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공진회로를 이용한 대용량 인버터 폴 시험설비에 관한 연구
유현호(H.H. Yoo),한영성(Y.S. Han),서인영(I.Y. Suh),김대희(D.H. Kim),추진부(J.B. Choo),장병훈(B.H. Jang) 대한전기학회 2006 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2006 No.10
대용량 인버터의 구성요소인 단상 인버터를 시험하는 방식에 대해 제안하였다. 단상 인버터의 설계 및 제작이 완료되면 설계상, 제작상의 문제점을 점검하여야 한다. 이를 위해서 실제 운전조건에 근사한 상태인 정격전압, 정격전류를 스위칭 하여 정격 전류를 충분히 도통하는 실험을 수행하여 성능의 검증이 필요하다. 본문에서는 단상 인버터 폴 2대를 이용한 이러한 시험조건을 제공하는 방식을 제안하였다.
공진회로를 이용한 직렬연결 전력용 반도체 소자의 밸브 시험 시스템
유현호(H.H. Yoo),한영성(Y. S. Han),한세희(S.H. Han),최종윤(J.Y Choi),김준모(J.M. Kim),김수열(S.Y. Kim),윤종수(J.S. Yoon) 대한전기학회 2006 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2006 No.10
대용량 인버터의 기본 구성요소인 밸브를 시험하는 방식에 대해 제안하였다. 대용량 인버터를 구성하기 위해서는 전력용 반도체 소자를 직렬로 연결하여 고전압을 스위칭할 수 있는 밸브가 필요하다. 이 밸브의 Snubber 회로의 직정성, 정격전압, 정격전류에서 정상적으로 스위칭이 이루어지는지 등의 검증이 필요하다. 본 본문에서는 전력용 반도체 소자에 이러한 시험조건을 제공하는 시험방식을 제안하였다.