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외부 전기서지에 의한 전자회로기판 Latch-up 현상 고찰
지영화(Yeong-Hwa Ji),조성한(Sung-Han Jo),정창규(Chang-Gyu Jung) 대한전기학회 2010 전기학회논문지 Vol.59 No.11
There are many cases that interrupt the production process because of malfunctions caused by electronic circuit boards which control equipment, but it is difficult to distinctly identify the causes in many cases. Especially, CMOS devices with the control logic circuit return automatically to normal state after their own faults. Therefore it is not easy to analyze the problems with electronic circuit boards. Recently, nuclear power plant experienced a failure due to the malfunction of electronic circuit boards and it was identified that the reason of the malfunction was because of latch-up phenomenon caused by external surge in electronic devices. This paper presents the causes and the phenomenon of latch-up by experiment and also a way using counter EMF diodes, noise filters and surge protective devices to prevent latch-up phenomenon from electronic circuit boards, finally confirms the effectiveness of the result by experiment.
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적외선 열화상 분석기술을 이용한 계측기 및 전자부품 최적 진단
지영화(Yeong-Hwa Ji),김형관(Hyoung-Gwan Kim),강현태(Hyun-Tae Kang) 대한전기학회 2010 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2010 No.7
적외선 열화상 측정 및 분석은 과거 발전소를 비롯한 여러 산업분야의 각종 기기에 대해 효과적인 예측정비 및 진단 도구로 사용되어 왔다. 특히 회전기기, 밸브 등의 기계설비와 전동기, 변압기, 케이블 등의 전기설비의 열화상 측정 및 분석은 널리 적용되고 있다. 그러나 계측기 및 전자부품의 예측정비 및 고장진단을 위한 열화상 적용 및 진단기술에 대한 연구는 아직 미흡한 편이다. 계측기 및 전자부품의 열화, 접속불량 등에 의해 표준온도특성에서 벗어나는 이상 발열현상은 열화상 측정 및 분석을 통해 근본원인을 규명할 수 있어, 계측기 및 전자부품의 유용한 예측정비 및 고장진단 기술로 적용할 수 있다. 계측기 및 전자부품에 대해 열화상 측정 및 분석기법을 적용하여 실제 측정 및 분석에 적용한 결과, 예측정비 및 고장진단에 유용하게 활용될 수 있음을 확인하였고, 능동적 적용 및 이력관리를 통해 상태등급에 따른 기준을 수립하고 적용할 경우 설비의 신뢰도 및 안정성에 기여할 수 있다.
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전자회로기판의 전원회로 발열 저감을 통한 고장 최소화 방안 연구
지영화(Yeong-Hwa Ji),김형관(Hyoung-Gwan Kim),정창규(Chang-Gyu Jung) 대한전기학회 2009 정보 및 제어 심포지엄 논문집 Vol.2009 No.10
산업계에 제어 및 감시 목적으로 설치되어 있는 전자회로기판의 고장 중 전원회로의 고장빈도는 상대적으로 높으며, 대부분의 전원회로 고장은 설계 오류나 전자부품의 열화에 의해 발생된다. 특히, 표면장착기술(SMT; Surface mounted technology)을 적용한 소형의 전자회로기판은 선원회로부에서 발생된 발열량이 전자회로기관 전체에 높은 온도를 형성시켜 전자부품 열화에 의한 기능상실을 일으킨다. 따라서 본 연구에서는 전자회로기판 내 전원회로의 고장진단 방법을 제안하고 고장발생을 사전에 방지 또는 경감 할 수 있도록 전자회로기판의 전원회로 발열 서감을 용한 고장 최소화 방안을 세시하고자 한다.
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외부 전기 서지에 의한 전자회로기판 Latch-up 현상 고찰
조성한(Sung-han J),정창규(Chang-gyu Jung),지영화(Yeong-Hwa Ji) 대한전기학회 2010 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2010 No.7
산업계 플랜트의 기기 제어를 위한 전자회로기판의 오동작으로 생산이 정지되는 경우가 많이 발생되고 있으나, 그 원인 규명에 어려움이 있는 경우가 많다. 특히 CMOS 소자를 사용한 제어로직 회로의 경우 오동작 후 정상상태로 자동 복귀하여 그 원인을 분석하기가 쉽지 않다. 최근에 원전의 제어계통 전자회로기판 오동작으로 인한 고장이 발생하였으며 그 원인이 외부서지에 의한 전자소자의 latch-up현상으로 분석되었다. 이에 따라 본 논문에서는 전자회로기판에서 발생하는 latch-up의 발생원인과 그 현상을 실험으로 입증하였다. 또한 일반 산업계 플랜트에서 사용되는 전자회로기판의 latch-up 방지 방안으로 역기전력 방지용 다이오드설치와 노이즈필터 적용을 제시하고 실험으로 그 효과를 확인하였다.
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원전 제어 설비용 알루미늄 전해 커패시터의 일반규격품 품질검증 방안 연구
김형관(Hyoung-Gwan Kim),임국주(Gook-Ju Ihm),지영화(Yeong-Hwa Ji) 대한전기학회 2010 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2010 No.7
일반규격품 품질검증(Commercial Grade Item Dedication)은 원자력발전소의 주요 계통에 사용되는 안전성 관련 기기나 부품을 일반규격품으로 대체하는 경우, 의도된 안전기능의 수행에 대한 합리적 보증을 취하는 과정이다. 본 논문에서는 원자력발전소 주요계통의 제어설비에 사용되는 일반 규격품 알루미늄 전해커패시터에 대한 품질검증 방법을 소개하고, 설계된 안전기능을 적절히 수행할 수 있음을 보증하기 위한 검증필수특성의 정의와 시험 및 검사에 대한 방법론을 기술한다. 원자력발전소에서 시행된 알루미늄 전해커패시터에 대한 일반규격품 품질검증의 과정과 결과를 제시하고, 특수시험 및 검사를 통해 확인된 부적합 사항을 토대로, 기존의 특수시험 및 검사방법에 대한 개선방향을 제안한다.
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