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열연 후단용 Ni Grain Roll 의 열피로 성질에 미치는 조직학적 인자의 영향
김인태,김태우,최진원,김동규 ( In Tae Kim,Tae Woo Kim,Jin Won Choi,Dong Gyu Kim ) 한국주조공학회 1996 한국주조공학회지 Vol.16 No.1
N/A The effects of structural constituent on the thermal fatigue properties of Ni grain roll material applicated to finishing work roll for hot strip mill has been investigated. Graphite area ratio varies with the depth from roll surface in the range of 4-7.5%. The morphology of crystallized graphite showed particle shape at surface of roll and changed to coarse flake with increasing depth from roll surface. Thermal fatigue resistance was impaired with increasing graphite area ratio, due rather to the notch effect of graphite resulting in the strength of matrix being reduced, than to thermal stress developed showing little differences with graphite area ratio and morphology in the case of severe heating and cooling conditions.
김인태,Kim, In-Tae 한국화재보험협회 2005 防災와 保險 Vol.110 No.-
쌀쌀한 찬바람에 어느덧 겨울이 성큼 다가왔다. 전체 화재의 상당부분을 차지하는 동절기 화재사고는 다른 계절에 비해 상대적으로 화기를 필요 이상으로 많이 사용하게 되고 추운날씨로 인해 화재예방 점검을 소홀히 하기 때문이다. 부주의로 인하여 발생되는 동절기 화재사고의 사례을 살펴봄으로써 화재에 대한 경각심을 새롭게 갖는 한편, 그에 따른 문제점과 대책을 알아 보고자 한다.
김인태,Kim, In-Tae 한국화재보험협회 2005 防災와 保險 Vol.107 No.-
풍수재해 피해 증가를 예방하기 위해서는 사전 위험을 확인하고 분석하여 대비책을 강구하는 것이 중요하다. 재해예방을 위한 종합적 방재정책 마련으로 예방이 최우선되어야 하며, 신속한 대처를 통해 피해를 줄이고 불필요한 비용을 감소시켜야 피해당사자인 국민의 신회를 얻을 수 있다.
김인태,김두용,Kim, In-Tae,Kim, Doo-Yong 한국반도체디스플레이기술학회 2008 반도체디스플레이기술학회지 Vol.7 No.1
Wireless sensor networks are emerging as a solution for a wide range of data gathering applications. The most difficult challenge for the design of sensor nodes is the need for significant reductions in energy consumption. The threshold methods which filter redundant and similar data can be used to save energy. In this paper, we propose the adaptive threshold method to effectively manage the energy in wireless sensor nodes. In the adaptive threshold method, wireless sensor nodes can change the thresholds dynamically as the sensing environments vary. The simulation results show that the adaptive threshold method works very effectively even when we experience the significant volatility in the data. This scheme can be used in order to monitor the malfunction in the equipment of semiconductor manufacturing line.