http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
김영호(Yung-Ho Kim),민병헌(Byeong-Hyeon Min),조완교(Whan-Kyo Jo),조석현(Suk-Hyun Jo),노승룡(Seung-Ryong Rho) 한국정보과학회 1990 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.17 No.2
본 논문에서는 CMOS 회로내에서 Stuck-Open 고장을 검출할 수 있도록 부가회로가 첨가된 Self-Test 방식을 제안한다. 이 방법은 초기화 벡터와 테스트 벡터로 구성된 입력이 활성화된 경로를 통하여 전파되는 과정을 Primary 출력단에서 연속적으로 관측함으로써 각 게이트 소자의 고장을 효율적으로 검출할 수 있음을 보였으며 출력단에서 궤환된 테스트 벡터들은 테스트 벡터들이 가해지는 동안 테스크 벡터를 생성 하므로 테스트 패턴 생성 시간을 짧게 한다. 따라서 활성화된 모든 경로에 이 방식을 적응시키면 회로내의 모든 Stuck- Open 고장을 검출할 수 있다.