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이은설,김희석,박재탁,Lee, Eun-Seol,Kim, Hui-Seok,Park, Jae-Tak 대한전자공학회 1981 전자공학회지 Vol.18 No.3
PLA는 fusing에 의하여 programming이 되므로 일반적인 조합논리에서는 존재하지 않는 fusing에 의한 고장이 발생하게 된다. 본 논문에서는 이와 같은 고장의 검출과 고장진단을 위하여 test 입력을 규칙적으로 구하는 방법과 회로가 redundant 상태이거나 irredundant 상태이거나에 관계없이 고장검출이 가능하도록 회로를 구성하는 방법을 제안하였다.