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        원자힘현미경을 이용한 탄소나노튜브소자의 턴형 및 수리

        박지용,김용선,오영무,Park, Ji-Yong,Kim, Yong-Sun,Oh, Young-Mu 한국진공학회 2007 Applied Science and Convergence Technology Vol.16 No.1

        원자힘현미경(AFM)을 이용하여 탄소나노튜브소자에서 탄소나노튜브를 전기적 또는 기계적으로 조작함으로써 전기적 특성을 변형시키는 연구를 수행하였으며 이를 이용하여 탄소나노튜브의 절단 및 연결을 시연하였다. 조작과 동시에 AFM을 이용한 정전기힘측정법을 적용하여 탄소나노튜브의 절단 및 연결을 시각화할 수도 있음을 밝히고 이를 결합하여 본 연구에서는 AFM을 이용한 탄소나노튜브소자의 극소적인 변형 및 조작이 가능하다는 것을 보였다. Electrical and mechanical modifications of devices based on carbon nanotubes(CNTs) using an atomic force microscope(AFM) in the forms of cutting and reconnection of CNTs are demonstrated. In addition to the modifications, electrostatic force microscopy is used to visualize the cutting and reconnection of CNTs. In this way, AFM is shown to be a useful tool in local modifications and manipulations of CNT-based devices.

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