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디지털 복합기의 잔여정보 완전삭제 기능 시험/평가방법론 개발
김찬일 ( Chan-il Kim ),이광우 ( Kwang-woo Lee ),조영준 ( Young-jun Cho ),김동근 ( Dong-keun Kim ),심원태 ( Wan-tae Sim ),김승주 ( Seung-joo Kim ) 한국정보처리학회 2009 한국정보처리학회 학술대회논문집 Vol.16 No.1
현재 기업 및 공공기관에서는 산업기술 유출 방지를 위해 잔여데이터 완전삭제 등 보안기능이 구현된 디지털 복합기를 사용하고 있다. 이에 따라 국제적으로 특히 일본 평가기관들 중심으로 공통평가기준으로 평가·인증 많이 받고 있다. 그러나 국내에서는 MFP에 대한 인식과 평가 노하우(know-how)의 부족하여 평가·인증 방법에 미비한 상태이다, 본 논문에서는 MFP의 핵심 중요 기술인 잔여정보 완전 삭제 기능을 공통평가기준으로 평가할 수 있는 국내 시험/평가 방법론을 제시하고자 한다.