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B-spline 표면 근사화 기반의 3차원 솔더 페이스트 검사
이준재(Joon Jae Lee),이병국(Byoung Gook Lee),류재칠(Jaechil Yoo) 한국산업응용수학회 2006 Journal of the Korean Society for Industrial and A Vol.10 No.1-1
최근 고집적화, 고밀도화 되어가는 첨단 디바이스와 섬세한 공정들은 SMT(surface mounting technology)에서의 더욱 까다로운 검사 항목들을 요구하고 있다. 특히, 어셈블리 생산품의 불량의 60% 이상을 차지하는 솔더 프린팅의 검사는 이러한 추세에 대응책으로 3차원적인 검사 방식이 기존의 2차원적인 검사방식을 빠르게 대치해나가고 있다. 따라서 본 논문에서는 SMT 어셈블리 라인에서 PCB(printed circuit board)에 프린팅된 솔더 페이스트에 대한 3차원적인 검사를 자동으로 수행하는 인라인형의 고속 3차원 검사 장비 및 측정 알고리즘을 제안한다. 제안한 방법은 3차원 데이터를 B-스플라인으로 표면을 구성한 다음 이를 기반으로 패드를 추출하고, 검사하는 알고리즘이다. Recently advanced device and sophisticated manufacture process by high-density, high-integration require critical inspection criteria in SMT(surface mounting technologies). Especially for solder paste which come out over 60% of inferior goods of all product, 3-dimensional inspection replaces 2-D inspection as a effectiveness substitute of this trend. Therefore this paper proposes a fast 3-D inspection system and measurement algorithm automatically inspecting 3-D solder paste of PCB in SM???? assembly line. The proposed method generates 3-D surface of data using B-spline algorithm and then extracts to inspect the pad.
B-spline을 이용한 불균일한 휘도보정 방법에 기반한 FPD 결함검출
김상지(Sang-Ji Kim),이병국(Byoung-Gook Lee),이준재(Joon-Jae Lee) 한국멀티미디어학회 2006 한국멀티미디어학회 학술발표논문집 Vol.2006 No.1
평판 디스플레이 장치(FPD)의 패널 표면은 불균일한 휘도 변화로 인해 단순 문턱값 적용으로는 정확한 결함 검출이 어렵다. 본 논문에서는 불균일한 휘도변화를 보상하기 위해 입력 영상을 B-spline 근사화 하여 고주파 잡음이 제거된 입력 영상과의 차를 이용하는 알고리즘을 제안 하였다. 특히 입력 영상 경계부분의 심한 휘도 변화를 B-spline 근사화를 이용한 휘도 보상 문제를 해결 하였고, 표준편자를 이용한 문턱값을 적용하여 결함을 찾고, 후 처리 과정으로써 결함의 정보를 나타내는 블랍 해석 처리 알고리즘을 더해서 시스템을 구현하여 성능 평가를 하였다.
김상지(Sang Ji Kim),황용현(Yong Hyeon Hwang),이병국(Byoung Gook Lee),이준재(Joon Jae Lee) 한국멀티미디어학회 2007 멀티미디어학회논문지 Vol.10 No.10
평판 디스플레이(FPD)의 결함 검출은 패널 영상의 불균일한 휘도 변화로 인해 정확한 결함 검출이 어렵다. 본 논문은 FPD 패널 영상의 휘도변화를 B-스플라인 표면으로 근사화하고, 이로부터 다양한 결함을 검출하는 방법을 제안한다. B-스플라인 표면 근사화시 잡음 및 결함에 해당하는 고주파 부분을 제외하고, 불균일 휘도 변화에 해당하는 배경부분만으로 구성하기 위해, 웨이브릿 변환 후 저주파대역만을 이용한다. 이는 B-스프라인 표면 근사화의 단점인 시간 소모를 획기적으로 줄일 뿐 아니라, 정확성을 향상시키는 결과를 가져온다. 최소의 부대역에서 근사화된 영상은 웨이브릿 합성 과정을 거쳐 원영상의 크기로 재구성되고, 원 영상에서 이를 뺀 차영상이 바로 불균일 휘도의 배경을 보상한 평평한 영상이 된다. 따라서 결과 영상에 단순 문턱치를 이용하여 결함 영역을 쉽게 검출할 수 있으며, 거짓 결함을 제거하기 위해 블랍 해석이 후처리로서 수행된다. 또한 인라인 시스템에 적용하기 위해 웨이브릿 변환을 리프팅 기반의 알고리즘으로 구현하여 필름 같은 대용량의 데이터를 고속으로 처리할 수 있게 함으로써, 처리 시간을 크게 감소 시켰다. To detect defect of FPD(flat panel displays) is very difficult due to uneven illumination on FPD panel image. This paper presents a method to detect various types of defects using the approximated image of the uneven illumination by B-spline. To construct a approximated surface, corresponding to uneven illumination background intensity, while reducing random noises and small defect signal, only the lowest smooth subband is used by wavelet decomposition, resulting in reducing the computation time of taking B-spline approximation and enhancing detection accuracy. The approximated image in lowest LL subband is expanded as the same size as original one by wavelet reconstruction, and the difference between original image and reconstructed one becomes a flat image of compensating the uneven illumination background. A simple binary thresholding is then used to separate the defective regions from the subtracted image. Finally, blob analysis as post-processing is carried out to get rid of false defects For applying in-line system, the wavelet transform by lifting based fast algorithm is implemented to deal with a huge size data such as film and the processing time is highly reduced.