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CUTIG : 정적 분석을 이용한 C언어 단위 테스트 데이타 추출 자동화 도구
김택수(Taeksu Kim),박복남(Boknam Park),이춘우(Chunwoo Lee),김기문(Kimoon Kim),서윤주(Yunju Seo),우치수(Chisu Wu) 한국정보과학회 2009 정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용 Vol.36 No.1
As unit testing should be performed repeatedly and continuously, it is a high-cost software development activity. Although there are many studies on unit test automation, there are less studies on automated test case generation which are worthy of note. In this paper, we discuss a study on automated test data generation from source codes and indicate algorithms for each stage. We also show some issues of test data generation and introduce an automated test data generating tool: CUTIG. As CUTIG generates test data not from require specifications but from source codes, software developers could generate test data when specifications are insufficient or discord with real implementation. Moreover we hope that the tool could help software developers to reduce cost for test data preparation. 단위 시험은 지속적이고 반복적으로 수행되어야 하기 때문에 높은 비용을 필요로 하는 작업이다. 단위 시험의 자동화에 대한 많은 연구가 있었으나 테스트 데이타의 자동 추출에 대한 연구는 큰 성과를 이루지 못하고 있다. 본 연구에서는 소프트웨어의 소스 코드로부터 테스트 데이타를 자동으로 추출하는 방안에 대해 논의하고 각 단계의 알고리즘을 제시하였다. 또한 테스트 데이타 추출 자동화에 관한 이슈를 소개하고 테스트 데이타 추출 자동화 도구 CUTIG를 소개한다. CUTIG는 실제 소스코드를 이용하여 테스트 데이타를 추출하므로 소프트웨어의 요구사항 명세가 잘 작성되어 있지 않거나 실제 구현과 차이가 있는 경우에도 테스트 데이타를 생성할 수 있다. 또한 이 도구를 통해 개발자가 직접 테스트 데이타를 작성하는 데 소요되는 비용을 절감할 수 있기를 기대한다.
기호실행을 이용한 C 언어 단위테스트 케이스 자동 생성기의 구현
서윤주 ( Yunju Seo ),김택수 ( Taeksu Kim ),이춘우 ( Chunwoo Lee ),김기문 ( Kimun Kim ),박복남 ( Boknam Park ),신철오 ( Chuloh Shin ),우치수 ( Chisu Wu ) 한국정보처리학회 2007 한국정보처리학회 학술대회논문집 Vol.14 No.2
본 연구에서는 소프트웨어의 구현 코드로부터 테스트 케이스 자동에 관해 연구하며 도구를 구현한다. 이를 통해 개발자가 직접 테스트 케이스를 작성하는 데 소요되는 비용을 절감하고, 소프트웨어의 요구사항 명세가 잘 작성되어 있지 않거나 실제 구현과 차이가 있는 경우에도 영향을 받지 않고 테스트 케이스를 생성 가능하도록 한다.
朴福男 조선대학교 기초과학연구소 1979 自然科學硏究 Vol.2 No.1
This paper deals with the correction factors which must be applied to an apparent resistivity and the four-point probe instrument for the resistivity measurements. The msasuring and calculating values are obtained through this experiment. The mathematical funtions obtained can be applied to the measurement of resistivity of the semiconductor and to the calculation of the base resistance of the point-contact transistors.