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문창배 ( Chang Bae Moon ),정운국 ( Un-kuk Jung ),이흥수 ( Hung Su Lee ),이준영 ( Jun Young Lee ),이해연 ( Hae-yeoun Lee ),김병만 ( Byeong Man Kim ),양한석 ( Han Suk Yang ) 한국정보처리학회 2010 한국정보처리학회 학술대회논문집 Vol.17 No.1
LCD 모니터의 백라이트로 CCFL 형광체를 많이 사용하고 있으나 그 불량여부는 육안에 의존하고 있다. 그러나 육안 검사는 CCFL 현광체의 불량에 대한 일관성 있는 기준이 결여되고, 노동집약적인 검사로 인해 산업적 재해가 발생할 수 있다. CCFL 불량유무를 자동 판별하기 위해서는 물리적 촬영환경과 자동검출 알고리즘이 필수적이다. 본 논문에서는 CCFL 형광체의 불량을 자동으로 검사하기 위한 촬영 환경을 설명하고, 그 촬영환경에 알맞은 대표적인 불량검출 알고리즘을 제안한다. 실험결과에 따르면, 알고리즘은 불량 판별율 98.86%와 과검율 3.34%의 성능을 보였다.