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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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§ ※ ☆ ★ ○ ● ◎ ◇ ◆ □ ■ △ ▽ → ← ↑ ↓ ↔ 〓 ◁ ◀ ▷ ▶ ♤ ♠ ♡ ♥ ♧ ♣ ⊙ ◈ ▣ ◐ ◑ ▒ ▤ ▥ ▨ ▧ ▦ ▩ ♨ ☏ ☎ ☜ ☞ † ‡ ↕ ↗ ↙ ↖ ↘ ♭ ♩ ♪ ♬ ㉿ ㈜ № ㏇ ™ ㏂ ㏘ ℡ ＃ ＆ ＊ ＠ ª º
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      바운더리 스캔을 이용한 PCB회로 검증 기법에 관한 연구 = A Study on DFT for PCB circuit using boundary-scan

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      In 1985, JTAG group was associated in Europe.
      JTAG technology was standardized to IEEE1149.1 according to the proposal of JTAG in 1990.
      Explain the boundary scan testing technology, which would be the main stream of the Proto type debugging and testing of electronically production.
      Explain the example of DFT technology to apply boundary scan testing during the production design. And Validate the boundary scan testing technology by doing analyze the merits and demerits of this technology
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      In 1985, JTAG group was associated in Europe. JTAG technology was standardized to IEEE1149.1 according to the proposal of JTAG in 1990. Explain the boundary scan testing technology, which would be the main stream of the Proto type debugging and testin...

      In 1985, JTAG group was associated in Europe.
      JTAG technology was standardized to IEEE1149.1 according to the proposal of JTAG in 1990.
      Explain the boundary scan testing technology, which would be the main stream of the Proto type debugging and testing of electronically production.
      Explain the example of DFT technology to apply boundary scan testing during the production design. And Validate the boundary scan testing technology by doing analyze the merits and demerits of this technology

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      목차 (Table of Contents)

      • 목차 = 0
      • 1. 서론 = 1
      • 2. BST 이론 = 3
      • 2.1. Boundary Scan Test Logic Architecture = 4
      • 2.2. Boundary Scan Test Instruction = 16
      • 목차 = 0
      • 1. 서론 = 1
      • 2. BST 이론 = 3
      • 2.1. Boundary Scan Test Logic Architecture = 4
      • 2.2. Boundary Scan Test Instruction = 16
      • 3. JTAG Boundary Scan 응용 = 21
      • 3.1. Boundary Scan Chain 구성 = 21
      • 3.2. Boundary Scan Test ＆ Programming Flow = 22
      • 3.3. Boundary Scan Test ＆ Programming 응용 = 26
      • 4. Boundary Scan을 이용한 DFT 설계 = 30
      • 4.1. Board 설계에서의 BST Chain 구성 = 30
      • 4.2. 사례 연구 = 31
      • 4.2.1. MPU, DSP등의 JTAG Debug Port의 처리 = 31
      • 4.2.2. CPLD, FPGA 사용시 고려사항 = 32
      • 4.2.3. 메모리 디바이스 사용시 고려사항 = 33
      • 4.2.4. Cluster 디바이스의 설계 = 33
      • 5. 결론 = 34
      • 참고문헌 = 35
      • Abstract = 36
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