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5G 통신용 Athermal AWG Module 의 칩 기구물 변경에 따른 신뢰성 평가 및 수명예측
윤광수(Kwang Su Yun),유정희(Chong-Hee Yu),전인수(InSu Jeon) 대한기계학회 2021 대한기계학회 춘추학술대회 Vol.2021 No.4
온도 무의존 파장분할 다중화 필터(Athermal AWG)는 5G 네트워크 구축에 필요 한 DWDM 전송 시스템의 핵심 소자이다. 5G 네트워크 통신시스템의 전송품질 안정성을 위하여 신뢰성이 중요하며 최소 한 10 만 시간의 수명을 보증해야 한다. 본 연구에서는 AWG 모듈을 기계적 및 환경적 신뢰성 시험을 진행하였다. 신뢰성 시험 후 초기 특성값의 10% 변화로 fail을 판정한다. 또한 고온에서 Meeker-Hanhn 4:2:1 시험계획으로 시료를 배분하여 가속수명시험을 수행하였다. AWG 모듈은 가속수명시험을 진행하면서 각 채널에 대하여 일정 시간별로 측정을 한 후 손실 변화값을 측정하고, Loss Deviation 이 초기값보다 50% 손실이 발생한 시료에 대해서는 고장으로 판정하여 가속수명 시험을 중단하였다. 3,000 시간의 가속수명시험결과 활성화계수는 0.6624eV이며, 평균수명(Mean life)은 사용조건 40℃에서 5.202x105으로 계산되어 약 59.4 년의 수명이 예상되었다. 신뢰성시험 및 가속수명시험을 동시에 진행하여 수명예측에 대한 신뢰성을 높였다. The interest and importance of 5G mobile communication (5G) emerging as the core infrastructure technology of the 4th industrial revolution. Athermal AWG is a key component of the DWDM transmission system required for building a 5G network. In this study, the AWG module was tested for mechanical and environmental reliability. After the reliability test, the failure is determined by a 10% change in the initial characteristic value. In addition, the accelerated life test was carried out by distributing samples to the Meeker-Hann 4:2:1:1 test plan at high temperatures. During the accelerated life test, the AWG module stopped the accelerated life test after measuring each channel for a period of time and determining that the loss change value was a failure for samples with 50% loss than the initial value. As a result of the 3,000-hour accelerated life test, the activation factor was 0.6624eV, and the average life expectancy was calculated at 5.202x105 at 40℃, and the life expectancy was expected to be 59.4 years. Reliability test and accelerated life test are carried out simultaneously to enhance reliability of life prediction.
윤광수(Kwang-Su Yun),유정희(Chong-Hee Yu),김유곤(You-Gon Kim) 대한기계학회 2009 대한기계학회 춘추학술대회 Vol.2009 No.11
In this paper, lifetime estimation and failure mode of the long-term reliability for optical communication module in use of high speed optical access network are investigated. High temperature storage tests and accelerated life tests are used to long-term reliability. Accelerated aging test is carried out during 5,500 hour with the three accelerated aging conditions. Mean life of module is assumed to follow the Arrhenius relationship from the analysis of failure data for the accelerated aging conditions. Electric and chemical cause for the failure mechanism were mainly due to a overstress failure and a wearout failure.
이종 계측기 자동 제어를 위한 SCPI기반 명령어 시퀀스 생성에 관한 연구
유홍연(Hong Yeon Yu),임권섭(Kwon Seop Lim),윤광수(Kwang Su Yun),전은경(Eun Kyoung Jeon),오승훈(Seung Hun Oh) 한국통신학회 2021 한국통신학회 학술대회논문집 Vol.2021 No.6
본 논문은 제조(전자 부품/모듈/패키징) 공정으로 생산된 제품의 특성화, 유효성 검사 및 적합성 테스트를 위해 작업자가 자동화된 공정 시스템 제어 프로그램을 신속하게 재현할 수 있는 SCPI 기반 제어 명령어 라이브러리 생성 방법과 이를 활용한 이종 계측기 제어 명령어 시퀀스 생성 방법을 제안한다.