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        보정기법 없이 채널 간 오프셋 부정합을 최소화한 2x Interleaved 10비트 120MS/s 파이프라인 SAR ADC

        조영세(Young-Sae Cho),심현선(Hyun-Sun Shim),이승훈(Seung-Hoon Lee) 대한전자공학회 2015 전자공학회논문지 Vol.52 No.9

        본 논문에서는 특별한 보정기법 없이 채널 간 오프셋 부정합 문제를 최소화한 2채널 time-interleaved (T-I ) 구조의 10비트 120MS/s 파이프라인 SAR ADC를 제안한다. 제안하는 ADC는 4비트-7비트 기반의 2단 파이프라인 구조 및 2채널 T-I 구조를 동시에 적용하여 전력소모를 최소화하면서 빠른 변환속도를 구현하였다. 채널 간에 비교기 및 잔류전압 증폭기 등 아날로그 회로를 공유함으로써 일반적인 T-I 구조에서 선형성을 제한하는 채널 간 오프셋 부정합 문제를 추가적인 보정기법 없이 최소화할 뿐만 아니라 전력소모 및 면적을 감소시켰다. 고속 동작을 위해 SAR 로직에는 범용 D 플립플롭 대신 TSPC D 플립플롭을 사용하여 SAR 로직에서의 지연시간을 최소화하면서 사용되는 트랜지스터의 수도 절반 수준으로 줄임으로써 전력소모 및 면적을 최소화하였다. 한편 제안하는 ADC는 기준전압 구동회로를 3가지로 분리하여, 4비트 및 7비트 기반의 SAR 동작, 잔류전압 증폭 등 서로 다른 스위칭 동작으로 인해 발생하는 기준전압 간섭 및 채널 간 이득 부정합 문제를 최소화하였다. 시제품 ADC는 고속 SAR 동작을 위한 높은 주파수의 클록을 온-칩 클록 생성회로를 통해 생성하였으며, 외부에서 duty cycle을 조절할 수 있도록 설계하였다. 시제품 ADC는 45nm CMOS 공정으로 제작되었으며, 측정된 DNL 및 INL은 10비트 해상도에서 각각 최대 0.69LSB, 0.77LSB이며, 120MS/s 동작속도에서 동적 성능은 최대 50.9dB의 SNDR 및 59.7dB의 SFDR을 보여준다. 시제품 ADC의 칩 면적은 0.36mm2이며, 1.1V 전원전압에서 8.8mW의 전력을 소모한다. This work proposes a 2-channel time-interleaved (T-I) 10b 120MS/s pipeline SAR ADC minimizing offset mismatch between channels without any calibration scheme. The proposed ADC employs a 2-channel SAR and T-I topology based on a 2-step pipeline ADC with 4b and 7b in the first and second stage for high conversion rate and low power consumption. Analog circuits such as comparator and residue amplifier are shared between channels to minimize power consumption, chip area, and offset mismatch which limits the ADC linearity in the conventional T-I architecture, without any calibration scheme. The TSPC D flip-flop with a short propagation delay and a small number of transistors is used in the SAR logic instead of the conventional static D flip-flop to achieve high-speed SAR operation as well as low power consumption and chip area. Three separate reference voltage drivers for 4b SAR, 7b SAR circuits and a single residue amplifier prevent undesirable disturbance among the reference voltages due to each different switching operation and minimize gain mismatch between channels. High-frequency clocks with a controllable duty cycle are generated on chip to eliminate the need of external complicated high-frequency clocks for SAR operation. The prototype ADC in a 45nm CMOS technology demonstrates a measured DNL and INL within 0.69LSB and 0.77LSB, with a maximum SNDR and SFDR of 50.9dB and 59.7dB at 120MS/s, respectively. The proposed ADC occupies an active die area of 0.36mm2 and consumes 8.8mW at a 1.1V supply voltage.

      • 원자력 발전소 케이블의 화염 전파시험 국내외 기준 비교

        이동민(Lee, Dong-Min),조영세(Cho, Young-Se),임현태(Yim, Hyun-Tae) 한국화재소방학회 2011 한국화재소방학회 학술대회 논문집 Vol.2011 No.춘계

        원자력 발전소에 사용되는 케이블은 화재발생시 화재전파를 억제하기 위해 일정수준의 화염시험을 만족한 것을 사용하도록 규정되어 있다. 이러한 케이블 화염시험 기준은 나라마다 약간씩 차이가 있는데 본 논문에서는 국내와 미국, 프랑스, 캐나다의 원자력 발전소 케이블 화염시험 기준의 국가별 차이점을 비교 분석 하였다. 비교분석결과 각 나라의 케이블 화염시험 코드는 세부 항목별로 약간씩 차이가 있으나 전체적으로 모든 코드가 동등한 수준의 기준을 갖고 있는 것으로 분석 되었다. 따라서 어느 하나의 코드를 만족하는 전기케이블은 다른 코드의 요구 사항을 만족하는 것으로 볼 수 있다.

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