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김회민 ( Hoe-min Kim ),전성국 ( Sungkuk Chun ),김운용 ( Un-yong Kim ),윤정록 ( Jeongrok Yun ) 한국정보처리학회 2022 한국정보처리학회 학술대회논문집 Vol.29 No.2
본 연구는 3차원 포인트클라우드로부터 단면 정보를 자동으로 추출할 수 있는 알고리즘에 관한 것이다. 3차원 스캐너로부터 획득한 포인트클라우드 데이터는 다양한 제조 공정의 결과물인 산업 제품의 접합 상태를 파악하는데 자주 사용된다. 하지만 많은 노이즈를 포함하는 포인트클라우드 데이터로부터 제조 상태에 대한 수치적인 결과를 반복적으로 획득하기에는 많은 비용이 수반된다. 따라서 본 연구는 산업 제품의 접합부에 대한 포인트클라우드로부터 단면 정보를 자동으로 추출할 수 있는 알고리즘을 소개하고자 한다.
웹캠 기반 시선 추적 알고리즘 테스트 방안에 대한 연구
김회민 ( Hoe-min Kim ),전성국 ( Sungkuk Chun ),김운용 ( Un-yong Kim ),윤정록 ( Jeongrok Yun ) 한국정보처리학회 2022 한국정보처리학회 학술대회논문집 Vol.29 No.2
본 연구는 웹캠을 기반으로한 시선 추적 알고리즘에 대한 성능을 실시간으로 분석함과 동시에 그 결과를 직관적으로 비교해볼 수 있는 프로그램 개발에 대한 것이다. 시선 추적을 위한 훌륭한 알고리즘들과 학습 모델이 개발되고 있으나 개발 대상 어플리케이션에 적합한 알고리즘을 선별하거나 파라미터를 최적화하기 위해서는 알고리즘의 성능을 빠르고 효과적으로 가늠해볼 수 있는 테스트베드 개발이 동반되어야한다. 따라서 본 연구는 웹캠을 기반으로 시선 추적 알고리즘을 구현한 사례와 함께 개발된 알고리즘의 성능을 테스트해볼 수 있는 프로그램 개발에 대한 내용을 기술하였다.
김회민(Hoe-Min Kim),권혁진(Hyuk Jin Kwon),이관행(Kwan H. Lee) (사)한국CDE학회 2012 한국 CAD/CAM 학회 학술발표회 논문집 Vol.2012 No.2
In this paper we propose a real-time method for editing translucent materials. To this end, we first obtain the diffusion profiles of a translucent material based on the diffusion approximation such as the di-pole or multi-pole approximation. We then approximate the diffusion profile with a set of wavelet basis using a non-linear wavelet approximation, which makes our method much more efficient than the conventional low pass filter based method. Aside from this step, we pre-compute the light transport corresponding to each wavelet basis. Finally, we render an image at run-time by performing do product of the wavelet coefficients and the pre-computed light transport. The proposed method enables us to edit all of the optical parameters of a material as scattering, absorption, thickness and the refractive index. Under fixed lighting environment, we are able to edit translucent materials at about 60 frames per second.
김회민(Hoe Min Kim),이승주(Seung Joo Lee),고광희(Kwang Hee Ko),이관행(Kwan H. Lee) (사)한국CDE학회 2010 한국 CAD/CAM 학회 학술발표회 논문집 Vol.2010 No.1
We introduce an analytic expression to relate the KM conceptual parameters of a translucent material with physical parameters. It is very easy to estimate the reflectance or transmittance of a translucent material with a plain and simple appearance using the KM theory and its parameters. However, in order to accurately simulate a translucent material with complex geometric shape the diffusion theory and its relevant physical parameters are necessary. Therefore, this approach enables material designers to reuse the KM parameters of materials obtained by the previous many researchers in diverse fields by providing the method which translates these parameters each other.