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Static 테스트를 통한 소프트웨어 결함기회 감소에 대한 연구
이동현(Donghyun Lee),이주병(Joobyeong Lee),박은철(Eunchul Park) 한국정보과학회 2010 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.37 No.1B
소프트웨어 개발의 복잡도가 증가하고 개발규모가 대형화 됨에 따라 소프트웨어 결함의 발생요인도 증가하고 있다. 소프트웨어의 결함을 줄이고 우수한 품질의 소프트웨어 개발을 위해 소프트웨어 테스트 기법인 static 테스트를 사용한다. 본 논문에서는 테스트 tool 을 이용하여 규모가 큰 소프트웨어 개발과정에 static 테스트를 적용하였으며, 적용결과를 통해 static 테스트가 소프트웨어 품질과 결함기회 감소에 미치는 영향을 분석한다.