2003 ITC-CSCC :International Technical Conference on Ci Vol.2003 No.7
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