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박종현(J.H.Park),선선구(S.K.Sun),정성무(S M.Jung),정준모(J.M.Jung),이재민(J.M.Lee),임인칠(I.C Lim) 한국정보과학회 1988 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.15 No.1
본 논문에서는 PLA의 일반적인 고장 모델인 Stuck-at 고장, 교점 고장, 단락 고장 및 다중 고장 검출이 용이하도록 하기 위하여 보수 입력선의 회로를 개선하였고 PLA 특성 행렬을 이용함으로써 테스트 패턴 생성이 간단하고 정상 동작시에도 부가 회로에 의한 영향이 없는 테스트가 용이한 PLA 설계 방법을 제안한다.