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상호 유도 정전하 방식 ITO 센서의 노드별 측정 데이터를 이용한 ITO패턴과 노드 검사 방법
한주동(Joo-Dong Han),문병준(Byoung-Joon Moon),최경진(Kyung-Jin Choi),김동한(Dong-Han Kim) 대한전자공학회 2014 전자공학회논문지 Vol.51 No.7
본 논문에서는 상호 유도 정전하 방식 ITO센서의 불량 여부를 판별하기 위해 ITO센서 내부의 전극막들이 이루고 있는 개별 노드에 대해 상호 유도 정전하 데이터를 이용하여 ITO센서의 정확한 분석과 검사가 가능한 방법을 제안한다. 모바일과 태블릿과 같은 소형 전자제품뿐만 아니라, 대형 전자제품에서도 입력 장치로 사용되는 상호 유도 정전하 방식 ITO센서의 구조적 특성을 분석하고 터치스크린 패널 IC를 이용해 ITO센서를 검사하기 위한 회로를 설계한다. 상호유도 정전하의 충전과 방전에 관련된 변수를 설정하고, ITO센서의 노드별 데이터를 통해 불량 발생 시 정확한 위치를 찾아 분석할 수 있도록 구현한다. 상호 유도 정전하 ITO센서의 1차 실험데이터를 통해 양품 유효 범위를 설정하고, 마지막으로 1차 실험을 통해 설정된 ITO센서 유효범위는 2차 실험을 통해 ITO센서의 노드별 측정 데이터를 이용하여 실험에 사용된 시료로 정확성과 효율성을 검증 한다. In this paper, we propose the possible way of accurate analysis and examination of ITO sensor to discriminate whether mutual capacitance ITO sensor is defective by using mutual capacitance of data in each node which consists of electrodes inside of ITO sensor. We have analyzed the structure characteristic of mutual capacitance ITO sensor which is used as an input device for not only small size electronics like mobile phone and tablets but also big size electronics and designed the circuit to inspect ITO sensor using touch screen panel IC. Set a variable related with mutual capacitance of charge and discharge and Implement to find and analyze accurate position when defect is made through the data from each node of ITO sensor. First, we can set a yield effective range through the first experiment data of mutual capacitance ITO sensor and by using the data of each node of ITO sensor which is the result from the second experiment, we can verify accuracy and effectiveness of effective range from the first experiment as a sample which is used in this experiment.
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핀 드라이버와 접지가딩 기법을 적용한 모바일 디스플레이용 연성회로기판의 ICT검사 시스템
한주동(Joo-Dong Han),최경진(Kyung-Jin Choi),이용현(Young-Hyun Lee),김동한(Dong-Han Kim) 大韓電子工學會 2010 電子工學會論文誌-SC (System and control) Vol.47 No.6
본 논문에서는 연성회로기판에 실장된 부품의 불량여부를 판별하기 위해 핀 드라이버와 접지 가딩 기법을 적용한 인 서킷검사 시스템을 제안한다. 핸드폰 및 모바일용 디스플레이 장치에 사용되는 연성회로기판 모델의 검사신호의 입/출력을 위한 구조적인 공통 특성을 분석하고, 회로도를 기반으로 인가해야 할 검사 신호의 종류와 인가 위치에 대한 정보를 핀 맵으로 저장한다. 검사 신호는 저항, 콘덴서와 인덕터의 특성 검사가 가능하도록 응용회로와 알고리즘을 구성한다. 특정 위치에 특정 검사신호를 인가하기 위한 핀 드라이버를 설계하고, 핀 맵을 바탕으로 측정 대상이 포함된 최소한의 노드 및 메시가 구성되도록 핀 드라이버를 설정한다. 제안된 핀 드라이버와 접지 가딩 기법을 적용한 인 서킷 검사 시스템을 구현하고, 수동소자 각각에 대한 측정 실험과 선정된 테스트 모델에 대한 검사 실험을 수행하고, 제안된 시스템의 정밀도와 효율성을 검증한다. In this paper, ICT (in circuit tester) inspection system and inspection algorithm is proposed and detects whether inferiority exists or not in the mounted device on the flexible PCB in cell phones or mobile display devices. The system is composed of PD (pin-driver) and GGM (ground guarding method). The structural characteristics of these flexible PCB are analyzed, which is needed to input or output the test signal. Test signal to investigate the characteristics of passive components is generated using modified circuit diagram and proposed inspection algorithm. PM (pin-map) is decided on the basis of circuit diagram and has the information about the kind of test signal to be applied and the pad number for the test signal to be connected. PD is designed to load a proper test signal for a specific pad and is adjusted according to PM so that the reconstructed circuit has minimum node and mash. The proposed ICT inspection system is realized using PD and GGM. Using the system, an experiment for each passive component is done to investigate the measurement accuracy of the developed system and an experiment for real flexible PCB model is done to verity the effectiveness of the system.
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