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- 저자 : 진인영 (검색결과 4 건)
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진인영,최순호,김관식,허창수,Jin, In-Young,Choi, Sun-Ho,Kim, Kwan-Sik,Huh, Chang-Su 한국전기전자재료학회 2016 전기전자재료학회논문지 Vol.29 No.10
The power relay can easily control high voltage and high current through metallic contacts. In addition, it has the advantage in reasonable price. So it has been used in many applications. But the power relay has a weak point by mechanical movements. These mechanical movements cause the bouncing phenomenon. Arc and bouncing phenomenon are the main causes of electric abrasion and material erosion. In this study, mechanical repetitive experiments and repetitive experiments in electrically connected state are conducted. Then these two experimental results in terms of bouncing phenomenon and changes in the contact surface are compared. In all number of repetitions, contacts in an electrically connected state cause smaller number of bounce. Also, It has lower contents of silver on eroded surface than the other. The experimental results would be helpful to the further study of contacts life span.
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류재만,진인영,허창수,Ryu, Jae-Man,Jin, In-Young,Huh, Chang-Su 한국전기전자재료학회 2017 전기전자재료학회논문지 Vol.30 No.8
Electrical relay in an essential part of smart grids, electrical vehicles, and LED lightning systems. Therefore, studying relay reliability is important. Relays using permanent magnet actuators (PMAs), which are energy efficient, are also in the spotlight. However, most of the permanent magnets used in PMAs have a characteristic wherein the magnetic flux decreases as the temperature increases. When the magnetic flux is reduced, the force acting on the actuator is reduced. Therefore, in this study, we measured the decrease in the relay operating speed with permanent magnet reduction due to temperature rise. In addition, changes in the bouncing phenomena due to magnetic flux reduction were analyzed. As a result, the operating speed of the relay has decreased and the bouncing phenomenon has not significantly changed.
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이성우,허창수,서창수,진인영 한국전기전자재료학회 2018 전기전자재료학회논문지 Vol.31 No.1
This study analyzed the change of electrical characteristics of a photocoupler when a narrow-bandelectromagnetic wave was combined with the photocoupler. A magnetron (3 kW, 2.45 GHz) was used as the narrow-bandelectromagnetic source. The EUT was Photocoupler (6N139) and the input signal was divided into two types: a squarepulse and the second signal is 0 V. The malfunction of the photocoupler was confirmed by monitoring the variation inthe output voltage of the photocoupler. As a result of the experiment, changes in the malfunctioning was observed as theelectric field was increased. There are three types of malfunction modes: delay, output voltage off, and fluctuation. Biterrors were analyzed to verify the electrical characteristics of the photocoupler by narrow-band electromagnetic waves. Theresult of this study can be used as basic data for the effect analysis of photocoupler protection and impact analysis ofhigh-power electromagnetic waves. 본 연구는 협대역 전자기파를 포토커플러와 결합 할 때 포토커플러의 전기적 특성 변화를 분석 하였다. 협대역 전자기 소스로는 마그네트론 (3 kW, 2.45 GHz)이 사용되었다. 피시험기기는 포토커플러 (6N139)이고 입력 신호는 두 가지 유형으로 구분된다. 첫 번째 신호는 사각 펄스이고 두 번째 신호는 0V이다. 포토커플러의 오작동은 포토커플러의 출력 전압 변동을 모니터링 함으로써 확인되었다. 실험의 결과 전기장이 증가함에 따라 오작동이 변경되었다. 오작동 모드에는 지연, 출력 전압 오프 및 변동이 있다. 협대역 전자파에 의한 포토커플러의 전기적 특성을 검증하기 위해 비트 오류를 분석했다. 본 연구의 결과는 고출력 전자기파의 포토 커플러 보호 및 영향 분석의 효과 분석을 위한 기본 데이터로 사용될 수 있다.
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IEMI 복사에 의한 네트워크 통신 장비의 취약성 분석
서창수,허창수,이성우,진인영 한국전기전자재료학회 2018 전기전자재료학회논문지 Vol.31 No.1
This study analyzed the Vulnerability of Network Communication devices when IEMI is coupled with theNetwork System. An Ultra Wide Band Generator (180 kV, 700 MHz) was used as the IEMI source. The EUTs are theSwitch Hub and Workstation, which are used to configure the network system. The network system was monitoredthrough the LAN system configuration, to confirm a malfunction of the network device. The results of the experimentindicate that a malfunction of the network occurs as the electric field increases. The data loss rate increasesproportionally with increasing radiating time. In the case of the Switch Hub, the threshold electric field value was 10kV/m for all conditions used in this experiment. The threshold point causing malfunction was influenced only by theelectric field value. The correlation between the threshold point and pulse repetition rate was not found. However, in caseof the Workstation, it was found that as the pulse repetition rate increases, the equipment responds weakly and thethreshold value decreases. To verify the electrical coupling of the EUT by IEMI, current sensors were used to measurethe PCB line inside the EUT and network line coupling current. As a result of the measurement, it can be inferred thatwhen the coupling current due to IEMI exceeds the threshold value, it flows through the internal equipment line, causinga malfunction and subsequent failure. The results of this study can be applied to basic data for equipment protection,and effect analysis of intentional electromagnetic interference. 본 논문는 IEMI에 의한 네트워크 시스템을 구성하는 네트워크 통신 장치의 취약점을 분석하였다. Ultra Wide Band Generator (180kV, 700 Mhz)가 IEMI 소스로 사용되었다. 피시험 기기들은 네트워크 시스템 구성시 사용되는 스위치 허브 및 워크 스테이션이다. LAN 시스템을 구성하고 네트워크 상태를 모니터링하여 네트워크 장치의 오작동을 확인하였다. 실험 결과, 전기장이 증가함에 따라 네트워크의 오작동이 발생하였다. 데이터 손실률은 방사 시간이 증가함에 따라 비례하여 증가한다. Switch Hub의 경우 임계 전기장 값은 이 실험에 사용된 모든 조건에서 10 kV/m이었다. 임계치는 오작동의 원인으로 전계 값에 의해서만 영향을 받았다. 펄스 반복률과의 상관 관계는 발견되지 않았다. 그러나 워크 스테이션의 경우 펄스 반복률이 증가함에 따라 장비가 약하게 반응하고 임계 값이 감소하는 것으로 확인할 수 있었다. 위의 결과로 장비의 내부 PCB 회로가 복잡 해짐에 따라 장비가 펄스 반복 속도에 민감하다는 것을 추론 할 수 있었다. IEMI에 의한 피 시험 기기의 전기적 결합을 확인하기 위해 전류 센서를 사용하여 피 시험 기기 내부의 PCB 라인과 네트워크 라인 커플링 전류를 측정했다. 측정 결과, IEMI에 의한 결합 전류가 임계 값을 넘어서면 내부 장치 라인을 통해 흐르므로 오작동이나 고장이 발생할 수 있다고 추측 할 수 있었다. 이 연구의 결과는 의도적인 전자기 간섭에 대한 장비 보호 및 효과 분석을 위한 기본 데이터에 적용될 수 있을 것이다.
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