http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
Metallurgical refining study for production of solar grade (SoG) silicon by synthetic slag
김대석(Kim, Daesuk),이상욱(Lee, Sangwook),박동호(Park, Dongho),류태우(Yu, TaeU),문병문(Moon, ByungMoon),민동준(Min, DongJoon) 한국신재생에너지학회 2010 한국신재생에너지학회 학술대회논문집 Vol.2010 No.11
In this study, metallurgical grade (MG) silicon with 99% purity produced by arc furnace process was systematically investigated for slag refining. The most problematic impurities to remove from MG silicon are boron (B) and phosphorus (P). To remove B and P from MG-silicon, we used synthetic slag in the molten state. MG-silicon with synthetic slag of CaO, SiO₂, and CaF₂ was melted using by high-frequency induction furnace with electrical output of 50kW. Specimens prepared by various refining process conditions(holding time, mixture ratio) were inspected by combined analysis of ICP-MS and XRF. With this approach, B has been reduced to <5ppm, P to <1ppm and other impurities to 0.1~0.2% except for Calcium. Calcium has been increased from 17ppm to 1500ppm. Problem of calcium contamination will be resolved by additional refining processes.
이기종 병렬 시스템을 위한 자동적 병렬화 컴파일러 후위
권대석(Daesuk Kwon),김흥환(Heunghwan Kim),한상영(Sangyong Han) 한국정보과학회 2000 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.27 No.8
고전적 시스템의 성능 향상을 위해 많은 병렬 처리 시스템들이 제안되어 왔다. 그러나 이들 시스템들은 흔히 통신과 동기화 부담을 과소 평가함으로써 기대한 만큼의 성능을 보이지 못하였다. 본 논문에서는 그러한 결과를 초래하는 이유를 설명하고, 병렬화 컴파일러가 만족시켜야 하는 성능상의 요구조건을 제시한다. 병렬화 결정은 성능 저하를 피하기 위해 반드시 통신과 동기화 부담(overhead)에 대한 분석에 기초하여 이루어져야 한다. 본 연구진은 이러한 발상을 자동적 병렬화 컴파일러 SUIF에 적용하여 SUIF의 후위를 MPI 함수를 이용하는 새로운 후위로 교체하고, 여기에 병렬화 결정의 타당성을 부담 정보에 기초하여 평가하는 능력을 부여하였다. 새로운 컴파일러 후위는 병렬화 가능한 부분이 명시된 SUIF 중간 코드를, 성능 저하를 초래하지 않으면서 MPI 함수 호출을 포함하는 분산 메모리 구조 병렬 프로그램으로 변환한다. Many multiprocessing systems have been developed to exploit the parallelism and to improve the performance. However, the naive multiprocessing schemes were not successful as many researchers thought, due to the heavy cost of communication and synchronization resulting from parallelization. In this paper, we will identify the reasons for the poor performance and the compiler requirements for the performance improvement. We realized that the decisions for multiprocessing should be derived by the overhead information. We applied this idea to the automatic parallelizing compiler, SUIF. We substituted the original backend of SUIF with our backend using MPI, and gave it the capability to validate parallelization decisions based on overhead parameters. This backend converts the intermediate code containing spacification of parallelizable regions into the distributed-memory based parallel program with MPI function calls without excessive parallelization that may cause performance degradation.
