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박종욱(Jongwook Park),박경택(Kyongtek Park),조상욱(Sangwook Cho),박성주(Sungju Park) 한국정보과학회 1997 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.24 No.2Ⅱ
일반적인 메모리테스트에 있어서 고장점검을 위한 테스트패턴의 생성방법으로는 각각의 고장모델에 대한 테스트패턴을 Deterministic하게 생성해주는 방법과 테스트패턴 생성기로서 Pseudo Random Pattern Generator(PRPG)를 이용하여 생성하는 방법 두 가지의 경우로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 PRPG를 사용하여 여러 가지 메모리의 결함을 대표한다고 볼 수 있는 Static 및 Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Fault(NPSF) 등 다양한 종류의 고장을 점검할 수 있도록 메모리 BIST를 상위수준 언어인 VHDL로 설계하고 합성하였다. 메모리 BIST를 위한 번지생성기로는 5셀 Tiling방법과 점진적 방법을 사용하여 각각 구현하고 이를 시뮬레이션 하여 기존의 Linear Feedback Shift Register(LFSR)보다 본 연구에서 패턴생성기로 사용한 LFSR의 메모리고장 점검도가 향상되었음을 보였다. 마지막으로 두 가지 번지생성 방법의 합성결과를 비교분석하여 메모리 크기에 따라 예상되는 메모리 BIST의 추가영역을 제시하였다.
박종욱(Jongwook Park),박경택(Kyongtek Park),박성주(Sungju Park) 한국정보과학회 1997 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.24 No.2Ⅱ
순차회로에서 테스트패턴 생성을 용이하게 하기 위하여 완전스캔 및 부분스캔 기술이 널리 이용되고 있다. 스캔설계로 인한 추가영역 및 속도지연을 최소화하고 최대의 고장 점검도를 목표로 하는 부분스캔 기술은 그래프 모델링[1], 테스트 가능도[2], 상위 수준에서의 구조분석[3,4] 등으로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 구조분석에 의한 부분시캔과 테스트 가능도를 이용한 부분스캔 기술을 소개하고 각각의 기술에 의한 실험결과를 비교 · 분석한다. 어떤 순차회로에서는 구조분석에 의한 방법의 점검도가 높고 또 다른 회로에서는 테스트 가능도에 의한 스캔설계가 높은 점검도를 나타냄을 관측하였다. 이러한 두 가지 기술의 장단점을 분석하여 통합함으로써 최상의 고장점검도를 이룰 수 있는 새로운 방법을 제안한다.