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Capability of CMOS Device Simulation
Miura-Mattausch, M. INST OF ELECTRONICS INFO & COMM ENGINEERS JAPAN 2000 電子情報通信學會誌 Vol.83 No.11
Complete Surface-Potential Modeling Approach Implemented in the HiSIM Compact Model Family for Any MOSFET Type
Miura-Mattausch, M., Miyake, M., Kikuchihara, H., Boston, Mass.; Abingdon; CRC Press 2011 NANOTECH Vol.2 No.-
Construction of a Compact Modeling Platform and Its Application to the Development of Multi-Gate MOSFET Models for Circuit Simulation
Miura-Mattausch, M., Chan, M., He, J., Koike, H., Boca Raton, FI; CRC Press 2008 NANOTECH Vol.3 No.-
Compact modeling of dynamic trap density evolution for predicting circuit-performance aging
Miura-Mattausch, M., Miyamoto, H., Kikuchihara, H. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Microelectronics and reliability Vol.80 No.-
Modeling of High-Voltage MOSFETs for Device/Circuit Optimization (Invited)
Miura-Mattausch, M., Yokomichi, M., Sadachika, N. Japan Society of Applied Physics 2008 Solid state devices and materials Vol.- No.-
Analysis of Technology Variations in Advanced MOSFETS with the Surface-Potential-Based Compact Model HiSIM
Miura-Mattausch, M., Sadachika, N., Miyake, M., Yu Pennington, N.J.; Electrochemical Society 2008 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.- No.-
Miura-Mattausch, M., Sadachika, N., Miyake, M., Yu Pennington, NJ; Electrochemical Society 2007 ECS Transactions Vol.11 No.6
Miura-Mattausch, M., Yokomichi, M., Sadachika, N. Business Center for Academic Societies; 1998 2008 SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS Vol.2008 No.-
HiSIM2.4.0: Advanced MOSFET model for the 45nm Technology Node and Beyond
Miura-Mattausch, M., Sadachika, N., Miyake, M., Na Boca Raton, FI; CRC Press 2007 NANOTECH -CD-ROM EDITION- Vol.- No.-
Modeling of Carrier Trapping and Its Impact on Switching Performance
Miura-Mattausch, Mitiko, Kikuchihara, Hideyuki, Ma IEEE 2018 IEEE JOURNAL- ELECTRON DEVICES SOCIETY Vol.6 No.-
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