DAVRID 시스템 상에서 행렬 곱셈 분석에 기초한 다중처리와 다중스레딩 결정
권대석(Daesuk Kwon),장준호(Juno Chang),김흥환(Heunghwan Kim),한상영(Sangyong Han) 한국정보과학회 1998 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.25 No.10
많은 다중스레드 병렬처리 시스템이 병렬성을 이용하고 통신과 계산을 중첩 수행함으로써 성능 개선을 도모하려 한다. 하지만 단순한 다중스레드 병렬처리 방식은 그로인해 수반되는 성능 저하 요소들로 인하여 성능상의 개선을 얻는데 실패하는 경우가 많다. 이 논문에서는 본 연구진이 다중스레드 병렬처리 시스템인 DAVRID를 개발하는 과정에서 얻은 경험에 근거하여 다중스레딩을 채용하고 있는 병렬처리 시스템이 보일 수 있는 성능저하 요인을 제시하고, 다중스레딩과 병렬처리의 결정이 어떻게 이루어져야 하는가에 대해 기술한다. 다중스레딩과 병렬처리를 위해 추가적으로 발생하는 성능 저하 요인에 기초하여, 기존의 DAVRID 컴파일러가 생성해낸 행렬 곱셈 코드가 왜 느린가를 분석하고, 분석결과 드러난 문제를 해결할 수 있는 새로운 코드를 생성한 후 이를 다시 실행하여 분석하였다. 새로이 코딩된 코드는 원래의 코드에 비해 12.5배의 성능 향상을 보였다. Many multithreaded multiprocessing systems have been developed to exploit parallelism and improve performance by overlapping the computations and communications. However, the naive multithreaded multiprocessing schemes were not as successful as many researchers expected, In this paper, based on our experience in a multithreaded multiprocessing system DAVRlD, we identify some reasons for poor performance and the compiler requirements for performance improvement. We realized that the decisions for multithreading and multiprocessing should be based on the overhead information. Based on the overhead parameters, we obtained a hand-compiled code which was equivalent to the original code. It was 12.5 times as fast as the original one.
김청송(Cheong Song Kim),최인호(InHo Choi),헤리저데헌거흐 사이드(Saeid Kheiryzadehkhanghah),최석현(Sukhyun Choi),황국현(Gukhyeon Hwang),김대석(DaeSuk Kim) 대한기계학회 2020 대한기계학회 춘추학술대회 Vol.2020 No.8
최근 국내 반도체 DRAM 및 NAND flash 메모리 제조 기술 고도화로 인하여 wafer 상단에 수 나노 스케일 수준의 박막증착 및 패턴 제작이 이루어지고 있으며, 이에 공정라인에서 제작되는 시편을 검사/계측하기 위한 기술에 대한 필요성이 요구되는 추세이다. 반도체 생산 제조 공정라인의 검사/계측 기술로 활용되는 ellipsometry 기술은 산란을 이용한 비파괴성 광학적 측정 기술로, 시편에 의해 변화된 편광정보(Ψ, △)를 획득하고, 이를 분석하여 제작 시편의 물성 및 박막 두께, 나노 패턴의 3D 형상을 계측하는 기술이다. 현 반도체 산업계에서 제작되는 wafer의 균일도는 기업의 수율과 관계하므로 측정속도에 대한 솔루션의 필요성이 크게 증대되고 있는 상황이며, 이에 기존 ellipsometry 기술이 지닌 기계적 메커니즘 및 전기 변조 장치 등의 구동부로 인한 초 단위 이상의 측정속도 제한 문제를 극복하기 위하여 본 연구팀은 2016년 마하젠더 scheme의 분광편광타원계측 기술을 제안한바 있다. 이는 간섭편광변조모듈로부터 발생된 분광편광간섭신호를 시스템 알고리즘을 통해 분광편광위상정보(△)를 20Hz 이상 고속으로 획득 가능하다. 본 연구팀은 최근 간섭편광변조모듈을 일체형 마이켈슨 간섭계로 구성함에 따라, 측정 반복능을 ±1˚ 수준의 외란에 강인성을 지닌 시스템으로 성능을 크게 개선하였다. 아래 figure(a)의 Blue, Red line은 각각 reference(bare wafer), SiO2 30nm를 제안된 시스템으로 획득된 간섭spectrum이고, figure(b)의 Blue, red line은 각각 간섭계 기반 분광편광타원계와 상용 ellipsometer를 이용하여 측정된 분광편광위상정보(△)이다. SiO2 30nm 측정결과를 통해 간섭계 기반 분광편광타원계는 측정 반복능 뿐만 아니라, 측정에 사용된 전체파장에 대해서 상용장비 수준의 높은 정확도가 확보됨을 검증하였다. [그림 본문 참조]